片上传输线特性的测试方法、装置、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN113590476A

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN202110798979.1

    申请日:2021-07-15

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 张雷 张卫东

    Abstract: 本申请属于电路去嵌入技术领域,尤其涉及片上传输线特性的测试方法、装置、电子设备和存储介质。首先确定插值节点和测试频点,构建两个去嵌入测试结构件,得到两个去嵌入测试结构件的散射矩阵,将散射矩阵换为传输矩阵:根据传输矩阵,得到去嵌入测试结构件左、右测试信号引脚的传输矩阵,对该传输矩阵进行处理,得到待测传输线的散射矩阵,经拟合处理,得到散射矩阵的极点‑留数模型;利用该模型得到片上传输线的性能。根据本公开的实施例,在一定数量去嵌入测试结构下,实现了传输线在长度一定变化范围之内的去嵌入,克服了传统“L‑2L”传输线去嵌入方法去嵌入效率低以及成本高的问题,极大地提高了传输线长度变化下的去嵌入效率。

    一种片上器件特性的测试方法

    公开(公告)号:CN113343472B

    公开(公告)日:2022-07-01

    申请号:CN202110682987.X

    申请日:2021-06-21

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 张雷 张卫东

    Abstract: 本发明属于电路去嵌入技术领域,涉及一种片上器件特性的测试方法。本发明测试方法,通过引入重心插值算法,建立了器件关于某一结构参数的参数化去嵌入模型。通过所建立的参数化去嵌入模型可快速得到不同结构参数取值下被试器件的散射参数,在少量测试次数下,实现被测器件在结构参数一定变化范围之内的特性,克服了传统TRL去嵌入效率低以及成本高的问题,极大地提高了被测器件在结构参数变化下的去嵌入效率,降低了测试成本。本发明方法特别适用于微波毫米波电路中片上器件特性的去嵌入测试。

    一种片上器件特性的测试方法

    公开(公告)号:CN113343472A

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202110682987.X

    申请日:2021-06-21

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 张雷 张卫东

    Abstract: 本发明属于电路去嵌入技术领域,涉及一种片上器件特性的测试方法。本发明测试方法,通过引入重心插值算法,建立了器件关于某一结构参数的参数化去嵌入模型。通过所建立的参数化去嵌入模型可快速得到不同结构参数取值下被试器件的散射参数,在少量测试次数下,实现被测器件在结构参数一定变化范围之内的特性,克服了传统TRL去嵌入效率低以及成本高的问题,极大地提高了被测器件在结构参数变化下的去嵌入效率,降低了测试成本。本发明方法特别适用于微波毫米波电路中片上器件特性的去嵌入测试。

    一种基于场路协同的太赫兹功率放大器电路设计方法

    公开(公告)号:CN110348047A

    公开(公告)日:2019-10-18

    申请号:CN201910466516.8

    申请日:2019-05-31

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 张雷 张卫东

    Abstract: 本发明涉及一种基于场路协同的太赫兹功率放大器电路设计方法,属于太赫兹电路设计技术领域。该方法为了提高太赫兹功率放大器电路版图的设计效率,通过引入重心插值算法建立了太赫兹功率放大器电路版图中元件的参数化模型。通过所建立的参数化模型可快速得到元件的不同设计变量取值下的等效端口网络模型,缩短了场路协同的仿真时间,达到了提高版图设计效率的目的。本发明方法主要适用于太赫兹功率放大器电路全版图仿真设计。

    片上传输线特性的测试方法、装置、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN113590476B

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202110798979.1

    申请日:2021-07-15

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 张雷 张卫东

    Abstract: 本申请属于电路去嵌入技术领域,尤其涉及片上传输线特性的测试方法、装置、电子设备和存储介质。首先确定插值节点和测试频点,构建两个去嵌入测试结构件,得到两个去嵌入测试结构件的散射矩阵,将散射矩阵换为传输矩阵:根据传输矩阵,得到去嵌入测试结构件左、右测试信号引脚的传输矩阵,对该传输矩阵进行处理,得到待测传输线的散射矩阵,经拟合处理,得到散射矩阵的极点‑留数模型;利用该模型得到片上传输线的性能。根据本公开的实施例,在一定数量去嵌入测试结构下,实现了传输线在长度一定变化范围之内的去嵌入,克服了传统“L‑2L”传输线去嵌入方法去嵌入效率低以及成本高的问题,极大地提高了传输线长度变化下的去嵌入效率。

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