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公开(公告)号：CN101329283A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200810125189.1
申请日：2008-06-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/08 , G01N23/04 , G01N23/222 , G01V5/00 , G21F1/00
CPC classification number: G21B1/19 , C09D5/1606 , G21G4/02 , H05H6/00
Abstract: 本发明公开了一种光中子－X射线违禁品检测方法和系统。该系统包括：X射线发生器，其产生X射线主束，X射线主束包括第一X射线束和第二X射线束，第一X射线束被引导穿过该被检物体；光中子转换靶，该光中子转换靶布置成接收所述第二X射线束，从而产生光中子，光中子被引导进入该被检物体，并与所述被检物体反应发出特征性γ射线；X射线探测装置，该X射线探测装置布置成接收穿过该被检物体后的所述第一X射线束，以便对该被检物体进行X射线成像检测；γ射线探测装置，该γ射线探测装置布置成接收所述特征性γ射线，以便根据所述特征性γ射线对该被检物体进行中子检测；其中，该系统同时对该被检物体进行X射线成像检测和中子检测。
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公开(公告)号：CN101329284B
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN200810125191.9
申请日：2008-06-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G21B1/19 , C09D5/1606 , G21G4/02 , H05H6/00
Abstract: 本发明公开了一种γ射线探测器，包括：探测器晶体；光电倍增管；X/γ射线屏蔽体，该X/γ射线屏蔽体至少包围该探测器晶体的周向表面，并且暴露出该探测器晶体的前端面；中子屏蔽体，该中子屏蔽体位于该X/γ射线屏蔽体的外侧，并至少包围该探测器晶体的周向表面，并且暴露出该探测器晶体的前端面；中子吸收体，该中子吸收体设置成邻近所述探测器晶体的前端面，并防止中子从该前端面进入该探测器晶体并且不会产生氢的2.223MeV的特征γ射线；准直器，该准直器包括与所述探测器晶体的前端面对准的通孔，该通孔限定了一延伸方向，用于仅允许基本上沿着该延伸方向并经由该通孔到达该前端面的X/γ射线进入该探测器晶体。
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公开(公告)号：CN101340771B
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：CN200810125197.6
申请日：2008-06-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: H05H6/00
CPC classification number: G21B1/19 , C09D5/1606 , G21G4/02 , H05H6/00
Abstract: 本发明公开了一种光中子转换靶，用于利用X射线束轰击该光中子转换靶而产生光中子，该光中子转换靶具有长型本体，该本体具有第一端部和第二端部，在使用时，所述X射线束进入所述本体，并沿着从第一端部至第二端部的方向传播；其中，所述光中子转换靶的本体的形状设计成与所述X射线束的强度分布基本上相匹配，使得强度大的X射线能在光中子转换靶的本体内传播更远的距离。本发明的光中子转换靶能够充分利用X射线束，以提高光中子产量。
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公开(公告)号：CN101340771A
公开(公告)日：2009-01-07
申请号：CN200810125197.6
申请日：2008-06-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G21B1/19 , C09D5/1606 , G21G4/02 , H05H6/00
Abstract: 本发明公开了一种光中子转换靶，用于利用X射线束轰击该光中子转换靶而产生光中子，该光中子转换靶具有长型本体，该本体具有第一端部和第二端部，在使用时，所述X射线束进入所述本体，并沿着从第一端部至第二端部的方向传播；其中，所述光中子转换靶的本体的形状设计成与所述X射线束的强度分布基本上相匹配，使得强度大的X射线能在光中子转换靶的本体内传播更远的距离。本发明的光中子转换靶能够充分利用X射线束，以提高光中子产量。
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公开(公告)号：CN101329283B
公开(公告)日：2011-06-08
申请号：CN200810125189.1
申请日：2008-06-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/02 , G01N23/222
CPC classification number: G21B1/19 , C09D5/1606 , G21G4/02 , H05H6/00
