一种光纤激光器系统及激光产生方法

    公开(公告)号:CN111293580A

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN201811506504.5

    申请日:2018-12-10

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供了一种光纤激光器系统及激光产生方法,包括:一个或多个泵浦源、谐振腔、一段高光束质量增益光纤和一段高吸收增益光纤;其中,所述一个或多个泵浦源的输出端与所述谐振腔的输入端连接;所述高光束质量增益光纤设置在所述谐振腔内,且所述高光束质量增益光纤的的两端分别与所述谐振腔的输入端和所述谐振腔的输出端连接;所述高吸收增益光纤的一端与所述谐振腔的输出端连接。通过在谐振腔内设置高光束质量光纤,在谐振腔的输出端连接高吸收增益光纤,在不增加光纤长度的情况下显著提升谐振腔前注入的泵浦光的转化效率,并能够比使用现有的光纤振荡器实现更高的泵浦光转化效率以及更低的放大自发辐射效应,并能同时保持极高的光束质量。

    光纤中微结构的产生方法及系统

    公开(公告)号:CN111069778A

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201811217852.0

    申请日:2018-10-18

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明实施例提供了一种光纤中微结构的产生方法及系统,通过目标光纤传输目标激光与外部加热相结合,使得目标光纤上预设位置处的光纤物质在被加热处对目标激光产生所需程度的吸收,从而实现目标激光对目标光纤的加工,在被加热处附近产生原本不存在于目标光纤中的微结构。本发明实施例中提供的光纤上微结构的产生方法极大地简化了传统的光纤上产生微结构的方法,提升了目标光纤中目标微结构的生产效率和生产质量。

    激光测距系统及方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107843901B

    公开(公告)日:2019-11-26

    申请号:CN201711021037.2

    申请日:2017-10-26

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种激光测距系统及方法,包括:激光发射模块、发射接收共光路模块、激光接收模块和计算模块,发射接收共光路模块包括第一传输通道和第二传输通道,发射接收共光路模块,用于根据激光发射模块发射的初始激光信号,获得宽谱光源,通过第一传输通道使宽谱光源照射到所述待测物体上,并通过第二传输通道接收宽谱光源照射到待测物体上后反射回来的反射激光信号;计算模块,用于计算待测物体与激光测距系统的距离。本发明利用光纤的纤细特点,同时利用同一光纤中两条激光传输通道,实现发射和接收共光路测距,而无需使用多根光纤,极大地压缩了激光测距系统的探头所占体积,使探头更灵活,且具有较好的隐秘性。

    一种光纤检测系统及方法

    公开(公告)号:CN108225732A

    公开(公告)日:2018-06-29

    申请号:CN201711473548.8

    申请日:2017-12-29

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明实施例提供了一种光纤检测系统及方法,所述方法包括:控制所述激光器的输出功率和所述加热器的加热温度,当所述待检测光纤中自发发生熔丝损伤时,获取所述光功率计的读数和所述温度传感器的读数。通过控制待检测光纤中的光纤内的光功率和光纤的温度,使得待检测光纤中自发发生熔丝损伤,并获取待检测光纤熔丝损伤自发发生时的光纤内的光功率和光纤的温度,即获取了待检测光纤中熔丝损伤自发发生的功率和温度条件,根据待检测光纤中熔丝损伤发生的具体条件可以进一步指导待检测光纤的使用,延长光纤的使用寿命。

    激光测距系统及方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107843901A

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201711021037.2

    申请日:2017-10-26

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种激光测距系统及方法,包括:激光发射模块、发射接收共光路模块、激光接收模块和计算模块,发射接收共光路模块包括第一传输通道和第二传输通道,发射接收共光路模块,用于根据激光发射模块发射的初始激光信号,获得宽谱光源,通过第一传输通道使宽谱光源照射到所述待测物体上,并通过第二传输通道接收宽谱光源照射到待测物体上后反射回来的反射激光信号;计算模块,用于计算待测物体与激光测距系统的距离。本发明利用光纤的纤细特点,同时利用同一光纤中两条激光传输通道,实现发射和接收共光路测距,而无需使用多根光纤,极大地压缩了激光测距系统的探头所占体积,使探头更灵活,且具有较好的隐秘性。

