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公开(公告)号：CN118040530A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202311845490.0
申请日：2023-12-28
Abstract: 本发明公开了一种适用于直流GIL的竖直挡板型提上式微粒陷阱，包括金属筒壳。所述金属筒壳用于与直流GIL不接触地安装在所述直流GIL内且靠近绝缘子；所述金属筒壳的下半侧部上设有沿周向和轴向间隔的多个陷阱孔，每个所述陷阱孔靠近所述绝缘子的一侧设有竖直挡板，所述竖直挡板位于所述金属筒壳内。本发明可以保证直流GIL长期稳定运行，避免金属微粒运动到绝缘子附近。
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公开(公告)号：CN118566655A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410491190.5
申请日：2024-04-23
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及特高压直流输电设备状态评估、绝缘微缺陷检测技术领域，特别涉及一种GIS/GIL微缺陷离线检测方法及装置，其中，方法包括：对待测绝缘件试样施加测试交流电，并将测试交流电的电压作为触发源触发待测绝缘件试样，以诱发待测绝缘件试样的电致发光信息；基于电致发光信息，利用光子计算探头测量预设时间段内待测绝缘件试样的光子计数数据；根据光子计数数据判断待测绝缘件试样是否存在缺陷。由此，解决了传统的GIS/GIL缺陷检测方法多以局放相关技术实现，受现场电磁、震动噪声干扰且不能识别内部达不到放电条件，难以满足GIS/GIL缺陷高精度检测的要求等问题。
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公开(公告)号：CN118566654A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410484367.9
申请日：2024-04-22
Applicant: 清华大学
IPC: G01R31/12
Abstract: 本申请提出用于缺陷检测的电致发光光子计数相位解析方法及系统，所述方法包括：对待测绝缘件试样施加测试交流电，并以所述交流电的电压作为触发源触发绝缘件试样，以诱发所述绝缘件试样产生电致发光信息；基于所述电致发光信息并利用光子计数测量装置测量预设时长的各周期内所述绝缘件试样的光子计数数据；根据所述预设时长的各周内所述绝缘件试样的光子计数数据确定所述绝缘件试样在预设时长内的相位解析模式图谱。本申请提出的技术方案，不受现场电磁、震动噪声干扰并能识别内部缺陷放电发展早期劣化信息，进而可以精确的提取出绝缘件试样在预设时长内的相位解析模式图谱，进而促进特高压直流输电设备缺陷早期预警及微缺陷检测研究水平。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117949790A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410222829.X
申请日：2024-02-28
Applicant: 清华大学
IPC: G01R31/12
Abstract: 本申请涉及高压输电设备状态评估技术领域，特别涉及一种基于光子计数的绝缘拉杆微缺陷检测装置及方法，装置包括：绝缘拉杆耐压夹具、电源供给组件、检测组件和处理组件，其中，电源供给组件用于提供满足预设电压强度的运行电场；检测组件用于检测待测GIS绝缘拉杆电致发光阶段输出的光脉冲；处理组件用于分析预设积分时间内光脉冲的输出个数，并在满足预设稳态条件时，控制绝缘拉杆耐压夹具带动待测GIS绝缘拉杆旋转，根据不同角度光脉冲的输出个数确定缺陷角度，控制检测组件移动对待测GIS绝缘拉杆进行微缺陷定位。由此，解决了灯光试验费时费力、工频耐压测试及局部放电测试难以检测微缺陷且过程繁琐的问题。
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公开(公告)号：CN119394889A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202411314901.8
申请日：2024-09-20
IPC: G01N15/1434 , G01R31/12 , G01N15/14 , G01R1/04 , G01R1/02
Abstract: 本申请涉及金属异物检测技术领域，特别涉及一种GIS内部金属微粉检测装置的检测方法和系统，方法包括：在预设遮光条件下向GIS设备的腔体内充入预设气体，并向腔体施加预设电压，在预设时间后检测腔体内处于稳定状态下光子信号的数量；按照预设升压策略向腔体施加电压，利用光子计数探头和光子计数单元检测腔体内当前光子信号的数量；若所当前光子信号的数量大于处于稳定状态下光子信号的数量，则判定腔体内存在处于运动状态的金属微粉。由此，解决了大部分常规的局部放电测量金属微粉的方法受环境噪声影响较大且难以检测处于运动状态的金属微粉等问题，能够检测和分析金属微粉引发的微弱光信号，具有抗电磁干扰性强、绝缘性强和灵敏度高等优点。
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公开(公告)号：CN119666706A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411318110.2
申请日：2024-09-20
IPC: G01N15/1434 , G01R31/12 , G01N15/14 , G01R1/28
Abstract: 本申请涉及一种基于光子‑相位技术的GIS金属异物识别方法及装置，方法利用光子计数检测系统，光子计数检测系统包括依次并联的光子计数平台、局放传感器、无局放交流激励源、与光子计数平台和局放传感器相连的数据采集件和与数据采集件相连的数据处理件，方法包括：利用光子计数检测系统获取当前金属异物的光子脉冲数据；对当前金属异物的光子脉冲数据进行相位解析，得到当前金属异物的光子计数相位解析谱图；基于光子计数相位解析谱图提取当前金属异物的特征参量，并将当前金属异物的特征参量输入至预先训练的金属异物识别模型，得到当前金属异物的类型。由此，解决了相关技术受环境影响较大等问题，实现了对未知金属异物的精确识别。
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公开(公告)号：CN117991053A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202311845520.8
申请日：2023-12-28
IPC: G01R31/12
Abstract: 本申请涉及高压直流输电设备运行维护技术领域，特别涉及一种金属微粒诱导击穿闪络试验平台、评估方法及存储介质，其中，包括：激励源；气密装置的本体上设置有观察窗，气密装置内设置有直流气体绝缘输电管道GIL模型，GIL模型内布置有高压导体和金属微粒，激励源与气密装置的高压端相连，高压端与高压导体相连；采集件，用于通过观察窗采集金属微粒造成的闪络与击穿电压信息；计算机，用于根据试验任务控制激励源对GIL模型施加激励，并提取金属微粒造成的闪络与击穿电压信息的特征数值，根据特征数值对GIL模型内金属微粒进行危害性评估得到评估结果。由此，解决了相关技术中无法有效评估GIL中金属微粒的微粒危害性等问题。
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公开(公告)号：CN118566653A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410484366.4
申请日：2024-04-22
Applicant: 清华大学
IPC: G01R31/12
Abstract: 本申请提出基于相位解析光子计数的GIS/GIL微缺陷在线监测方法及系统，所述方法包括：对带电运行的GIS/GIL包含绝缘件的分段施加测试交流电，并以所述交流电的电压作为触发源触发分段内绝缘件，以诱发所述分段内绝缘件产生电致发光信息；根据所述电致发光信息，并利用光子计数测量装置测量预设时长的各周期内所述分段内绝缘件的光子计数数据；根据所述预设时长的各周内所述分段内绝缘件的光子计数数据判断所述分段内绝缘件是否存在缺陷。本申请提出的技术方案，不受现场电磁、震动噪声干扰且能识别内部达不到放电条件的微缺陷，对于特高压直流输电设备缺陷早期预警、降低故障概率、提升运行安全性具有重大意义。
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