参考物质位置设置方法、数据管理设备及存储介质

    公开(公告)号:CN112415213A

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN201910775205.X

    申请日:2019-08-21

    Inventor: 甘云 韩宝靖

    Abstract: 本发明实施例公开了一种参考物质位置设置方法,所述方法包括:接收参考物质的信息,所述参考物质的信息包括:参考物质的类型和参考物质的名称;所述参考物质为质控品或校准品;展示与所述参考物质的类型相应的参考物质存放位的位置分布图,并在所述位置分布图上的所述参考物质存放位展示用于指示相应参考物质存放位是否被占用的标识;如果未被占用的参考物质存放位被选中,则为所述参考物质分配被选中的参考物质存放位。本发明实施例还公开了一种数据管理设备及存储介质。

    样本分析设备、方法和存储介质

    公开(公告)号:CN110320318B

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN201810276341.X

    申请日:2018-03-30

    Abstract: 本申请涉及一种样本分析设备、方法和存储介质。所述设备包括:测定机构,用于对样本进行测试,所述样本包括质控品和/或校准品;存储器,用于保存样本的信息,保存样本承托机构上的样本位的信息,并保存样本与样本位的关联关系;处理器,用于当接收到位置设置指令,调用位置设置交互界面,通过所述位置设置交互界面获取为样本指定的样本位的信息,所述位置设置交互界面被配置为允许至少两个样本被指定同一个样本位,将样本与指定的样本位的关联关系保存到所述存储器中;还用于当接收到测试申请指令,控制所述测定机构对所述测试申请指令指示的样本位上放置的样本进行测试。采用本设备能够提高用户的操作效率。

    参考物质位置设置方法、数据管理设备及存储介质

    公开(公告)号:CN112415213B

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN201910775205.X

    申请日:2019-08-21

    Inventor: 甘云 韩宝靖

    Abstract: 本发明实施例公开了一种参考物质位置设置方法,所述方法包括:接收参考物质的信息,所述参考物质的信息包括:参考物质的类型和参考物质的名称;所述参考物质为质控品或校准品;展示与所述参考物质的类型相应的参考物质存放位的位置分布图,并在所述位置分布图上的所述参考物质存放位展示用于指示相应参考物质存放位是否被占用的标识;如果未被占用的参考物质存放位被选中,则为所述参考物质分配被选中的参考物质存放位。本发明实施例还公开了一种数据管理设备及存储介质。

    样本分析设备、方法和存储介质

    公开(公告)号:CN110320318A

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201810276341.X

    申请日:2018-03-30

    Abstract: 本申请涉及一种样本分析设备、方法和存储介质。所述设备包括:测定机构,用于对样本进行测试,所述样本包括质控品和/或校准品;存储器,用于保存样本的信息,保存样本承托机构上的样本位的信息,并保存样本与样本位的关联关系;处理器,用于当接收到位置设置指令,调用位置设置交互界面,通过所述位置设置交互界面获取为样本指定的样本位的信息,所述位置设置交互界面被配置为允许至少两个样本被指定同一个样本位,将样本与指定的样本位的关联关系保存到所述存储器中;还用于当接收到测试申请指令,控制所述测定机构对所述测试申请指令指示的样本位上放置的样本进行测试。采用本设备能够提高用户的操作效率。

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