公开(公告)号：CN100538662C

公开(公告)日：2009-09-09

申请号：CN200710127453.0

申请日：2007-07-05

Applicant: 炬力集成电路设计有限公司

Inventor： 陈黎明 ,  陈诚

IPC: G06F12/02

CPC classification number: G11C16/349 ,  G06F12/0246 ,  G06F2212/1036 ,  G06F2212/7211 ,  G11C16/3495

Abstract: 本发明涉及了一种基于局部采样原理的存储器的磨损平衡实现方法，具体来讲是闪存的磨损平衡方法。本发明包括：建立闪存的生命周期模型；将整个生命周期按具体的使用规律分成一定个数的生命采样阶段；在某个采样阶段的终点，采集该采样阶段内的历史数据并进行分析，将任务最繁重的存储单元调配到最安静的区域，将最安静的区域对应的存储单元调配到任务最繁重的存储单元原先所在的区域。本发明可以达到磨损平衡，提高存储器的使用寿命，适用于所有易受损的存储器。

公开(公告)号：CN101067800A

公开(公告)日：2007-11-07

申请号：CN200710127453.0

申请日：2007-07-05

Applicant: 炬力集成电路设计有限公司

Inventor： 陈黎明 ,  陈诚

IPC: G06F12/02

CPC classification number: G11C16/349 ,  G06F12/0246 ,  G06F2212/1036 ,  G06F2212/7211 ,  G11C16/3495

Abstract: 本发明涉及了一种基于局部采样原理的存储器的磨损平衡实现方法，具体来讲是闪存的磨损平衡方法。本发明包括：建立闪存的生命周期模型；将整个生命周期按具体的使用规律分成一定个数的生命采样阶段；在某个采样阶段的终点，采集该采样阶段内的历史数据并进行分析，将任务最繁重的存储单元调配到最安静的区域，将最安静的区域对应的存储单元调配到任务最繁重的存储单元原先所在的区域。本发明可以达到磨损平衡，提高存储器的使用寿命，适用于所有易受损的存储器。