纸张涂层的连续化红外吸收法测量装置

    公开(公告)号:CN119334262B

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202411884794.2

    申请日:2024-12-20

    Abstract: 本发明公开了纸张涂层的连续化红外吸收法测量装置,属于纸张测量装置技术领域,包括:送料辊和收料辊,所述送料辊和收料辊均安装在框架上并连接有与其相适配的驱动器,所述送料辊和收料辊之间设有置于框架上的第一导向辊和第二导向辊;红外扫描机构,所述红外扫描机构包括固定在框架上的伺服电机,所述伺服电机的输出轴贯穿框架并延伸至第一丝杠轴上,所述第一丝杠轴上螺旋传动有固定在支架上的第一丝杠螺母。本发明解决纸张涂层输送过程中与导向辊接触摩擦时,会产生较轻的静电,从而使得漂浮在空气中的灰尘吸附在薄膜表面,检测装置无法及时的对纸张涂层表面的灰尘进行清理,从而影响纸张涂层厚度等物理参数测量准确性的技术问题。

    基于红外吸收法的高精度测厚仪及测厚方法

    公开(公告)号:CN118424124B

    公开(公告)日:2024-09-27

    申请号:CN202410874840.4

    申请日:2024-07-02

    Abstract: 本发明涉及基于红外吸收法的高精度测厚仪及测厚方法,属于测厚机构及测厚方法技术领域,包括:工作台;第一压紧机构,包括置于框架顶端两侧的气缸,所述气缸底端的活塞杆贯穿框架并延伸至压板上,所述第一压紧机构用于对工件膜进行初步压紧工作;第二压紧机构,固定在气缸的活塞杆上,且用于对工件膜进行二次压紧工作;吹气清扫组件,吹气清扫组件包括置于框架外壁两端的风机,风机一端固定在通风孔处,且通风孔一端延伸至框架外壁上间隔分布的风槽。本发明可以解决当薄膜的上出现相应的褶皱或者表面含有杂质颗粒,此外由于在移动过程中受到惯性影响从而导致在晃动过程中进行测量工作,进而不利于测厚数据精确度的提高的技术问题。

    基于X射线测量的铜箔测厚仪及其测量方法

    公开(公告)号:CN118067051B

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410460199.X

    申请日:2024-04-17

    Abstract: 本发明公开了基于X射线测量的铜箔测厚仪及其测量方法,涉及测厚设备领域,包括第一横板、第二横板、支撑板、置物机构、间歇转动机构、射线接收机构、射线发射机构和驱动机构。本发明中的基于X射线测量的铜箔测厚仪通过设置第一横板、第二横板、支撑板、置物机构、间歇转动机构、射线接收机构、射线发射机构和驱动机构,通过射线接收机构和射线发射机构对铝箔进行测厚;通过启动驱动机构,带动两个圆板同步间歇性转动,便于通过射线接收机构和射线发射机构对铝箔进行多点位测厚,提高了测量点的覆盖范围,便于提高测量的准确性。

    基于X射线测量的铜箔测厚仪及其测量方法

    公开(公告)号:CN118067051A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410460199.X

    申请日:2024-04-17

    Abstract: 本发明公开了基于X射线测量的铜箔测厚仪及其测量方法,涉及测厚设备领域,包括第一横板、第二横板、支撑板、置物机构、间歇转动机构、射线接收机构、射线发射机构和驱动机构。本发明中的基于X射线测量的铜箔测厚仪通过设置第一横板、第二横板、支撑板、置物机构、间歇转动机构、射线接收机构、射线发射机构和驱动机构,通过射线接收机构和射线发射机构对铝箔进行测厚;通过启动驱动机构,带动两个圆板同步间歇性转动,便于通过射线接收机构和射线发射机构对铝箔进行多点位测厚,提高了测量点的覆盖范围,便于提高测量的准确性。

    一种基于数据分析的测量数据异常监管系统及方法

    公开(公告)号:CN117556362B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202410033208.7