    一种高功率光纤激光产生装置及其方法

    公开(公告)号:CN111463649B

    公开(公告)日:2021-02-12

    申请号:CN202010163080.8

    申请日:2020-03-10

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种高功率光纤激光产生装置及其方法,该装置包括:至少一个光纤激光发生组;每个光纤激光发生组包括在光路上依次设置的光纤激光器、光栅和色镜组构成;光纤激光器为多个,是在预设中心波长范围内,按照每隔预设波长间隔选取一台的方式选取的,每个激光光束相平行;光栅用于对激光光束进行合束,生成一级光束;色镜组用于将所有一级光束合束为高功率光纤激光。本实施例通过拉曼增益对激光子光束光谱波段进行逐级拓展,极大地增加合成路数,可将合成的光谱范围从现有不到一百纳米拓展到数百纳米甚至千纳米,合成路数从现有的百路提升到数百路甚至千路,在光纤激光子光束的功率充分提升的情况下,能够创造出极高功率的合成光束。

    一种高功率光纤激光产生装置及其方法

    公开(公告)号:CN111463649A

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN202010163080.8

    申请日:2020-03-10

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种高功率光纤激光产生装置及其方法,该装置包括:至少一个光纤激光发生组;每个光纤激光发生组包括在光路上依次设置的光纤激光器、光栅和色镜组构成;光纤激光器为多个,是在预设中心波长范围内,按照每隔预设波长间隔选取一台的方式选取的,每个激光光束相平行;光栅用于对激光光束进行合束,生成一级光束;色镜组用于将所有一级光束合束为高功率光纤激光。本实施例通过拉曼增益对激光子光束光谱波段进行逐级拓展,极大地增加合成路数,可将合成的光谱范围从现有不到一百纳米拓展到数百纳米甚至千纳米,合成路数从现有的百路提升到数百路甚至千路,在光纤激光子光束的功率充分提升的情况下,能够创造出极高功率的合成光束。

    一种光纤激光器系统及激光产生方法

    公开(公告)号:CN111293580B

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN201811506504.5

    申请日:2018-12-10

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供了一种光纤激光器系统及激光产生方法,包括:一个或多个泵浦源、谐振腔、一段高光束质量增益光纤和一段高吸收增益光纤;其中,所述一个或多个泵浦源的输出端与所述谐振腔的输入端连接;所述高光束质量增益光纤设置在所述谐振腔内,且所述高光束质量增益光纤的的两端分别与所述谐振腔的输入端和所述谐振腔的输出端连接;所述高吸收增益光纤的一端与所述谐振腔的输出端连接。通过在谐振腔内设置高光束质量光纤,在谐振腔的输出端连接高吸收增益光纤,在不增加光纤长度的情况下显著提升谐振腔前注入的泵浦光的转化效率,并能够比使用现有的光纤振荡器实现更高的泵浦光转化效率以及更低的放大自发辐射效应,并能同时保持极高的光束质量。

    光纤中微结构的产生方法及系统

    公开(公告)号:CN111069778B

    公开(公告)日:2020-12-15

    申请号:CN201811217852.0

    申请日:2018-10-18

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明实施例提供了一种光纤中微结构的产生方法及系统,通过目标光纤传输目标激光与外部加热相结合,使得目标光纤上预设位置处的光纤物质在被加热处对目标激光产生所需程度的吸收,从而实现目标激光对目标光纤的加工,在被加热处附近产生原本不存在于目标光纤中的微结构。本发明实施例中提供的光纤上微结构的产生方法极大地简化了传统的光纤上产生微结构的方法,提升了目标光纤中目标微结构的生产效率和生产质量。

    一种光纤检测系统及方法
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108225732B

    公开(公告)日:2019-11-22

    申请号:CN201711473548.8

    申请日:2017-12-29

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明实施例提供了一种光纤检测系统及方法,所述方法包括:控制所述激光器的输出功率和所述加热器的加热温度,当所述待检测光纤中自发发生熔丝损伤时,获取所述光功率计的读数和所述温度传感器的读数。通过控制待检测光纤中的光纤内的光功率和光纤的温度,使得待检测光纤中自发发生熔丝损伤,并获取待检测光纤熔丝损伤自发发生时的光纤内的光功率和光纤的温度,即获取了待检测光纤中熔丝损伤自发发生的功率和温度条件,根据待检测光纤中熔丝损伤发生的具体条件可以进一步指导待检测光纤的使用,延长光纤的使用寿命。

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