公开(公告)号：CN111999229B

公开(公告)日：2022-09-06

申请号：CN202010855415.2

申请日：2020-08-24

Applicant: 海南大学

Inventor： 崔洁 ,  李平 ,  张友良 ,  江权 ,  刘国锋

IPC: G01N15/08 ,  G01N3/12 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明公开了孔隙结构试样表层孔隙识别装置及使用方法及修补方法，该识别装置包括检测模块和试样安装模块，所述检测模块与试样安装模块连接，待检测的试样可转动的安装于试样安装模块，所述检测模块包括电磁升降单元和探针单元，所述探针单元安装于电磁升降单元。通过电磁升降单元带动探针单元上下移动，同时试样在试样安装模块上旋转，从而可以对试样进行全方位的检测和识别。

公开(公告)号：CN111999229A

公开(公告)日：2020-11-27

申请号：CN202010855415.2

申请日：2020-08-24

Applicant: 海南大学

Inventor： 崔洁 ,  李平 ,  张友良 ,  江权 ,  刘国锋

IPC: G01N15/08 ,  G01N3/12 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明公开了孔隙结构试样表层孔隙识别装置及使用方法及修补方法，该识别装置包括检测模块和试样安装模块，所述检测模块与试样安装模块连接，待检测的试样可转动的安装于试样安装模块，所述检测模块包括电磁升降单元和探针单元，所述探针单元安装于电磁升降单元。通过电磁升降单元带动探针单元上下移动，同时试样在试样安装模块上旋转，从而可以对试样进行全方位的检测和识别。