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公开(公告)号：CN110785679B
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN201880041442.7
申请日：2018-06-19
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor： 大田良亮
Abstract: 由排列成一维或二维并且分别根据光的入射而生成检测信号的N个光检测像素(52)和输出在N个光检测像素(52)的各个中生成的检测信号(S0)的单一输出端子(16)构成光检测器(50)。N个光检测像素(52)的各个具有以盖革模式工作的雪崩光电二极管(53)和相对于雪崩光电二极管(53)串联连接的降压电阻(54)，并且N个光检测像素(52)以输出具有互相不同的时间波形的检测信号(S0)的方式构成。由此，在具有多个光检测像素和单一输出端子的结构中，实现了能够适当地判别检测出光的像素的光检测器和光检测装置。
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公开(公告)号：CN110785679A
公开(公告)日：2020-02-11
申请号：CN201880041442.7
申请日：2018-06-19
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor： 大田良亮
Abstract: 由排列成一维或二维并且分别根据光的入射而生成检测信号的N个光检测像素(52)和输出在N个光检测像素(52)的各个中生成的检测信号(S0)的单一输出端子(16)构成光检测器(50)。N个光检测像素(52)的各个具有以盖革模式工作的雪崩光电二极管(53)和相对于雪崩光电二极管(53)串联连接的降压电阻(54)，并且N个光检测像素(52)以输出具有互相不同的时间波形的检测信号(S0)的方式构成。由此，在具有多个光检测像素和单一输出端子的结构中，实现了能够适当地判别检测出光的像素的光检测器和光检测装置。
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公开(公告)号：CN119790323A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202380062666.7
申请日：2023-08-28
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 图像取得装置(1A)具备测定部(10)以及处理部(20)。处理部(20)，对于第一检测器(11)及第二检测器(12)对通过正电子发射核素(81)中的电子/正电子的对湮灭现象而生成的一对伽马射线光子进行同时计数的每个同时计数现象，设来到第一检测器(11)及第二检测器(12)中的一方的伽马射线光子为在被检体(90)内不发生康普顿散射而到来的光子，设来到另一方的伽马射线光子为在被检体(90)内发生康普顿散射后到来的光子，基于由第一检测器(11)及第二检测器(12)各自得到的伽马射线光子的检测位置及检测时刻以及正电子发射核素(81)的位置，求出伽马射线光子在被检体(90)内发生康普顿散射的位置。由此，实现了不进行图像重构处理就能够取得表示被检体的解剖学信息的断层图像的图像取得装置以及图像取得方法。
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公开(公告)号：CN110770605B
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN201880041452.0
申请日：2018-06-19
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor： 大田良亮
Abstract: 本发明的放射线检测装置(1A)，由：闪烁器(11)；检测来自闪烁器(11)的闪烁光，并且输出检测信号的光检测器(15)；比较第一阈值电压(V1)和检测信号，并且输出具有第一时间宽度(T1)的信号的第一比较器(21)；测量第一时间宽度(T1)的第一时间宽度测量器(23)；比较第二阈值电压(V2)和检测信号，并且输出具有第二时间宽度(T2)的信号的第二比较器(22)；测量第二时间宽度(T2)的第二时间宽度测量器(24)；以及基于第一、第二时间宽度(T1、T2)，并且求得表示检测信号的时间波形的时间常数(τ)的解析部(30)构成。由此，实现能够适当地取得、判别从包含闪烁器和光检测器的放射线检测装置输出的检测信号的时间波形信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108885275A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201780018786.1
申请日：2017-04-04
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 放射线位置检测器具备：辐射体，由通过与入射的放射线相互作用而产生切伦科夫光的介质构成；光检测器，具有二维地排列的多个像素，多个像素以与辐射体的规定面对应的方式配置；控制部，基于从光检测器输出的信号，取得检测出切伦科夫光的多个像素的位置信息及其时刻信息，基于所取得的位置信息及时刻信息、以及辐射体中的切伦科夫光的传播轨迹，求出辐射体中的切伦科夫光的产生部位的位置。
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公开(公告)号：CN116547564A
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202180073741.0
申请日：2021-09-03
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01T1/161
Abstract: 本发明的光检测器(4)，具备：半导体光检测元件(6)，其具有二维配置的多个光检测部(10)及读出配线；多个金属透镜(8)，它们配置于半导体光检测元件(6)的表面(6a)上。多个光检测部(10)分别具有：雪崩光电二极管(APD)，其包含第一半导体区域(12)、及与第一半导体区域(12)构成PN结的第二半导体区域(13)；淬灭电阻，其包含与第二半导体区域(13)电连接的一端、及与读出配线电连接的另一端。多个金属透镜(8)分别被二维配置成与多个光检测部(10)分别重叠，以聚光点(S)位于第一半导体区域(12)内的位置即距第一半导体区域(12)和第二半导体区域(13)的边界(15)规定距离(D)的位置的方式，将光(L)进行聚光。
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公开(公告)号：CN110770605A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201880041452.0
申请日：2018-06-19
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor： 大田良亮
Abstract: 本发明的放射线检测装置(1A)，由：闪烁器(11)；检测来自闪烁器(11)的闪烁光，并且输出检测信号的光检测器(15)；比较第一阈值电压(V1)和检测信号，并且输出具有第一时间宽度(T1)的信号的第一比较器(21)；测量第一时间宽度(T1)的第一时间宽度测量器(23)；比较第二阈值电压(V2)和检测信号，并且输出具有第二时间宽度(T2)的信号的第二比较器(22)；测量第二时间宽度(T2)的第二时间宽度测量器(24)；以及基于第一、第二时间宽度(T1、T2)，并且求得表示检测信号的时间波形的时间常数(τ)的解析部(30)构成。由此，实现能够适当地取得、判别从包含闪烁器和光检测器的放射线检测装置输出的检测信号的时间波形信息。
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公开(公告)号：CN117916633A
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202280057053.X
申请日：2022-08-18
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01T1/161
Abstract: 断层图像制作装置(10)包括时间差计算部(12)、信号波形处理部(13)、误差推测部(14)、γ射线对发生位置计算部(15)、图像制作部(16)等。时间差计算部(12)对大量的γ射线对符合计数事件分别求取从信号波形取得部(11)输出的第1信号和第2信号各自的值达到阈值的时刻的时间差(tled)。信号波形处理部(13)将第1信号的波形或第2信号的波形在时间轴方向上向相互靠近的方向相对地移位时间差(tled)。误差推测部(14)基于移位后的第1信号和第2信号各自的波形，利用DNN，推测时间差(tled)所包含的误差(terr)。由此，实现了基于由PET检测器收集的多个γ射线对符合计数事件的信息使用DNN制作受试者的断层图像的装置、即能够容易地使DNN学习的断层图像制作装置。
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