公开(公告)号：CN102743184A

公开(公告)日：2012-10-24

申请号：CN201210148432.8

申请日：2012-05-14

Applicant: 清华大学

Inventor： 王广志 ,  王梦蛟 ,  丁辉

IPC: A61B6/03 ,  G01N23/04 ,  G03B42/02

Abstract: 本发明是一种X射线锥束计算机层析成像系统的几何参数标定方法，属于X射线锥形束计算机层析成像系统（简称锥束CT）领域，本发明通过相机标定技术来复现锥束CT系统中的X射线源、平板探测器和转轴之间的几何位置关系，从而对锥束CT的几何参数及其误差进行直接求解，是一种系统化的测量求解方法，可以将锥束CT抽象为基本的相机系统模型，从而同时求解系统中相互关联的多个几何参数，与现有标定方法相比，不需要逐个测量几何参数和逐个参数地反复调整，这样就大大简化了整个系统的标定测量的复杂程度，同时也提高了锥束CT几何标定的稳定性。

公开(公告)号：CN102743184B

公开(公告)日：2013-10-16

申请号：CN201210148432.8

申请日：2012-05-14

Applicant: 清华大学

Inventor： 王广志 ,  王梦蛟 ,  丁辉

IPC: A61B6/03 ,  G01N23/04 ,  G03B42/02

Abstract: 本发明是一种X射线锥束计算机层析成像系统的几何参数标定方法，属于X射线锥形束计算机层析成像系统（简称锥束CT）领域，本发明通过相机标定技术来复现锥束CT系统中的X射线源、平板探测器和转轴之间的几何位置关系，从而对锥束CT的几何参数及其误差进行直接求解，是一种系统化的测量求解方法，可以将锥束CT抽象为基本的相机系统模型，从而同时求解系统中相互关联的多个几何参数，与现有标定方法相比，不需要逐个测量几何参数和逐个参数地反复调整，这样就大大简化了整个系统的标定测量的复杂程度，同时也提高了锥束CT几何标定的稳定性。