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公开(公告)号：CN117671061B
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202311656909.8
申请日：2023-12-05
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种静态计算机断层CT扫描的数据处理方法和设备。静态CT扫描的数据处理方法包括响应于接收到的束面同步脉冲信号，利用束面同步脉冲信号分别对N个角度脉冲信号和N个皮带脉冲信号进行时间同步，得到N个同步角度脉冲信号和N个同步皮带脉冲信号；基于N个同步角度脉冲信号和N个同步皮带脉冲信号，生成N个时间戳，N个时间戳分别对应于静态CT扫描设备的N个扫描成像系统，N个时间戳各自包括角度数据和皮带数据；以及对N个扫描成像系统各自对应的束面数据、探测数据、角度数据和皮带数据进行组包，得到N个数据包。本公开对多个扫描成像系统接收的角度脉冲信号和皮带脉冲信号进行同步，实现了多个扫描成像系统之间的时间信息同步。
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公开(公告)号：CN119184720A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411318154.5
申请日：2021-10-15
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , A61B6/40 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括：检查区域，包括成像区域；第一射线源组件，其所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，其多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
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公开(公告)号：CN118258893A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202211714433.4
申请日：2022-12-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N29/06
Abstract: 本发明提供了一种肉类检测系统和肉类检测方法。系统包括：运送设备，限定用于运送肉类产品的运送通道，肉类产品在运输通道上沿运送方向移动；射线源，配置成朝向运送通道照射射线束，射线束沿运送方向的横向跨运送通道；探测器，被配置成接收射线束以分别生成第一探测信号和第二探测信号，其中第一探测信号和第二探测信号对应于不同波段的辐射；处理器，被配置成基于探测器探测的第一探测信号和第二探测信号生成第一透射图像和第二透射图像，并结合第一透射图像和第二透射图像生成肉类产品的透射扫描图像，由此计算肉类产品的量化指标以对肉类产品进行分级。
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公开(公告)号：CN117929423A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311865662.0
申请日：2023-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/00
Abstract: 提供一种用于对扫描成像设备进行能谱标定的标定方法，包括：在能谱标定模体位于射线形成的扫描区域中的情况下，根据射线源、能谱标定模体和探测器之间的相对位置，获取射线源、能谱标定模体和探测器之间的几何关系；通过探测器采集经过扫描区域的射线，以获取实际投影数据；获取能谱标定模体的物理属性，其中，物理属性是根据能谱标定模体的组成材料预先确定的或根据图像重建方法计算得到的；基于能谱标定模体的物理属性和几何关系，使用预定的多个基础能谱计算理论投影数据；根据理论投影数据和实际投影数据，对能谱参数进行标定，以获取优化的能谱参数；以及将优化的能谱参数确定为能谱标定参数。
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公开(公告)号：CN117635527A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311115401.7
申请日：2023-08-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 提供了一种静态CT设备及其成像方法。所述成像方法包括：利用所述分布式射线源和所述探测器，在不同角度下采集被检查物体的初始投影数据，其中，所述初始投影数据包括基于所述多个射线源点发出的射线所述探测器直接获取的投影数据；根据采集的所述初始投影数据，利用重建算法，获取第一CT图像；将所述第一CT图像分割为N个第一子图像，其中，N为大于等于1的正整数，所述N个第一子图像的并集覆盖整个第一CT图像；对所述N个第一子图像进行优化，以获取N个第二子图像；以及合并所述N个第二子图像，以获取第二CT图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116359257A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202111618227.9
申请日：2021-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/046 , G01V13/00 , A61B6/00 , A61B6/03
Abstract: 本公开提供了一种标定组件，包括：基部；以及多个标定丝，所述标定丝分散地连接于所述基部上，所述标定丝对X射线的吸收能力大于所述基部对X射线的吸收能力。本公开通过标定组件中多个标定丝特定结构的设计，将标定丝分散地连接于基部上，利用标定丝对X射线的吸收能力大于基部对X射线的吸收能力的特点，将上述标定丝应用于标定模体中，并将该标定模体在扫描系统中进行扫描，通过不断调整成像方法中的几何参数值，从而获得最接近真实扫描系统结构的最优几何参数值，提高了扫描系统的成像效果。
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公开(公告)号：CN115641388A
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202110816151.4
申请日：2021-07-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T11/00
Abstract: 本公开提供了一种物品成像方法，包括：获取由多个射线源对待检物品进行扫描而生成的多组二维数据；基于多组二维数据，生成针对第一方向的多个二维投影图像和/或针对第二方向的至少一个二维投影图像，第一方向包括射线源到检测通道中心或待检物品的方向，第二方向包括检测通道上除射线源所处位置之外的其他位置到检测通道中心或待检物品的方向；基于来自用户的选择指令，从所生成的二维投影图像中选择一个或多个二维投影图像；基于多组二维数据，得到与所选择的二维投影图像相对应的目标二维投影图像以便进行显示，目标二维投影图像与至少部分待检物品相对应。本公开还提供了一种物品成像装置、设备、系统、介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN115105110A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202111204463.6
申请日：2021-10-15
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括：检查区域，包括成像区域；第一射线源组件，其所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，其多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
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公开(公告)号：CN114947911A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202110217737.9
申请日：2021-02-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , A61B6/06 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统。公开了一种用于射线检查的成像系统，包括：第一射线源组件，包括多个射线源；第二射线源组件，包括多个射线源，第一射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第一射线源平面内，第二射线源组件的所有射线源的靶点都布置在第二射线源平面内；多个第一探测器单元，多个第一探测器单元布置在第一探测器平面内；多个第二探测器单元，多个第二探测器单元布置在第二探测器平面内；和探测器支架，多个第一探测器单元和多个第二探测器单元都安装在探测器支架上，其中，第一射线源平面、第二射线源平面、第一探测器平面与第二探测器平面沿行进方向依次分布。
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