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公开(公告)号:CN112507649B
公开(公告)日:2024-04-02
申请号:CN202011531882.6
申请日:2020-12-23
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
IPC: G06F30/392
Abstract: 本发明公开了一种模拟版图的数模引脚映射到数字版图的方法,该方法包括:步骤1:控制模拟版图设计工具读取模拟版图的数模引脚信息;步骤2:根据模拟版图设计工具和数字版图设计工具对应的程序接口语言异同情况,控制步骤1读取的数模引脚信息进行格式转换;步骤3:根据步骤2中的格式转换结果,控制数模引脚信息生成数模引脚布局脚本;步骤4:根据步骤3生成的数模引脚布局脚本,控制数字版图设计工具加载数模引脚布局脚本,完成数模引脚映射到数字版图。本发明实现了模拟版图包数字版图的设计中数模引脚信息的自动映射,减少版图设计者在版图布局阶段消耗的时间与精力,大幅度缩短数模版图进行信息交互的处理周期。
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公开(公告)号:CN110390158B
公开(公告)日:2023-05-09
申请号:CN201910651915.1
申请日:2019-07-18
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
IPC: G06F30/398
Abstract: 本发明公开一种检查屏蔽线漏接的方法,包括:步骤1、根据预设工艺设计库中各物理层次信息,建立各物理层次之间的连接关系,然后进入步骤2,其中,各物理层次包括预定义的待检查的金属层和/或器件层;步骤2、根据步骤1确定的金属层和/或器件层之间的连接关系,判断待检查的金属层中是否存在漏接的屏蔽线;步骤3、按照前述步骤遍历完所有待检查的金属层,并同时输出对应的检查结果。方便版图设计者按照输出的检查结果自主分析修复漏接的屏蔽线;该自动化检测的技术方案在释放人力的同时,也提高了屏蔽线漏接排查的可靠性和效率。
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公开(公告)号:CN118862816A
公开(公告)日:2024-10-29
申请号:CN202310475394.5
申请日:2023-04-28
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
IPC: G06F30/398
Abstract: 本申请公开了一种DUMMY MOS管识别方法、装置、计算机设备和可读存储介质,所述方法包括:获取待处理版图中的MOS管以及MOS管的连接关系和MOS管的器件尺寸;判断所述MOS管的连接关系是否符合预设连接要求以及判断所述MOS管的器件尺寸是否符合预设尺寸要求,当两者都符合时,判定所述MOS管是目标DUMMY MOS管。本申请所述的DUMMY MOS管识别方法,以自动化识别定位的方式替代人工搜查模式,实现整颗芯片DUMMY MOS管的快速透视,协助版图工程师更加精准、高效、便捷地进行改版评估、改版实施等工作,最大程度保证改版质量,大大缩短改版周期。
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公开(公告)号:CN112100975B
公开(公告)日:2024-05-03
申请号:CN202011041185.2
申请日:2020-09-28
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
IPC: G06F30/398 , G06F30/394 , G06F30/392 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种版图设计的金属层自动连接方法,涉及芯片版图设计领域,所述金属层自动连接方法具体包括如下步骤:设置快捷键,其中,所述快捷键配置功能函数,用于一键实现金属层自动连接;以选定的一对或一对以上金属层作为自动连接对象,当检测到快捷键被点击时,触发所述功能函数以实现金属层自动连接。本发明通过在版图设计软件中设置配置功能函数的快捷键,大幅度提高版图设计工作效率,实现更高效、精准的同层或不同层的金属层的自动连接。
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公开(公告)号:CN109543309B
公开(公告)日:2023-01-06
申请号:CN201811410376.4
申请日:2018-11-23
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
IPC: G06F30/398
Abstract: 本发明提出一种基于版图关键信号的干扰排查方法。所述干扰排查方法是基于DRC验证语言的自动检查版图信号防护的RULE脚本,通过执行DRC设计规则检查,即可得到信号防护的检查结果,可快速地定位到版图中存在信号干扰的地方。整个干扰信号排查过程是自动化脚本运行,使得操作方便、快捷、高效,结果直观,并大大节省了人工排查所需耗费的时间跟精力,且该方法可通过简单修改预定义的形式,快速应用于不同工艺版图的干扰信号排查中,通用性强。
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公开(公告)号:CN109492273B
公开(公告)日:2022-11-15
申请号:CN201811231667.7
申请日:2018-10-22
