公开(公告)号：CN113267559A

公开(公告)日：2021-08-17

申请号：CN202110760873.2

申请日：2021-07-06

Applicant: 清华大学 ,  仓信无损检测设备苏州有限公司

Inventor： 韩赞东 ,  欧正宇 ,  张瑛

IPC: G01N27/83

Abstract: 本发明公开了一种漏磁检测装置及漏磁检测方法，其中，漏磁检测装置包括励磁组件和传感器组件，励磁组件用于对待测试件进行磁化，包括磁传递件和磁力组件，第一磁传递件内部中空，磁力组件嵌套在第一磁传递件内，磁力组件与第一磁传递件间隔设置，磁力组件的第一上端面和第一磁传递件的第二上端面共面且磁力组件的第一下端面与第一磁传递件的第二下端面共面，两个下端面均配合在待测试件表面，第二磁传递件同时连接第一上端面和第二上端面，传感器组件设置在第一磁传递件和磁力组件之间，传感器组件靠近第一下端面设在磁力组件上，传感器组件用于检测待测试件上的缺陷。本发明实施例的漏磁检测装置，可检测多方向缺陷，且检测能力强、漏检率低。

公开(公告)号：CN114705750B

公开(公告)日：2024-08-06

申请号：CN202210355821.1

申请日：2022-04-06

Applicant: 清华大学 ,  仓信无损检测设备苏州有限公司

Inventor： 韩赞东 ,  欧正宇 ,  张瑛

IPC: G01N27/83

Abstract: 本申请涉及一种缺陷识别方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：计算设备接收漏磁传感器发送的待测试件的漏磁信号，其中，漏磁信号是待测试件的缺陷产生的漏磁场所对应的信号，并且，计算设备接收磁扰动传感器发送的待测试件的磁扰动信号，其中，磁扰动信号是待测试件的缺陷产生的扰动磁场所对应的信号，进而计算设备根据漏磁信号，确定待测试件是否存在缺陷，若待测试件存在缺陷，则计算设备根据磁扰动信号确定待测试件的缺陷类型，其中，缺陷类型包括表面缺陷和背面缺陷。采用本方法能够识别待测试件是否存在缺陷，并且确定待测试件的缺陷类型。

公开(公告)号：CN113267559B

公开(公告)日：2023-03-17

申请号：CN202110760873.2

申请日：2021-07-06

Applicant: 清华大学 ,  仓信无损检测设备苏州有限公司

Inventor： 韩赞东 ,  欧正宇 ,  张瑛

IPC: G01N27/83

Abstract: 本发明公开了一种漏磁检测装置及漏磁检测方法，其中，漏磁检测装置包括励磁组件和传感器组件，励磁组件用于对待测试件进行磁化，包括磁传递件和磁力组件，第一磁传递件内部中空，磁力组件嵌套在第一磁传递件内，磁力组件与第一磁传递件间隔设置，磁力组件的第一上端面和第一磁传递件的第二上端面共面且磁力组件的第一下端面与第一磁传递件的第二下端面共面，两个下端面均配合在待测试件表面，第二磁传递件同时连接第一上端面和第二上端面，传感器组件设置在第一磁传递件和磁力组件之间，传感器组件靠近第一下端面设在磁力组件上，传感器组件用于检测待测试件上的缺陷。本发明实施例的漏磁检测装置，可检测多方向缺陷，且检测能力强、漏检率低。

公开(公告)号：CN114705750A

公开(公告)日：2022-07-05

申请号：CN202210355821.1

申请日：2022-04-06

Applicant: 清华大学 ,  仓信无损检测设备苏州有限公司

Inventor： 韩赞东 ,  欧正宇 ,  张瑛

IPC: G01N27/83

Abstract: 本申请涉及一种缺陷识别方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：计算设备接收漏磁传感器发送的待测试件的漏磁信号，其中，漏磁信号是待测试件的缺陷产生的漏磁场所对应的信号，并且，计算设备接收磁扰动传感器发送的待测试件的磁扰动信号，其中，磁扰动信号是待测试件的缺陷产生的扰动磁场所对应的信号，进而计算设备根据漏磁信号，确定待测试件是否存在缺陷，若待测试件存在缺陷，则计算设备根据磁扰动信号确定待测试件的缺陷类型，其中，缺陷类型包括表面缺陷和背面缺陷。采用本方法能够识别待测试件是否存在缺陷，并且确定待测试件的缺陷类型。