    申请日:2024-01-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于数据分析的测量数据异常监管系统及方法,包括:损耗累积模块、刚性测量模块、神经网络模块、回归调校模块和异常归类模块,损耗累积模块用于计算仪器的动态损耗,并折算影响值,刚性测量模块用于评估材料的刚性程度,计算分散率区间,神经网络模块用于构建神经网络模型,回归调校模块用于处理测量点,并将其拟合为线性回归函数,异常归类模块用于提取异常点,计算异常点的分散率,并对异常点分类,本发明能够有效缓解由于设备仪器故障、数据采集错误或实验操作失误等原因而产生的数据污染,提高了测量的准确性,使实际测量数据能够为测量人员带来更高的参考价值。

    一种基于数据分析的测量数据异常监管系统及方法

    公开(公告)号:CN117556362A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202410033208.7

    申请日:2024-01-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于数据分析的测量数据异常监管系统及方法,包括:损耗累积模块、刚性测量模块、神经网络模块、回归调校模块和异常归类模块,损耗累积模块用于计算仪器的动态损耗,并折算影响值,刚性测量模块用于评估材料的刚性程度,计算分散率区间,神经网络模块用于构建神经网络模型,回归调校模块用于处理测量点,并将其拟合为线性回归函数,异常归类模块用于提取异常点,计算异常点的分散率,并对异常点分类,本发明能够有效缓解由于设备仪器故障、数据采集错误或实验操作失误等原因而产生的数据污染,提高了测量的准确性,使实际测量数据能够为测量人员带来更高的参考价值。

    具有防尘O型扫描架的X射线测厚仪

    公开(公告)号:CN119437105A

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202510048993.8

    申请日:2025-01-13

    Abstract: 本发明公开了具有防尘O型扫描架的X射线测厚仪,属于电子测厚机构技术领域,包括:工作台;导向清洁机构,所述导向清洁机构包括固定在底板上的驱动电机,所述驱动电机的输出轴延伸至第一转齿上,所述第一转齿外壁啮合传动有固定在转动环上的第二转齿,所述转动环外壁边缘设有置于圆环上的T型滚动槽,且圆环底端通过支架固定在底板上,所述转动环上连接有与其相适配的X射线发射器,且X射线发射器正下方设有置于工作台上的探测器。本发明解决测厚之前的清洁滚通常为单一方向的清洁设置,不能够将杂质进行有效清除,从而不利于测厚精确度的提高,以及工件测量过后人工摆放不便和工作效率低的技术问题。

    电池极片涂布生产线用克重检测调控装置

    公开(公告)号:CN118566268A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202411052661.9

    申请日:2024-08-02

    Abstract: 本发明公开了电池极片涂布生产线用克重检测调控装置,属于涂布生产线检测设备技术领域,包括第一横箱、第二横箱、齿条、第一安装座、克重检测仪、随动机构、两组降温机构、第二安装座和接收器。本发明中的克重检测调控装置通过设置第一横箱、第二横箱、齿条、第一安装座、随动机构和降温机构,当第一安装座移动时,随动机构在齿条的影响下会进行转动,进而驱动两组降温机构间歇性向克重检测仪内输送空气,进而加快克重检测仪内空气的流动,便于降低克重检测仪的内部温度,从而利于克重检测仪的长久使用。

    一种基于X射线的抗干扰型涂层测厚装置

    公开(公告)号:CN117213413A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202311465009.5

    申请日:2023-11-07

    Abstract: 本发明涉及测厚装置技术领域,尤其涉及一种基于X射线的抗干扰型涂层测厚装置。本发明公开了一种基于X射线的抗干扰型涂层测厚装置,包括O型架,O型架外侧设有控制器,O型架顶端通过支撑架设有鼓风机;O型架顶部的壳体内设有计算模块,壳体底部设有X射线管,O型架底部设有接收检测头;壳体底部连接有若干散热盖,若干散热盖闭合形成散热腔和伸缩腔,相邻两个散热盖之间通过若干连接件相连接;散热腔连接有散热机构。本发明可确保冷气流对降温腔的降温效果,带动散热腔内的冷气流多向流动,提高气流团与X射线管的热交换效率,并对转化后的气流进行二次利用,避免路径上的灰尘对出光的轨迹和能量产生干扰,确保测厚数据的准确度。

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