半导体加工用片
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108243616B

    公开(公告)日:2022-10-28

    申请号:CN201780003861.7

    申请日:2017-01-05

    Abstract: 本发明提供一种半导体加工用片1,其至少具备:具有第一面101和第二面102的基材10、具有第一面801和第二面802的半导体贴附层80、及具有第一面301和第二面302的剥离膜30,第一面101的算术平均粗糙度Ra为0.01~0.8μm,第二面302的算术平均粗糙度Ra大于0.05μm且为0.8μm以下,将第二面802与第一面301贴附且在40℃下保管3天后的、在第二面802与第一面301的界面上的剥离力β为10~1000mN/50mm。该半导体加工用片1在具有优异的光线透射性的同时,不容易发生粘连。

    半导体加工用片
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108271381B

    公开(公告)日:2022-06-07

    申请号:CN201780003864.0

    申请日:2017-01-05

    Abstract: 本发明提供一种半导体加工用片1,其至少具备基材10、半导体贴附层80、及剥离膜30,基材10的第一面101的算术平均粗糙度Ra为0.01~0.8μm,在将基材10的第一面101与剥离膜30的第二面302的界面上的剥离力设为α,并将在半导体贴附层80的第二面802与剥离膜30的第一面301的界面上的剥离力设为β时,α比β的比值(α/β)为0以上且小于1.0,剥离力β为10~1000mN/50mm。该半导体加工用片1在具有优异的光线透射性的同时、不容易发生粘连。

    隐形切割用粘着片及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN110832620A

    公开(公告)日:2020-02-21

    申请号:CN201880044028.1

    申请日:2018-02-02

    Abstract: 本发明提供一种隐形切割用粘着片1,其至少用于将在内部形成有改质层的半导体晶圆,在-20℃以上、10℃以下的环境下切断并分离成各个芯片,其具备:基材11与层叠在所述基材11的一面侧的粘着剂层12,经由粘着剂层12将隐形切割用粘着片1贴附在硅晶圆上时,粘着剂层12与所述硅晶圆的界面在0℃下的剪切力为190N/(3mm×20mm)以上、400N/(3mm×20mm)以下。即使所得到的芯片尺寸小时,该隐形切割用粘着片1也可通过冷却扩展良好地将半导体晶圆单片化成芯片。

    半导体加工片用基材膜以及半导体加工片

    公开(公告)号:CN108701598A

    公开(公告)日:2018-10-23

    申请号:CN201780012808.3

    申请日:2017-01-25

    Abstract: 本发明提供一种半导体加工片用基材膜,其为用于具备基材膜、以及层叠于基材膜的至少一面侧的粘着剂层的半导体加工片的半导体加工片用基材膜,其特征在于,含有氯乙烯类树脂,并进一步含有对苯二甲酸酯、己二酸酯及硬脂酸钡。本发明还提供一种具备该基材膜的半导体加工片。根据所述半导体加工片用基材膜以及半导体加工片,即使将邻苯二甲酸烷基酯的代替物质用作增塑剂,也能够显示充分的扩展性且具有良好的拾取性能,进一步能够抑制该拾取性能的经时性降低,并且能够在从被粘物上剥离时抑制残渣物的产生。

    半导体加工片用基材膜以及半导体加工片

    公开(公告)号:CN108701598B

    公开(公告)日:2022-10-28

    申请号:CN201780012808.3

    申请日:2017-01-25

    Abstract: 本发明提供一种半导体加工片用基材膜,其为用于具备基材膜、以及层叠于基材膜的至少一面侧的粘着剂层的半导体加工片的半导体加工片用基材膜,其特征在于,含有氯乙烯类树脂,并进一步含有对苯二甲酸酯、己二酸酯及硬脂酸钡。本发明还提供一种具备该基材膜的半导体加工片。根据所述半导体加工片用基材膜以及半导体加工片,即使将邻苯二甲酸烷基酯的代替物质用作增塑剂,也能够显示充分的扩展性且具有良好的拾取性能,进一步能够抑制该拾取性能的经时性降低,并且能够在从被粘物上剥离时抑制残渣物的产生。

