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公开(公告)号：CN115274833A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210928806.1
申请日：2022-08-03
Applicant: 电子科技大学 , 电子科技大学长三角研究院(湖州)
IPC: H01L29/417 , H01L29/40 , H01L29/786 , H01L21/336
Abstract: 本发明提供了全透明薄膜晶体管器件及其制备方法，涉及电子器件技术领域，该薄膜晶体管自下而上包括衬底、栅极、栅绝缘层、金属氧化物半导体有源层、三明治结构源漏电极，其中三明治结构源电极自下而上依次是第一层金属氧化物半导体源电极、第二层金属源电极、第三层金属氧化物半导体源电极；同时，三明治结构漏电极自下而上依次是第一层金属氧化物半导体漏电极、第二层金属漏电极、第三层金属氧化物半导体漏电极，其中金属氧化物半导体与有源层所用材料相同；本发明中源漏电极具有较低的电阻率并且与有源层的接触特性更好，有利于载流子的传输，从而提升了薄膜晶体管器件的电学性能，并且所制备的器件具有较好的透明度，可用于全透明显示。
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公开(公告)号：CN115295629A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202210962752.0
申请日：2022-08-11
Applicant: 电子科技大学 , 电子科技大学长三角研究院(湖州)
IPC: H01L29/786 , H01L21/02 , H01L21/42 , H01L21/34 , C23C14/08
Abstract: 本发明提供一种基于修饰层的氧化物薄膜晶体管及其制备方法；其中，TFT器件包括绝缘层，氧化物有源层，修饰层，以及源漏栅三个电极。本发明在底栅顶接触型TFT结构的基础上，在绝缘层和有源层之间创新性地加入了修饰层，制备基于修饰层的非晶氧化物薄膜晶体管，在紫外光照射下，修饰层呈现出有序的条纹状结构，因此，表面粗糙度散射效应减小，从而提高TFT的载流子迁移率。
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公开(公告)号：CN119967145A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510034921.8
申请日：2025-01-09
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H04N13/122 , H04N13/156 , H04N13/25 , H04N13/246 , H04N13/236 , H04N13/275 , G06T5/70
Abstract: 本发明公开了一种基于软硬件融合的高性能实时立体图像处理方法及系统，主要解决现有立体图像处理方案实时性与灵活性差、输入设备受限、无法动态调整参数及信息输出单一等问题。其包括对软件处理单元PS和FPGA可编程逻辑单元PL的处理，即在PS中设置摄像头的分辨率和帧率进行图像数据的采集，并利用OpenCV软件算法进行图像校正；再通过VDMA高速接口将校正后的图像传输至系统内存当中，建立起PS端与PL端间的高速通道；在PL中通过硬件逻辑资源在代价计算环节、代价聚合环节、视差优化环节、图像拼接与输出环节进行立体匹配算法的硬件加速。本发明通过综合PS端与PL的优势，显著提升了立体图像处理性能，可用于机器人导航、自动驾驶及三维重建。
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公开(公告)号：CN112649808B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202011611367.9
申请日：2020-12-30
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S13/90
Abstract: 本发明公开了一种基于移变构型的双基前视SAR波数域成像方法，主要解决现有技术难以实现曲线轨迹状态下大场景目标精确聚焦，其运算量大的问题。其实现方案是：首先获得目标回波信号的二维频谱；对二维频谱进行距离压缩补偿校正；设计插值因子对距离压缩补偿校正后的信号进行插值；对插值后的信号进行方位空变滤波校正；对方位空变滤波校正后的信号进行方位因子重构校正聚焦得到二维成像图。本发明具有成像精确高，运算量小的优点，可用于移变构型双基前视SAR的高分辨成像。
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公开(公告)号：CN109598787B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN201811488292.2
申请日：2018-12-06
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于ISAR图像的目标三维重构方法，主要解决现有技术运算繁琐、计算量大及效率低的问题。其实现方案为：对n幅ISAR图像进行统计滤波DespecKS法预处理，分别得到预处理后的n幅ISAR图像；应用角点跟踪算法KLT对预处理后的n幅ISAR图像提取特征点并进行跟踪，得到特征点坐标矩阵W；将特征点坐标矩阵W作为输入，利用因子分解法OFM得到目标三维重构结果。本发明运算量小，效率高，精度高，可用于姿态估计和目标识别。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110376553B
