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公开(公告)号：CN101124471B
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN200580048518.1
申请日：2005-12-09
Applicant: 理音株式会社
IPC: G01N15/06
CPC classification number: G01N15/1459 , G01N15/1429 , G01N2015/1486
Abstract: 提供一种能够利用比较简单的结构有效地降低因各种原因所导致的乱真计数的粒子计数器。本发明的用于测定样品中所含的漂浮粒子的个数、求得样品中的粒子浓度的粒子计数器具备：存储部(21)，存储不存在粒子时的光电变换器(9)所输出的直流电平与乱真计数的发生频率的关系式；减法处理部(22)，参照该存储部(21)中存储的上述关系式，求得测定开始时刻与光电变换器(9)所输出的直流电平相对应的乱真计数的发生频率，从测定开始后的离散值中减去基于该乱真计数的发生频率的值。
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公开(公告)号：CN116359104A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202211643431.0
申请日：2022-12-20
Applicant: 理音株式会社
Abstract: 本发明提供进一步提高便利性的粒子计数装置。使用照射光(La)对在流路内流动的试样流体中所含的粒子进行计数的粒子计数器(1)具备：多流动池(80)，具有多个流动池(10a～10j)；X轴致动器(62)，对于多流动池(80)，与选择的流动池(10a～10j)匹配地调整照射光(La)的光路的位置；以及调整单元(100、200、300)，调整向选择的流动池(10a～10j)的流路内照射的照射光(La)的条件。
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公开(公告)号：CN109900602B
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201811382136.8
申请日：2018-11-20
Applicant: 理音株式会社
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明提供粒子计数器，其包括：检测部，用受光元件接收散射光与参考光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号；滤波器，针对由所述检测部生成的所述检测信号进行使与所述干涉光的强度变化对应的频率成分通过的滤波处理；判断部，根据所述滤波处理前的所述检测信号的峰值和所述滤波处理后的所述检测信号的峰值，判断所述检测信号是否是基于所述粒子的检测信号；以及计数部，当由所述判断部判断为所述检测信号是基于所述粒子的检测信号时，进行基于所述滤波处理后的所述检测信号的所述粒子的计数。
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公开(公告)号：CN111474104A
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN202010066583.3
申请日：2020-01-20
Applicant: 理音株式会社
Abstract: 本发明提供粒子计数器，具备：多流动池，具有在第一方向上排列的多个流路，所述流路具有包括以照射光照射流路时形成的粒子的检测区域的区间；受光光学系统，接受通过所述检测区域且在所述流路内流动的试样流体所含的粒子产生的放出光；光轴移动部，使所述照射光的光轴和所述放出光的光轴在所述第一方向上移动；以及计数器，基于放出光的强度，针对每个粒径对所述粒子进行计数。
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公开(公告)号：CN101124471A
公开(公告)日：2008-02-13
申请号：CN200580048518.1
申请日：2005-12-09
Applicant: 理音株式会社
IPC: G01N15/06
CPC classification number: G01N15/1459 , G01N15/1429 , G01N2015/1486
Abstract: 提供一种能够利用比较简单的结构有效地降低因各种原因所导致的乱真计数的粒子计数器。本发明的用于测定样品中所含的漂浮粒子的个数、求得样品中的粒子浓度的粒子计数器具备：存储部(21)，存储不存在粒子时的光电变换器(9)所输出的直流电平与乱真计数的发生频率的关系式；减法处理部(22)，参照该存储部(21)中存储的上述关系式，求得测定开始时刻与光电变换器(9)所输出的直流电平相对应的乱真计数的发生频率，从测定开始后的离散值中减去基于该乱真计数的发生频率的值。
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公开(公告)号：CN111474105A
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN202010073229.3
申请日：2020-01-22
Applicant: 理音株式会社
Abstract: 本发明提供流体中悬浮物质测定用流动池和粒子计数器。流体中悬浮物质测定用流动池具备：主体，至少规定的部位由具有透光性的材料形成；以及流路，形成在所述主体的内部，两端的开口形成在所述主体的大致相同方向的外表面，供流体流动，所述流路具有配置在对置的平面状的两个壁面之间的规定区间，所述规定的部位包括所述规定区间。
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公开(公告)号：CN110243729A
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201910173746.5
申请日：2019-03-07
Applicant: 理音株式会社
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明提供一种粒子计数器，具备：检测部，利用受光元件接收散射光与参照光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号，并利用放大器进行放大；计数部，基于用于测定粒子的测定期间内的检测信号，进行所述粒子的计数；以及光路长度可变部，使第一光路与第二光路中的至少一方的光路长度以规定速度变化，基于所述流体的流速将所述规定速度设定为，通过使所述光路长度变化，减慢所述散射光与所述参照光的相位差的变化，降低所述检测信号的频率。
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公开(公告)号：CN107430056A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201680013946.9
申请日：2016-03-04
Applicant: 理音株式会社
CPC classification number: G01N15/0205 , G01N15/06 , G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N21/45 , G01N2015/0011 , G01N2015/0038 , G01N2015/0053 , G01N2015/1445 , G01N2015/1454 , G01N2015/1486 , G01N2015/1493
Abstract: 本发明能够得到一种粒子计数器，能够以良好的S/N比来进行流体中的小粒径粒子的计数。照射光学系统(12)将对来自光源(1)的光进行分路而得到的多束光中的一束光向在流道(2a)内流动的流体照射，形成检测区域。检测光学系统(13)使来自包含在上述检测区域内的流体中的粒子的散射光中的与照射光学系统的光轴不同方向的散射光射入分光镜(17)。另一方面，扩束镜(16)将上述多束光中的另一束光作为参照光射入分光镜(17)。检测部(4)利用受光元件接收由分光镜(17)得到的散射光与参照光的干涉光，生成与上述干涉光对应的检测信号，计数部(6)基于上述检测信号来进行粒子的计数。
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公开(公告)号：CN1668910A
公开(公告)日：2005-09-14
申请号：CN02829685.0
申请日：2002-09-27
Applicant: 理音株式会社
Inventor： 松田朋信
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G01N15/1459 , G01N15/1434 , G01N2015/1493
Abstract: 按照本发明，提供了一种流槽，该流槽可以通过充分利用聚光透镜的会聚角而更有效地检测散射光。在通过用激光La照射在流槽内形成颗粒监测区M的流槽中，由包含在流经颗粒监测区M的试样液中的颗粒产生的散射光Ls通过聚光透镜L而会聚，以便获得包含颗粒直径的信息，内壁如此提供使得散射光Ls在充分利用聚光透镜L的会聚角θ的状态中会聚。
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