Abstract: 本发明公开了一种光中子-X射线违禁品检测方法和系统。该系统包括：X射线发生器，其产生X射线主束，X射线主束包括第一X射线束和第二X射线束，第一X射线束被引导穿过该被检物体；光中子转换靶，该光中子转换靶布置成接收所述第二X射线束，从而产生光中子，光中子被引导进入该被检物体，并与所述被检物体反应发出特征性γ射线；X射线探测装置，该X射线探测装置布置成接收穿过该被检物体后的所述第一X射线束，以便对该被检物体进行X射线成像检测；γ射线探测装置，该γ射线探测装置布置成接收所述特征性γ射线，以便根据所述特征性γ射线对该被检物体进行中子检测；其中，该系统同时对该被检物体进行X射线成像检测和中子检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101330795A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200810125190.4
申请日：2008-06-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G21B1/19 , C09D5/1606 , G21G4/02 , H05H6/00
Abstract: 本发明公开了一种光中子转换靶以及利用该光中子转换靶的光中子－X射线源，其可用于同时产生光中子和X射线。该光中子－X射线源包括：X射线发生器，用于产生X射线主束；光中子转换靶，所述X射线主束可轰击该光中子转换靶而产生光中子，该光中子转换靶具有本体以及由该本体限定的通道，该通道贯穿所述本体；其中，所述X射线主束中的第一X射线束能够穿过该通道而不与该本体发生反应，同时，所述X射线主束中的第二X射线束能够进入所述本体内，并与该本体发生反应以产生光中子。
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公开(公告)号：CN1959387A
公开(公告)日：2007-05-09
申请号：CN200510086764.8
申请日：2005-11-03
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/04 , G01T3/00 , G01V5/0033
Abstract: 用快中子和连续能谱X射线进行材料识别的方法及其装置，涉及大型客体辐射成像检测技术领域。本发明方法的主要步骤为：①用快中子源和连续能谱X射线源分别发射的快中子束和连续能谱X射线束穿透被检客体，直接测量快中子束和连续能谱X射线束并分别扫描成像。②利用快中子束和连续能谱X射线束衰减的不同所形成的曲线进行材料识别。本发明采用仅和被检客体的等效原子序数Z有关的n－x曲线进行材料识别，利用连续能谱X射线具有的高穿透力，在满集装箱或被检物很厚的情况下，也能进行材料识别，具有设备简单、成像清晰、实时检测准确率高的特点。
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公开(公告)号：CN101330795B
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：CN200810125190.4
申请日：2008-06-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G21B1/19 , C09D5/1606 , G21G4/02 , H05H6/00
Abstract: 本发明公开了一种光中子转换靶以及利用该光中子转换靶的光中子-X射线源，其可用于同时产生光中子和X射线。该光中子-X射线源包括：X射线发生器，用于产生X射线主束；光中子转换靶，所述X射线主束可轰击该光中子转换靶而产生光中子，该光中子转换靶具有本体以及由该本体限定的通道，该通道贯穿所述本体；其中，所述X射线主束中的第一X射线束能够穿过该通道而不与该本体发生反应，同时，所述X射线主束中的第二X射线束能够进入所述本体内，并与该本体发生反应以产生光中子。
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公开(公告)号：CN100582758C
公开(公告)日：2010-01-20
申请号：CN200510086764.8
申请日：2005-11-03
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/04 , G01T3/00 , G01V5/0033
Abstract: 用快中子和连续能谱X射线进行材料识别的方法及其装置，涉及大型客体辐射成像检测技术领域。本发明方法的主要步骤为：①用快中子源和连续能谱X射线源分别发射的快中子束和连续能谱X射线束穿透被检客体，直接测量快中子束和连续能谱X射线束并分别扫描成像。②利用快中子束和连续能谱X射线束衰减的不同所形成的曲线进行材料识别。本发明采用仅和被检客体的等效原子序数Z有关的n-x曲线进行材料识别，利用连续能谱X射线具有的高穿透力，在满集装箱或被检物很厚的情况下，也能进行材料识别，具有设备简单、成像清晰、实时检测准确率高的特点。
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公开(公告)号：CN101329284A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200810125191.9
申请日：2008-06-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G21B1/19 , C09D5/1606 , G21G4/02 , H05H6/00
Abstract: 本发明公开了一种γ射线探测器，包括：探测器晶体；光电倍增管；X/γ射线屏蔽体，该X/γ射线屏蔽体至少包围该探测器晶体的周向表面，并且暴露出该探测器晶体的前端面；中子屏蔽体，该中子屏蔽体位于该X/γ射线屏蔽体的外侧，并至少包围该探测器晶体的周向表面，并且暴露出该探测器晶体的前端面；中子吸收体，该中子吸收体设置成邻近所述探测器晶体的前端面，并防止中子从该前端面进入该探测器晶体并且不会产生氢的2.223MeV的特征γ射线；准直器，该准直器包括与所述探测器晶体的前端面对准的通孔，该通孔限定了一延伸方向，用于仅允许基本上沿着该延伸方向并经由该通孔到达该前端面的X/γ射线进入该探测器晶体。
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