一种基于荧光寿命分布的纳米精度光斑对准方法和装置

    公开(公告)号:CN103543135A

    公开(公告)日:2014-01-29

    申请号:CN201310493645.9

    申请日:2013-10-18

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于荧光寿命分布的纳米精度光斑对准方法,适用于具有脉冲激发光和连续损耗光的STED超分辨显微系统,首先对样品进行横向二维扫描,根据得到荧光寿命分布和荧光光斑进行横向对准,然后对单颗荧光颗粒进行轴向扫描成像,分析带有荧光强度与寿命分布的轴向二维图像,调节连续损耗光的发散度,完成光斑的轴向对准。本发明还公开了一种基于荧光寿命分布的纳米精度光斑对准装置。本发明装置结构简洁,方便快速高精度调整,无需因采用纳米金颗粒而添加额外探测光路;调节精度高,光斑对准精度可达纳米量级。

    基于荧光寿命差分的超分辨显微方法和装置

    公开(公告)号:CN103048299A

    公开(公告)日:2013-04-17

    申请号:CN201210488037.4

    申请日:2012-11-26

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于荧光寿命差分的超分辨显微方法,包括以下步骤:1)将圆偏振光作为激发光束,使用经涡旋位相编码的圆偏振光作为抑制光束,所述激发光束和抑制光束通过大数值孔径显微物镜聚焦并同时对荧光样品进行扫描;2)利用所述大数值孔径显微物镜收集扫描荧光样品发出的荧光,并通过光电感应器件得到整幅荧光强度图像;3)通过分析所述荧光强度图像的荧光强度信息,得到相应的荧光寿命信息;4)设置时间门,对所述荧光寿命信息中的长寿命荧光图像和短寿命荧光图像进行分离;5)设置权值,用所述的短寿命荧光图像减去加权的长寿命荧光图像,得到最终的超分辨显微图像。本发明还公开了一种基于荧光寿命差分的超分辨显微装置。

    一种基于泵浦-探针技术的超分辨装置和方法

    公开(公告)号:CN104634766A

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201510051875.9

    申请日:2015-01-30

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于泵浦-探针技术的超分辨方法,第一光束照射样品并使样品的原子跃迁至激发态,第二光束经相位调制后在样品上形成空心光斑并激发信号光,第三光束在样品上形成实心光斑并激发信号光;其中,控制第三光束的频率为V1,探测频率为V1的信号光得到第一信号光强I1(x,y),控制第二光路的频率为V2,探测频率为V2的信号光得到第二信号光强I2(x,y),并计算各扫描点处的有效信号光强I(x,y),其中x,y为扫描点的二维坐标,得到超分辨显微图像。本发明还公开了一种基于泵浦-探针技术的超分辨装置。本发明成像速度快,可以同时扫描被差分图像,而且受激辐射相比原本方法的自发辐射要来的快。

    一种基于随机荧光漂白的超分辨显微方法和装置

    公开(公告)号:CN103091297B

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201310039612.7

    申请日:2013-01-30

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于随机荧光漂白的超分辨显微方法,包括以下步骤:1)将激光光束聚焦到带有荧光标记的待测样品上,待测样品经激光光束激发发出荧光;2)收集所述待测样品发出的荧光,得到荧光强度信息;3)在待测样品上设置感兴趣区域,并对感兴趣区域进行漂白,并在漂白过程中收集待测样品发出荧光的荧光强度信息;4)通过计算机对上述的荧光强度信息进行比较分析,得到所述感兴趣区域中相应荧光分子的位置信息,并通过重构算法得到超分辨图像。本发明还公开了一种基于随机荧光漂白的超分辨显微装置,本发明装置结构简单,横向分辨率高,且系统信噪比高。

    基于荧光寿命差分的超分辨显微方法和装置

    公开(公告)号:CN103048299B

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201210488037.4

    申请日:2012-11-26

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于荧光寿命差分的超分辨显微方法,包括以下步骤:1)将圆偏振光作为激发光束,使用经涡旋位相编码的圆偏振光作为抑制光束,所述激发光束和抑制光束通过大数值孔径显微物镜聚焦并同时对荧光样品进行扫描;2)利用所述大数值孔径显微物镜收集扫描荧光样品发出的荧光,并通过光电感应器件得到整幅荧光强度图像;3)通过分析所述荧光强度图像的荧光强度信息,得到相应的荧光寿命信息;4)设置时间门,对所述荧光寿命信息中的长寿命荧光图像和短寿命荧光图像进行分离;5)设置权值,用所述的短寿命荧光图像减去加权的长寿命荧光图像,得到最终的超分辨显微图像。本发明还公开了一种基于荧光寿命差分的超分辨显微装置。