    隐形切割用粘着片及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN110809815A

    公开(公告)日:2020-02-18

    申请号:CN201880043967.4

    申请日:2018-02-02

    Abstract: 本发明提供一种隐形切割用粘着片1,其至少用于将在内部形成有改质层的半导体晶圆,在室温环境下切断并分离成各个芯片,其具备:基材11与层叠在所述基材11的一面的侧的粘着剂层12,经由粘着剂层12将隐形切割用粘着片1贴附在硅晶圆上时,粘着剂层12与所述硅晶圆的界面在23℃下的剪切力为70N/(3mm×20mm)以上、250N/(3mm×20mm)以下。该隐形切割用粘着片1,即使在室温下进行扩展时,也可良好地将半导体晶圆单片化成芯片。

    半导体加工用片
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109075048A

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201780027304.9

    申请日:2017-05-12

    Abstract: 本发明提供一种半导体加工用片,其至少具备基材,其复原率为70%以上、100%以下;或在23℃下沿基材的MD方向测定的100%应力相对于在23℃下沿基材的CD方向测定的100%应力的比为0.8以上、1.2以下;或在23℃下沿基材的MD方向及CD方向测定的拉伸弹性模量分别为10MPa以上、350MPa以下,且在23℃下沿基材的MD方向及CD方向测定的100%应力分别为3MPa以上、20MPa以下,且在23℃下沿基材的MD方向及CD方向测定的断裂伸长率分别为100%以上。该半导体加工用片可大幅延伸,可将半导体芯片彼此充分地分离。

    半导体加工片
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108243615A

    公开(公告)日:2018-07-03

    申请号:CN201780003713.5

    申请日:2017-01-25

    Abstract: 本发明提供一种半导体加工片,其具备基材膜、以及层叠于基材膜的至少一面侧的粘着剂层,其特征在于,基材膜含有氯乙烯类树脂和作为增塑剂的己二酸酯类增塑剂及对苯二甲酸酯类增塑剂,在基材膜中,己二酸酯类增塑剂的含量相对于己二酸酯类增塑剂及对苯二甲酸酯类增塑剂的合计含量的质量比率为50~80质量%。根据该半导体加工片,虽然使用邻苯二甲酸烷基酯的代替物质作为增塑剂,但也能够显示充分的柔软性、且能够在从被粘着物上剥离时抑制残渣物的产生。

    隐形切割用粘着片及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN110753993B

    公开(公告)日:2023-12-01

    申请号:CN201880040197.8

    申请日:2018-02-02

    Abstract: 本发明提供一种隐形切割用粘着片(1),其至少用于在‑20℃以上、10℃以下的环境下,将内部形成有改性层的半导体晶圆切断分离成各个芯片,所述隐形切割用粘着片(1)具备基材(11)及层叠于所述基材(11)的一面侧的粘着剂层着剂层(12)而贴附于硅晶圆时,所述粘着剂层(12)与所述硅晶圆的界面在0℃下的剪切力为30N/(3mm×20mm)以上、190N/(3mm×20mm)以下。该隐形切割用粘着片(1)可通过冷扩展充分地扩大芯片间隔,可抑制从扩展状态的释放所造成的芯片碰撞。(12),将所述隐形切割用粘着片(1)经由所述粘

    粘着片以及加工物的制造方法

    公开(公告)号:CN106795396B

    公开(公告)日:2020-12-18

    申请号:CN201580047960.6

    申请日:2015-11-27

    Abstract: 本发明提供一种粘着片,其中,所述粘着片用于对板状构件照射激光形成改性部,将所述板状构件分割后芯片化,具有基材和设置于所述基材的一个面上的粘着剂层,所述基材对于所述一个面以及所述一个面的相反侧的一面这两个面,于JIS B0601:2013(ISO 4287:1997)所规定的算术平均粗糙度Ra为0.01μm以上、0.2μm以下,所述粘着剂层的厚度为2μm以上、12μm以下。该粘着片被使用于利用激光的切割工序中时,难以产生缺陷且具有优异的拾取性。

Patent Agency Ranking