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
IPC: G06F30/392 , G06F30/398
Abstract: 本发明公开一种基于通孔的自动打孔方法,选定芯片物理版图中待打孔处理的第一金属层和第三金属层;其中,所述第一金属层和所述第三金属层包括跨层次的两层金属层和相邻的两层金属层;当检测到配置的打孔触发信号时,定义待调用的通孔器件的尺寸及间距信息;同时获取所述第一金属层和所述第三金属层的金属交叠区的尺寸大小;根据所述金属交叠区的尺寸大小、所述通孔器件的尺寸及其间距信息,计算待调用的通孔器件的数目;判断所述通孔器件的数目是否小于或等于1,是则调用通孔数目为3的打孔器件,并调用打孔函数进行打孔操作;否则直接调用所述打孔函数进行打孔操作。本发明通过一个打孔触发信号实现跨层次自动打孔和插入冗余孔。
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公开(公告)号:CN119005096A
公开(公告)日:2024-11-22
申请号:CN202310558676.1
申请日:2023-05-18
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
IPC: G06F30/39
Abstract: 本申请提供一种芯片版图填充方法、装置、计算机设备和可读存储介质,所述填充方法包括:捕获芯片版图中的第一图层,然后对所述第一图层进行合并,得到合并图层;提取所述合并图层的内圈空洞,得到待填充图层;生成第二图层于所述待填充图层上,完成芯片版图的自动填充;其中,所述第二图层的类型取决于所述第一图层的类型。所述填充方法实现了精准的N型注入区、P型注入区和N阱区的自动填充工作,操作简单、高效、便捷,且符合DRC生产制造规则的要求。所述填充方法不仅解决了版图设计过程中人工操作繁琐的问题,还消除了由于N型注入区、P型注入区和N阱区填充出错或填充遗漏带来的DRC验证环节与设计环节的反复迭代问题,提高了版图设计效率。
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公开(公告)号:CN118862799A
公开(公告)日:2024-10-29
申请号:CN202310471611.3
申请日:2023-04-27
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
IPC: G06F30/392 , G06F30/394 , G06F30/31
Abstract: 本申请公开了一种差分对管版图自动生成方法和计算机设备,所述方法首先获取生成差分对管版图的关键参数的目标取值,然后将所述目标取值赋值给对应的关键参数,得到生成差分对管版图的目标脚本,最后运行所述目标脚本,即可自动生成差分对管版图。本申请通过简单的参数配置,利用脚本即可实时获取高质量差异化的差分对管版图,将传统的手工设计简化为统一的、标准的脚本处理,使原本繁琐复杂、耗时长的版图设计工作变得简单、高效、便捷,从根本上确保了版图设计质量,降低了版图设计门槛。
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公开(公告)号:CN109117572B
公开(公告)日:2023-01-10
申请号:CN201810979469.2
申请日:2018-08-27
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
Inventor: 蔡晓銮
IPC: G06F30/367 , G06F111/12
Abstract: 本发明公开一种基于电路原理图的符号图引脚的自动伸线打标记方法,包括:步骤S101,在脚本文件中配置对应功能函数的快捷按键;步骤S102,定义引脚的伸线长度;步骤S103,通过捕获原理图中选定的符号图提取待标记引脚信息;步骤S104,根据待标记引脚的信号端口的坐标和伸线长度,确定待标记引脚的伸线坐标;步骤S105,判断待标记引脚对应的信号是否属于总线信号,是则在步骤S106中设置待标记引脚的伸线宽度为第一预设线宽,否则在步骤S107中设置其伸线宽度为第二预设线宽;步骤S108,根据伸线坐标和伸线宽度执行自动伸线操作;步骤S109,根据自动伸线操作得到的伸线位置,完成待标记引脚的自动打标记操作。
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公开(公告)号:CN110263442B
公开(公告)日:2022-11-15
申请号:CN201910543637.8
申请日:2019-06-21
Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司
IPC: G06F30/392
Abstract: 本发明公开一种模拟版图的走线映射到数字版图的方法,该方法包括:步骤1、控制模拟版图设计工具读取模拟版图的第一预设走线通道区中的走线信息及通孔信息,其中,第一预设走线通道区是跨出模拟版图内的模拟模块的走线通道区域;步骤2、根据模拟版图设计工具和数字版图设计工具对应识别的信息存储格式的异同情况,控制步骤1读取的走线信息及通孔信息进行格式转换;步骤3、根据步骤2的格式转换结果,控制数字版图设计工具在存在映射关系的数字版图的第二预设走线通道区内完成布线;其中,第二预设走线通道区是第一预设走线通道区映射到数字版图的对应摆放位置,且是数字版图设计工具预先布置好的。从而实现模拟版图信息向数字版图的转移。
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