公开(公告)号：CN112034330A

公开(公告)日：2020-12-04

申请号：CN202011057700.6

申请日：2020-09-29

Applicant: 珠海市一微半导体有限公司

Inventor： 梁永元 ,  黄明强

IPC: G01R31/28 ,  G05B19/042

Abstract: 本发明提供一种SOC芯片自动化QC方法及装置，其中，所述装置包括QC母板，所述QC母板包括PMU电源、MCU主控制器、SOCKET座子、QC子板、组合开关、TEST按键、DEBUG按键、功能模块、结果显示模块；所述方法在所述装置上实现，包括如下内容：MCU主控制器通过SWD总线与待测SOC芯片连接，然后读取预先烧录在SOC芯片中的CHIPID；根据所述CHIPID，MCU主控制器按照设定的优先级顺序将需要的QC代码加载到待测SOC芯片中并控制其进行功能测试；如果测试通过，则结果显示模块显示PASS信息，如果测试不通过，则结果显示模块显示FAIL信息；当出现FAIL时，MCU主控制器还能够对待测SOC芯片进行DEBUG，以快速定位故障位置。本发明提出一种SOC芯片自动化QC方法及装置可以实现快速的SOC芯片自动化测试，有效地缩短测试时间，提高测试效率。

公开(公告)号：CN212364515U

公开(公告)日：2021-01-15

申请号：CN202022189406.2

申请日：2020-09-29

Applicant: 珠海市一微半导体有限公司

Inventor： 梁永元 ,  黄明强

IPC: G01R31/28 ,  G05B19/042

Abstract: 本实用新型提供一种SOC芯片自动化QC装置，其中，所述装置包括QC母板，所述QC母板包括PMU电源、MCU主控制器、SOCKET座子、QC子板、组合开关、TEST按键、DEBUG按键、功能模块、结果显示模块。其中，PMU电源用于为QC母板供电；QC子板与功能模块、MCU主控制器和安装于SOCKET座子上的待测SOC芯片相连接；MCU主控制器通过SWD总线与所述待测SOC芯片相连接；TEST按键和DEBUG按键用于启动不同的QC模式。本实用新型提出一种SOC芯片自动化QC装置，只需一个开始测试按键就可以完成SOC芯片的功能测试，具有便携、高效的特点。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利