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公开(公告)号：CN109900602B
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201811382136.8
申请日：2018-11-20
Applicant: 理音株式会社
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明提供粒子计数器，其包括：检测部，用受光元件接收散射光与参考光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号；滤波器，针对由所述检测部生成的所述检测信号进行使与所述干涉光的强度变化对应的频率成分通过的滤波处理；判断部，根据所述滤波处理前的所述检测信号的峰值和所述滤波处理后的所述检测信号的峰值，判断所述检测信号是否是基于所述粒子的检测信号；以及计数部，当由所述判断部判断为所述检测信号是基于所述粒子的检测信号时，进行基于所述滤波处理后的所述检测信号的所述粒子的计数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110243729A
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201910173746.5
申请日：2019-03-07
Applicant: 理音株式会社
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明提供一种粒子计数器，具备：检测部，利用受光元件接收散射光与参照光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号，并利用放大器进行放大；计数部，基于用于测定粒子的测定期间内的检测信号，进行所述粒子的计数；以及光路长度可变部，使第一光路与第二光路中的至少一方的光路长度以规定速度变化，基于所述流体的流速将所述规定速度设定为，通过使所述光路长度变化，减慢所述散射光与所述参照光的相位差的变化，降低所述检测信号的频率。
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公开(公告)号：CN114674728A
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202111589093.2
申请日：2021-12-23
Applicant: 理音株式会社
IPC: G01N15/10
Abstract: 本发明涉及颗粒测量仪、颗粒测量方法及存储介质，提供一种减小颗粒的可测粒径的同时提高计数效率的技术。在信号处理部中，对输入信号进行使用了随机共振的信号处理。发送自数据输入部的输入信号在加法部中与由噪声生成部生成的不相关的k个各噪声相加。相加后的各信号由二值化部二值化后由计算部计算出其简单平均，与计算结果对应的输出信号中偏离目标信号的频带的分量在由滤波部截除了的基础上，在判定部中进行是否超过了颗粒阈值(存在颗粒)的判定。在二值化时，使用与测定试样的介质相应地由二值化阈值计算部自动计算出的二值化阈值，因此能在减少误检测的同时检测出粒径更小的颗粒。
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公开(公告)号：CN110243729B
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN201910173746.5
申请日：2019-03-07
Applicant: 理音株式会社
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明提供一种粒子计数器，具备：检测部，利用受光元件接收散射光与参照光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号，并利用放大器进行放大；计数部，基于用于测定粒子的测定期间内的检测信号，进行所述粒子的计数；以及光路长度可变部，使第一光路与第二光路中的至少一方的光路长度以规定速度变化，基于所述流体的流速将所述规定速度设定为，通过使所述光路长度变化，减慢所述散射光与所述参照光的相位差的变化，降低所述检测信号的频率。
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公开(公告)号：CN109900602A
公开(公告)日：2019-06-18
申请号：CN201811382136.8
申请日：2018-11-20
Applicant: 理音株式会社
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明提供粒子计数器，其包括：检测部，用受光元件接收散射光与参考光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号；滤波器，针对由所述检测部生成的所述检测信号进行使与所述干涉光的强度变化对应的频率成分通过的滤波处理；判断部，根据所述滤波处理前的所述检测信号的峰值和所述滤波处理后的所述检测信号的峰值，判断所述检测信号是否是基于所述粒子的检测信号；以及计数部，当由所述判断部判断为所述检测信号是基于所述粒子的检测信号时，进行基于所述滤波处理后的所述检测信号的所述粒子的计数。
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