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN201910829158.2
申请日：2019-09-03
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于脉冲切割的低信噪比信号参数提取方法，主要解决在现有技术中对低信噪比情况下离散频率编码信号参数提取困难的问题，其实现方案为：根据雷达接收到的数字脉冲信号，截取其中一段作为参考信号，对参考信号进行短时傅里叶变换得到其时频图；利用时频图得到雷达脉冲信号的脉冲重复时间估计值以及频率编码个数；利用脉冲重复时间对数字脉冲信号进行分组，对分组后的信号依次进行脉冲对准校正、相位补偿和相参积累，得到高信噪比的积累信号，进而得到雷达脉冲信号的脉宽、带宽、载频和频率编码的估计结果。本发明能有效地在低信噪比条件下提取出离散频率编码信号的参数，且参数精度高，可用于对离散频率编码脉冲信号的处理与分析。
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公开(公告)号：CN110414494B
公开(公告)日：2022-12-02
申请号：CN201910829626.6
申请日：2019-09-03
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06V20/13 , G06V10/774 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/04 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种带有ASPP反卷积网络的SAR图像分类方法，主要解决在对SAR图像分类过程中分类准确率不高、分类效率低、操作复杂的问题。本发明的具体步骤如下：(1)读取训练图像和测试图像；(2)生成训练集和测试集；(3)构建带有空洞空间金字塔池化ASPP的反卷积网络；(4)训练带有空洞空间金字塔池化ASPP的反卷积网络；(5)对测试图像进行分类。本发明克服了现有SAR图像分类算法中无法充分利用多尺度目标信息、无法实现端到端分类的问题，具有分类准确率高、分类快速、操作简单的优点。
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公开(公告)号：CN114545402A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202210139498.4
申请日：2022-02-16
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明提出了一种SVD求逆分裂布雷格曼的扫描雷达前视成像方法，解决了现有技术中存在复杂矩阵求逆导致前视扫描雷达成像效率较低的问题。实现步骤为：对回波矩阵进行预处理；构建每个距离单元的目标散射幅度向量，噪声幅度向量以及类卷积测量矩阵；建立每个距离单元前视高分辨成像类卷积模型；将前视高分辨成像问题转换为无约束凸优化问题；获取托普利茨矩阵；对类卷积测量矩阵进行奇异值分解，以获取托普利茨矩阵的逆矩阵；采用裂布雷格曼求解无约束凸优化问题，将逆矩阵带入目标散射幅度计算公式，得到扫描雷达前视高分辨图像，本发明在保证高分辨成像质量的同时，显著提升了成像效率，为实现前视扫描雷达快速成像提供了新思考。
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公开(公告)号：CN111257409B
公开(公告)日：2022-02-22
申请号：CN202010069316.1
申请日：2020-01-21
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种双层双D型线圈及基于线圈的金属构件缺陷方向检测方法和装置，线圈包括互相平行的上层线圈和下层线圈，上层线圈和下层线圈的形状都为双D型；上层线圈和下层线圈的最外层半径、线圈匝数和线间距均相等，两个线圈所在平面之间的距离即上下两层线圈之间的距离。检测装置包括激励信号发生模块、双层双D型线圈探头、被测试件、信号放大滤波模块、数据采集和处理模块和缺陷方向定量检测模块。本发明提出了一种双层双D型线圈结构，并基于该结构提出一种金属构件中缺陷方向的定量检测方法与装置，可实现对金属构件中缺陷方向的定量无损检测，为实现缺陷深度和宽度的定量无损检测奠定基础，提高脉冲涡流定量检测金属构件缺陷的精度。
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公开(公告)号：CN107991659B
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN201711143805.1
申请日：2017-11-17
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种基于字典学习的米波雷达低仰角目标测高方法，主要解决现有方法在复杂地形环境下多径信号方向上理想阵列流型受扰动时，无法保证对低仰角目标高度有效估计的问题。其实现过程是：1.估计米波雷达回波数据的协方差矩阵，并对其进行特征值分解，获取降维后的信号矢量；2.在复杂地形情况下，根据构造包含扰动信息的参数化字典和获取的降维后的信号矢量，对地面扰动参数矩阵、目标仰角进行联合估计，得到目标仰角最终估计值；3.利用天线阵列与目标仰角的最终估计值，计算目标高度估计值。本发明能有效实现对低仰角目标高度的测量，提升雷达对复杂多径环境下低仰角目标的跟踪性能，可用于目标定位与跟踪。
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