离子阱质谱仪质量精度校准方法、装置、电子设备及介质

    公开(公告)号:CN117995645A

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202410301155.2

    申请日:2024-03-15

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本申请涉及离子阱质谱仪技术领域,特别涉及一种离子阱质谱仪质量精度校准方法、装置、电子设备及介质,其中,方法包括:获取质荷比参考样品;将质荷比参考样品输入标定完成的离子阱质谱仪,在不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下采集标定完成的离子阱质谱仪的质荷比;根据不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下的质荷比生成曲面拟合函数,利用曲面拟合函数对目标离子阱质谱仪进行质量精度校准。由此,解决了相关技术中对质荷比拟合过程中部分误差无法消除,导致离子阱质谱仪质量校准精度较低等问题。

    多级串联离子阱质谱仪、阵列、控制方法、设备及介质

    公开(公告)号:CN118443771A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410336238.5

    申请日:2024-03-22

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本申请涉及离子阱质谱仪技术领域,特别涉及一种多级串联离子阱质谱仪、阵列、控制方法、设备及介质,其中,多级串联离子阱质谱仪包括:多个腔体;多级串联离子阱,其中,多个腔体与多级串联离子阱一一对应;多个检测器,其中,多个检测器与多级串联离子阱一一对应,每个检测器用于检测对应离子阱中的离子信号;每个离子阱前后设置的离子门,控制离子阱中离子进出,通过控制离子门开闭,实现每个离子阱独立工作或多级串联离子阱协调工作。由此,解决了相关技术中串联离子阱质谱仪系统独立性较差,无法同时工作,导致检测速度较慢等问题。

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