用于光学相干断层扫描的系统和方法

    公开(公告)号:CN102679866A

    公开(公告)日:2012-09-19

    申请号:CN201210146124.1

    申请日:2008-02-20

    Abstract: 本发明涉及用于光学相干断层扫描的一种系统以及一种相应的方法,具有:至少一个干涉仪(20),该干涉仪(20)用于输出用来照射样本(1)的空间短相干或者非相干的光,拥有样本物镜(41)的样本臂,通过该样本物镜(41)把由该干涉仪(20)所输出的光聚焦到位于该样本(1)中的焦点上,以及最好拥有布置在平面中的多个探测器单元的探测器,该探测器用于探测由该样本(1)所反射的光。为了可靠地记录最锐利的样本(1)图像,在探测分别在该样本(1)的不同深度中反射的光期间,该样本物镜(41)的成像特性发生改变。

    用于光学相干断层摄影的系统和方法

    公开(公告)号:CN101617193B

    公开(公告)日:2013-09-18

    申请号:CN200880005653.1

    申请日:2008-02-20

    Abstract: 本发明涉及一种用于光学相干断层摄影的系统以及相应的方法,其具有干涉仪(10)和探测器(30),其中该干涉仪(10)用于输出照射样本(1)的光,该干涉仪(10)具有分束器(13)和距分束器(13)的光学距离(I)可变的至少一个反射器(12),其中探测器(30)具有在表面中设置的多个探测元件,由这些探测元件获取由样本(1)反射的光。为简化和加速获得样本(1)的三维图像,设置为反射器(12)距分束器(13)的光学距离(I)改变了光学路程(L),其中该光学路程(L)远远大于耦合到干涉仪(10)中的光(14)的平均波长(λ0):L>>λ0,其中在将反射器(12)距分束器(13)的光学距离(I)改变光学路程(L)期间,由样本(1)反射的光由探测器(30)的探测元件多次获取,由此获取由样本(1)的不同深度中的多个二维截面反射的光。

    用于光学相干断层扫描的系统和方法以及用于校准这种系统的方法

    公开(公告)号:CN101617196B

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN200880005903.1

    申请日:2008-02-20

    Abstract: 本发明涉及用于光学相干断层扫描的一种系统以及相应的方法,其具有一个干涉仪(10),该干涉仪用于输出用来照射一个样本(1)的光。该干涉仪(10)包含有一个分束器(13)和至少一个反射器(12),该反射器到该分束器(13)的光学距离(I)是可变化的,并具有一个样本物镜,通过该样本物镜由该干涉仪(10)所输出的光被聚焦到位于该样本(1)中的一个焦点上,还具有一个探测器(30),用于探测由该样本(1)所反射的光。为了更简单且更快速地记录该样本(1)的尽可能清晰的图像,规定,在改变该反射器(12)到该分束器(13)的光学距离期间,分别在该样本(1)的多个不同深度上反射的光由该探测器(30)来探测,并在探测分别在该样本(1)的不同深度上反射的光期间,该样本物镜的成像特性以如下方式而被改变,即该焦点位于该样本(1)的相应深度的范围中。

    用于光学相干断层摄影的系统和方法

    公开(公告)号:CN101617193A

    公开(公告)日:2009-12-30

    申请号:CN200880005653.1

    申请日:2008-02-20

    Abstract: 本发明涉及一种用于光学相干断层摄影的系统以及相应的方法,其具有干涉仪(10)和探测器(30),其中该干涉仪(10)用于输出照射样本(1)的光,该干涉仪(10)具有分束器(13)和距分束器(13)的光学距离(I)可变的至少一个反射器(12),其中探测器(30)具有在表面中设置的多个探测元件,由这些探测元件获取由样本(1)反射的光。为简化和加速获得样本(1)的三维图像,设置为反射器(12)距分束器(13)的光学距离(I)改变了光学路程(L),其中该光学路程(L)远远大于耦合到干涉仪(10)中的光(14)的平均波长(λ0):L>>λ0,其中在将反射器(12)距分束器(13)的光学距离(I)改变光学路程(L)期间,由样本(1)反射的光由探测器(30)的探测元件多次获取,由此获取由样本(1)的不同深度中的多个二维截面反射的光。

    用于光学相干断层扫描的系统和方法

    公开(公告)号:CN101617195B

    公开(公告)日:2013-06-19

    申请号:CN200880005743.0

    申请日:2008-02-20

    Abstract: 本发明涉及用于光学相干断层扫描的系统以及相应方法,其具有用于产生光(14)的光源(15)、第一干涉仪(10)、第二干涉仪(20)和光导体(17),通过光导体(17)从第一干涉仪(10)出射的光被导向第二干涉仪(20)。为了能够更简单且更有效地将从第一干涉仪(10)出射的光耦合入光导体(17),规定,将光(14)耦合入该第一干涉仪(10)中,光(14)具有第一数量的横向模式,并且所述光导体(17)具有至少一个多模光纤,从第一干涉仪(10)出射的光耦合入所述至少一个多模光纤中,使得在所述光导体(17)中激发第二数量的横向模式,这些横向模式被导向第二干涉仪(20),其中横向模式的所述第二数量明显大于横向模式的所述第一数量。

    用于光学相干断层扫描的系统和方法以及用于校准这种系统的方法

    公开(公告)号:CN101617196A

    公开(公告)日:2009-12-30

    申请号:CN200880005903.1

    申请日:2008-02-20

    Abstract: 本发明涉及用于光学相干断层扫描的一种系统以及相应的方法,其具有一个干涉仪(10),该干涉仪用于输出用来照射一个样本(1)的光。该干涉仪(10)包含有一个分束器(13)和至少一个反射器(12),该反射器到该分束器(13)的光学距离(I)是可变化的,并具有一个样本物镜,通过该样本物镜由该干涉仪(10)所输出的光被聚焦到位于该样本(1)中的一个焦点上,还具有一个探测器(30),用于探测由该样本(1)所反射的光。为了更简单且更快速地记录该样本(1)的尽可能清晰的图像,规定,在改变该反射器(12)到该分束器(13)的光学距离期间,分别在该样本(1)的多个不同深度上反射的光由该探测器(30)来探测,并在探测分别在该样本(1)的不同深度上反射的光期间,该样本物镜的成像特性以如下方式而被改变,即该焦点位于该样本(1)的相应深度的范围中。

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