公开(公告)号：CN1036292C

公开(公告)日：1997-10-29

申请号：CN92110543.6

申请日：1992-09-17

Applicant: 清华大学

Inventor： 殷纯永 ,  郭继华 ,  钱忠 ,  谢广平 ,  王泽民 ,  马贵龙

IPC: G01B11/27

Abstract: 本发明提出一种新的双频激光准直测量方法，属于双频激光精密测量技术领域。其特点在于将双频激光束射入第一个双折射分光元件分成夹有一小角度的两束光，再经过第二个双折射分光元件变成平行光速，经反射体反射按原路返回，由光电接收器接收，做为测量信号，相位计将双频激光参考信号与测量信号进行比相，得到位移量。本发明有利于克服空气干扰的影响，不但能进行连续测量，也能进行断续测量，在实际工程的精密测量中有广泛的应用前景。

公开(公告)号：CN1071005A

公开(公告)日：1993-04-14

申请号：CN92110543.6

申请日：1992-09-17

Applicant: 清华大学

Inventor： 殷纯永 ,  郭继华 ,  钱忠 ,  谢广平 ,  王泽民 ,  马贵龙

IPC: G01B11/27

Abstract: 本发明提出一种新的双频激光准直测量方法，属于双频激光精密测量技术领域。其特点在于将双频激光束射入第一个双折射分光元件分成夹有一小角度的两束光，再经过第二个双折射分光元件变成平行光束，经反射体反射按原路返回，由光电接收器接收，做为测量信号，相位计将双频激光参考信号与测量信号进行比相，得到位移量。本发明有利于克服空气干扰的影响，不但能进行连续测量，也能进行断续测量，在实际工程的精密测量中有广泛的应用前景。