公开(公告)号：CN119959626A

公开(公告)日：2025-05-09

申请号：CN202510451191.1

申请日：2025-04-11

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 余承勇 ,  卢泓霖 ,  程锦 ,  张云鹏 ,  高冲 ,  龙嘉威 ,  郑虎 ,  李恩

IPC: G01R27/26

Abstract: 本发明提供一种基于准光腔的面外介电常数测试装置及方法，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该装置创新性设计腔体形式，通过半球腔替代传统的球形腔，将半球腔放置于金属短路板上，从而构造出金属短路板表面的电场严格垂直于短路面，此时将待测介质基板平整放置于准光腔中心，厚度方向与电场方向相同，即可保证腔内电场垂直分布在介质基板上，实现基于准光腔法对面外介电常数的测试。本发明测试装置能够实现在高频下对介质基板的测试，为高频器件的发展奠定了坚实的基础。

公开(公告)号：CN118624992B

公开(公告)日：2024-10-18

申请号：CN202411094319.5

申请日：2024-08-09

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 何骁 ,  余承勇 ,  卢泓霖 ,  程锦 ,  龙嘉威 ,  张云鹏 ,  高冲 ,  郑虎 ,  李恩

IPC: G01R27/26

Abstract: 本发明提供一种基于准光腔的面外介电常数测试装置及方法，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该装置创新性设置放样方式，将待测介质基板放置于准光腔内，使腔内电场垂直分布在介质基板上，从而实现了基于准光腔法对面外介电常数的测试；除此之外，还设计了样品夹具，使得能够简便地完成对待测介质基板的取样放样。

公开(公告)号：CN118624992A

公开(公告)日：2024-09-10

申请号：CN202411094319.5

申请日：2024-08-09

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 何骁 ,  余承勇 ,  卢泓霖 ,  程锦 ,  龙嘉威 ,  张云鹏 ,  高冲 ,  郑虎 ,  李恩

IPC: G01R27/26

Abstract: 本发明提供一种基于准光腔的面外介电常数测试装置及方法，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该装置创新性设置放样方式，将待测介质基板放置于准光腔内，使腔内电场垂直分布在介质基板上，从而实现了基于准光腔法对面外介电常数的测试；除此之外，还设计了样品夹具，使得能够简便地完成对待测介质基板的取样放样。

公开(公告)号：CN118112331A

公开(公告)日：2024-05-31

申请号：CN202410228589.4

申请日：2024-02-29

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 余承勇 ,  冉璇 ,  卢泓霖 ,  冯天琦 ,  陈天润 ,  龙嘉威 ,  高勇 ,  张云鹏 ,  高冲 ,  李恩

IPC: G01R27/26 ,  G01R27/28

Abstract: 本发明提供一种基于分离式扇形谐振腔的介电性能测试系统及方法，属于微波测试技术领域。区别于现有的分离式圆柱谐振器的结构，本发明采用一个扇形的分离式柱形谐振腔，同时在分离式谐振器的两表面边缘切断出一条缝隙以抑制杂模，最终实现了工作模式附近干扰模式的完全抑制，在宽频率范围内得到一个比较“纯净”的TE0n1模式频谱，单个谐振腔即可实现TE011～TE081八个模式的测量。除此之外，本发明的谐振腔的样品测试区域不到传统圆柱腔的五分之一，因此对应的待测样品尺寸也缩小了原来的五分之一以下，可以有效降低待测样品的加工成本。