半导体装置和存储器访问控制方法

    公开(公告)号:CN107154276B

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN201710126513.0

    申请日:2017-03-02

    Abstract: 本发明涉及一种半导体装置和存储器访问控制方法,旨在检测地址信号系统在存储器访问中的故障。根据本发明的半导体装置包括:地址转换电路,基于用于存储数据的第一地址来生成用于将错误检测代码存储在存储器中的第二地址;写入电路,将数据写入第一地址并且将错误检测代码写入第二地址;和读取电路,读取来自第一地址的数据,读取来自第二地址的错误检测代码,并且基于数据和错误检测代码来检测错误。地址转换电路通过修改第一地址的至少一个位的值,以使错误检测代码的存储位置偏移到所述数据的存储位置,并且通过使其它位当中的规定的数量的位的值反转或者使规定的数量的位的顺序重排,来生成地址作为第二地址。

    半导体装置和存储器访问控制方法

    公开(公告)号:CN107154276A

    公开(公告)日:2017-09-12

    申请号:CN201710126513.0

    申请日:2017-03-02

    CPC classification number: G06F11/1016 G06F11/1044 G11C29/42 G06F11/1012

    Abstract: 本发明涉及一种半导体装置和存储器访问控制方法,旨在检测地址信号系统在存储器访问中的故障。根据本发明的半导体装置包括:地址转换电路,基于用于存储数据的第一地址来生成用于将错误检测代码存储在存储器中的第二地址;写入电路,将数据写入第一地址并且将错误检测代码写入第二地址;和读取电路,读取来自第一地址的数据,读取来自第二地址的错误检测代码,并且基于数据和错误检测代码来检测错误。地址转换电路通过修改第一地址的至少一个位的值,以使错误检测代码的存储位置偏移到所述数据的存储位置,并且通过使其它位当中的规定的数量的位的值反转或者使规定的数量的位的顺序重排,来生成地址作为第二地址。

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