    一种基于双针孔的超分辨显微方法和装置

    公开(公告)号:CN102735670B

    公开(公告)日:2014-10-29

    申请号:CN201210226309.3

    申请日:2012-06-29

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于双针孔的超分辨显微方法以及应用此方法的装置,其中方法包括激光器发射出的光束聚焦到样品的表面形成信号光,将该信号光分为强度相等的两束光,这两束光分别通过第一针孔和第二针孔后进入相应探测器并进行对应的处理,所述第一针孔面积为0.5~2个爱里斑,所述第二针孔面积为2~5个爱里斑,且第一针孔的面积小于第二针孔。本发明通过对两个在不同针孔大小滤波作用下的共焦信号进行分析和处理,横向分辨率得到显著改善,实现了横向超分辨。

    一种基于泵浦‑探针技术的超分辨装置和方法

    公开(公告)号:CN104634766B

    公开(公告)日:2017-05-03

    申请号:CN201510051875.9

    申请日:2015-01-30

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于泵浦‑探针技术的超分辨方法,第一光束照射样品并使样品的原子跃迁至激发态,第二光束经相位调制后在样品上形成空心光斑并激发信号光,第三光束在样品上形成实心光斑并激发信号光;其中,控制第三光束的频率为V1,探测频率为V1的信号光得到第一信号光强I1(x,y),控制第二光路的频率为V2,探测频率为V2的信号光得到第二信号光强I2(x,y),并计算各扫描点处的有效信号光强I(x,y),其中x,y为扫描点的二维坐标,得到超分辨显微图像。本发明还公开了一种基于泵浦‑探针技术的超分辨装置。本发明成像速度快,可以同时扫描被差分图像,而且受激辐射相比原本方法的自发辐射要来的快。

    一种快速的超分辨显微成像方法和装置

    公开(公告)号:CN104614318A

    公开(公告)日:2015-05-13

    申请号:CN201510041723.0

    申请日:2015-01-28

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种快速的超分辨显微成像方法,第一光束和第二光束通过相应的调制函数调制后经过分束棱镜合并成一路光,照射到样品表面,收集待测样品各扫描点发出的信号光,并将该信号光分成两束,其中,所述的第一光束和第二光束同时成像,控制第一光束的频率为v,并以频率v作为参考信号,根据该参考信号从其中一束信号光中提取第一光束对应的信号光强I1(x,y),其中x,y为扫描点的二维坐标,另一束信号光强为I0(x,y),并算得第二光束对应的信号光强I2(x,y)=I0(x,y)-I1(x,y),再利用最终的有效信号光强I(x,y)实现超分辨成像。本发明还公开了一种快速的超分辨显微成像装置。本发明将传统的空心斑和实心斑分别成像转化为成同时成像,在不改变横向分辨率的同时提高扫描速度。

    一种基于随机荧光漂白的超分辨显微方法和装置

    公开(公告)号:CN103091297A

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201310039612.7

    申请日:2013-01-30

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于随机荧光漂白的超分辨显微方法,包括以下步骤:1)将激光光束聚焦到带有荧光标记的待测样品上,待测样品经激光光束激发发出荧光;2)收集所述待测样品发出的荧光,得到荧光强度信息;3)在待测样品上设置感兴趣区域,并对感兴趣区域进行漂白,并在漂白过程中收集待测样品发出荧光的荧光强度信息;4)通过计算机对上述的荧光强度信息进行比较分析,得到所述感兴趣区域中相应荧光分子的位置信息,并通过重构算法得到超分辨图像。本发明还公开了一种基于随机荧光漂白的超分辨显微装置,本发明装置结构简单,横向分辨率高,且系统信噪比高。

    一种基于双针孔的超分辨显微方法和装置

    公开(公告)号:CN102735670A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201210226309.3

    申请日:2012-06-29

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于双针孔的超分辨显微方法以及应用此方法的装置,其中方法包括激光器发射出的光束聚焦到样品的表面形成信号光,将该信号光分为强度相等的两束光,这两束光分别通过第一针孔和第二针孔后进入相应探测器并进行对应的处理,所述第一针孔面积为0.5~2个爱里斑,所述第二针孔面积为2~5个爱里斑,且第一针孔的面积小于第二针孔。本发明通过对两个在不同针孔大小滤波作用下的共焦信号进行分析和处理,横向分辨率得到显著改善,实现了横向超分辨。

Patent Agency Ranking