样本分析设备、方法和存储介质

    公开(公告)号:CN110320318B

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN201810276341.X

    申请日:2018-03-30

    Abstract: 本申请涉及一种样本分析设备、方法和存储介质。所述设备包括:测定机构,用于对样本进行测试,所述样本包括质控品和/或校准品;存储器,用于保存样本的信息,保存样本承托机构上的样本位的信息,并保存样本与样本位的关联关系;处理器,用于当接收到位置设置指令,调用位置设置交互界面,通过所述位置设置交互界面获取为样本指定的样本位的信息,所述位置设置交互界面被配置为允许至少两个样本被指定同一个样本位,将样本与指定的样本位的关联关系保存到所述存储器中;还用于当接收到测试申请指令,控制所述测定机构对所述测试申请指令指示的样本位上放置的样本进行测试。采用本设备能够提高用户的操作效率。

    样本分析设备、方法和存储介质

    公开(公告)号:CN110320318A

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201810276341.X

    申请日:2018-03-30

    Abstract: 本申请涉及一种样本分析设备、方法和存储介质。所述设备包括:测定机构,用于对样本进行测试,所述样本包括质控品和/或校准品;存储器,用于保存样本的信息,保存样本承托机构上的样本位的信息,并保存样本与样本位的关联关系;处理器,用于当接收到位置设置指令,调用位置设置交互界面,通过所述位置设置交互界面获取为样本指定的样本位的信息,所述位置设置交互界面被配置为允许至少两个样本被指定同一个样本位,将样本与指定的样本位的关联关系保存到所述存储器中;还用于当接收到测试申请指令,控制所述测定机构对所述测试申请指令指示的样本位上放置的样本进行测试。采用本设备能够提高用户的操作效率。

    参考物质位置分配方法及样本分析系统

    公开(公告)号:CN112394185B

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN201910765578.9

    申请日:2019-08-19

    Inventor: 邓美清

    Abstract: 本发明具体涉及一种参考物质位置分配方法及样本分析系统,本发明提供的参考物质位置分配方法,包括:获取预设的待分配位置的参考物质的信息,待分配位置的参考物质的信息包括参考物质的类型;接收为待分配位置的参考物质分配位置的指令;根据参考物质的类型为待分配位置的参考物质选择相应类型的试管架;获取与待分配位置的参考物质类型对应的试管架上试管位的占用信息,占用信息包括:被占用和空闲;为每个待分配位置的参考物质分配空闲的试管位,建立参考物质与试管位的位置信息的对应关系,位置信息包括:试管架标识和试管位编号;本发明提供的参考物质位置分配方法能够自动为参考物质分配位置,无须人工手动分配位置,操作简便,使用方便。

    参考物质位置分配方法及样本分析系统

    公开(公告)号:CN112394185A

    公开(公告)日:2021-02-23

    申请号:CN201910765578.9

    申请日:2019-08-19

    Inventor: 邓美清

    Abstract: 本发明具体涉及一种参考物质位置分配方法及样本分析系统,本发明提供的参考物质位置分配方法,包括:获取预设的待分配位置的参考物质的信息,待分配位置的参考物质的信息包括参考物质的类型;接收为待分配位置的参考物质分配位置的指令;根据参考物质的类型为待分配位置的参考物质选择相应类型的试管架;获取与待分配位置的参考物质类型对应的试管架上试管位的占用信息,占用信息包括:被占用和空闲;为每个待分配位置的参考物质分配空闲的试管位,建立参考物质与试管位的位置信息的对应关系,位置信息包括:试管架标识和试管位编号;本发明提供的参考物质位置分配方法能够自动为参考物质分配位置,无须人工手动分配位置,操作简便,使用方便。

Patent Agency Ranking