微小元器件表面缺陷检测系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119757351A

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411649139.9

    申请日:2024-11-19

    Abstract: 本发明涉及微小元器件表面缺陷检测系统,包含图像采集硬件、检测软件;其中:图像采集硬件包含工业相机、XY二维精密十字滑台、方管支架;工业相机可拆卸安装在XY二维精密十字滑台的X轴臂上;检测软件包含相机控制模块、相机调参模块、图像处理模块、运动控制模块、数据显示模块。本发明采集小目标缺陷数据,兼顾缺陷样本为少数的现实情况,适用于各种小且多的元器件检测实际应用;确保整个检测系统的稳定性和高效性,实现硬件与软件协同优化;硬件架构简单高效,检测速度快,成本低,使用便捷;提升对微小目标的检测精度与速度;确保检测结果的准确性与可靠性增加用户体验。

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