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公开(公告)号：CN111619117A
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN202010425688.3
申请日：2020-05-19
IPC: B29C64/386 , B33Y50/00
Abstract: 本发明涉及一种用于激光净成形中结合有限元实现应力原位测量的基板，属于增材制造中原位监测技术领域。该基板包括基板本体、镜面反射片和反射片定位螺栓；基板本体的四周加工有基板固定翼，基板本体的上表面为制造面，下表面为测量面，测量面上加工有螺纹点阵孔，反射片定位螺栓与测量面螺纹点阵孔相互配合，镜面反射片固定在反射片定位螺栓的端部。本发明的基板中，使用镜面反射片代替已有技术中的基板测量面的抛光处理，可以根据测量需要调整基板变形监测的区域。将基板上制造的零件切离基板后、原位监测前，只要重新更换镜面反射片即可满足相干梯度测量系统的要求，节约了经济成本和时间成本。
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公开(公告)号：CN110672027A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201910937847.5
申请日：2019-09-30
Applicant: 清华大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明涉及一种基于相干梯度敏感干涉的条纹自动处理装置，属于全场干涉类光学测量技术领域。本发明装置利用不同折射率对光程和传播方向的影响，在两个光栅之间安装两个楔形透明介质，通过移动两个透明介质的相对位置来实现调控经过这两个透明介质的光的光程差，光束在条纹自动处理装置中传播时，通过同步调整两个旋转介质之间的距离和两个固定介质之间的距离，即可实现条纹的自动处理。本发明可精准有效地控制相干梯度敏感干涉测量中的光程差，提高相干梯度敏感干涉方法的测量精度。此外，本发明还解决了在使用相干梯度敏感干涉方法同时测量两个方向的变形梯度时实现同步自动处理条纹的难题。
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公开(公告)号：CN113295105B
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202110488756.5
申请日：2021-05-06
Applicant: 清华大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明属于全场干涉类光学测量技术领域，涉及一种空间载波调制装置。本发明装置利用折射率对传播方向的影响，在两个光栅之间安装两个楔形透明介质，通过改变两个透明介质的相对位置来实现调控经过这两个透明介质的光的光程差空间分布，进而实现空间载波调制。本发明可有效地实现在测量光路中施加沿着剪切方向的线性的光程差，解决了CGS方法在测量过程中无法施加载波的技术难题，提高了测量精度和效率。本发明装置通过调整楔形棱镜的倾斜角度来实现施加空间载波，其结构简单，原理简明，且不需要改变原有测量系统光路布置，操作简易，而且适用范围广、经济成本低。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113770389A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202110977214.4
申请日：2021-08-24
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明提出一种定向能量沉积设备，包括：支撑平台；熔覆机械臂；和至少一个检测装置，检测装置包括检测单元，检测单元包括：相机，相机包括机身和镜头组件，镜头组件包括镜筒、防护镜、透镜、截止滤光片和用于透射具有第一波长的光线的窄带滤光片，镜筒设在机身上，防护镜、截止滤光片、窄带滤光片和透镜从物侧起依次设在镜筒内；和补强光源，补强光源能够发射具有第一波长的光线，其中支撑平台和熔覆机械臂中的至少一者上设有检测装置。因此，根据本发明实施例的定向能量沉积设备具有便于采集到清晰无噪声、高信噪比的图像，从而便于研究定向能量沉积工艺并可实时做出调整的优点。
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公开(公告)号：CN113295105A
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN202110488756.5
申请日：2021-05-06
Applicant: 清华大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明属于全场干涉类光学测量技术领域，涉及一种空间载波调制装置。本发明装置利用折射率对传播方向的影响，在两个光栅之间安装两个楔形透明介质，通过改变两个透明介质的相对位置来实现调控经过这两个透明介质的光的光程差空间分布，进而实现空间载波调制。本发明可有效地实现在测量光路中施加沿着剪切方向的线性的光程差，解决了CGS方法在测量过程中无法施加载波的技术难题，提高了测量精度和效率。本发明装置通过调整楔形棱镜的倾斜角度来实现施加空间载波，其结构简单，原理简明，且不需要改变原有测量系统光路布置，操作简易，而且适用范围广、经济成本低。
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公开(公告)号：CN111619117B
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN202010425688.3
申请日：2020-05-19
IPC: B29C64/386 , B33Y50/00
Abstract: 本发明涉及一种用于激光净成形中结合有限元实现应力原位测量的基板，属于增材制造中原位监测技术领域。该基板包括基板本体、镜面反射片和反射片定位螺栓；基板本体的四周加工有基板固定翼，基板本体的上表面为制造面，下表面为测量面，测量面上加工有螺纹点阵孔，反射片定位螺栓与测量面螺纹点阵孔相互配合，镜面反射片固定在反射片定位螺栓的端部。本发明的基板中，使用镜面反射片代替已有技术中的基板测量面的抛光处理，可以根据测量需要调整基板变形监测的区域。将基板上制造的零件切离基板后、原位监测前，只要重新更换镜面反射片即可满足相干梯度测量系统的要求，节约了经济成本和时间成本。
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公开(公告)号：CN110672027B
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN201910937847.5
申请日：2019-09-30
Applicant: 清华大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明涉及一种基于相干梯度敏感干涉的条纹自动处理装置，属于全场干涉类光学测量技术领域。本发明装置利用不同折射率对光程和传播方向的影响，在两个光栅之间安装两个楔形透明介质，通过移动两个透明介质的相对位置来实现调控经过这两个透明介质的光的光程差，光束在条纹自动处理装置中传播时，通过同步调整两个旋转介质之间的距离和两个固定介质之间的距离，即可实现条纹的自动处理。本发明可精准有效地控制相干梯度敏感干涉测量中的光程差，提高相干梯度敏感干涉方法的测量精度。此外，本发明还解决了在使用相干梯度敏感干涉方法同时测量两个方向的变形梯度时实现同步自动处理条纹的难题。
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公开(公告)号：CN210486808U
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201921667890.6
申请日：2019-09-30
Applicant: 清华大学
Abstract: 本实用新型涉及一种针对镜面表面变形梯度的双方向同步在线测量系统，属于全场干涉类光学测量技术领域。本实用新型的双方向同步在线测量系统，采用分光棱镜、反射镜对光路进行改进，可实现两个方向的变形梯度同步测量，解决了在使用相干梯度敏感干涉方法同时测量任意两个方向的变形梯度问题。采用反射式干涉原理，可有效地对镜面表面的变形梯度实现在线测量，进一步基于两个变形梯度的数据，得到镜面表面的形貌。本实用新型的双方向同步在线测量系统，采用了一体化、小型化设计理念，装置结构简单，因此设备成本低，使用时操作简易。
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