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公开(公告)号：CN103292690B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310207072.9
申请日：2013-05-29
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光场选择的合成孔径显微方法，包括以下步骤：1）探测光经扩束偏折处理后照射到样品上，利用显微成像系统收集透过样品的透射光；2）参考光经扩束偏折处理后与显微成像系统收集的透射光合束并统一偏振，再通过图像传感器记录两束光的干涉图样；3）改变探测光照射到样品的角度，重复步骤1）和步骤2），得到与多个角度对应的多张干涉图样；4）利用傅里叶变换的方法得到每张干涉图样的相位分布，再通过randon算法重构得到显微图像。本发明还公开了一种基于光场选择的合成孔径显微装置。本发明加入光场选择的方法有效的增加了显微镜的合成孔径，并提高了横向分辨率和纵向分辨率，实现了超分辨的效果。
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公开(公告)号：CN103543135A
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN201310493645.9
申请日：2013-10-18
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种基于荧光寿命分布的纳米精度光斑对准方法，适用于具有脉冲激发光和连续损耗光的STED超分辨显微系统，首先对样品进行横向二维扫描，根据得到荧光寿命分布和荧光光斑进行横向对准，然后对单颗荧光颗粒进行轴向扫描成像，分析带有荧光强度与寿命分布的轴向二维图像，调节连续损耗光的发散度，完成光斑的轴向对准。本发明还公开了一种基于荧光寿命分布的纳米精度光斑对准装置。本发明装置结构简洁，方便快速高精度调整，无需因采用纳米金颗粒而添加额外探测光路；调节精度高，光斑对准精度可达纳米量级。
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公开(公告)号：CN103292690A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310207072.9
申请日：2013-05-29
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光场选择的合成孔径显微方法，包括以下步骤：1）探测光经扩束偏折处理后照射到样品上，利用显微成像系统收集透过样品的透射光；2）参考光经扩束偏折处理后与显微成像系统收集的透射光合束并统一偏振，再通过图像传感器记录两束光的干涉图样；3）改变探测光照射到样品的角度，重复步骤1）和步骤2），得到与多个角度对应的多张干涉图样；4）利用傅里叶变换的方法得到每张干涉图样的相位分布，再通过randon算法重构得到显微图像。本发明还公开了一种基于光场选择的合成孔径显微装置。本发明加入光场选择的方法有效的增加了显微镜的合成孔径，并提高了横向分辨率和纵向分辨率，实现了超分辨的效果。
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公开(公告)号：CN105807412A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201610217951.3
申请日：2016-04-07
Applicant: 浙江大学
CPC classification number: G02B21/084 , G02B21/0004 , G02B21/12
Abstract: 本发明公开了一种基于自由曲面整形的全内反射显微装置，包括光源以及沿光路依次布置的：线偏光发生模块，用于将光源发出的光束转换为线偏光；自由曲面聚焦模块，用于将所述的线偏光转换为环状聚焦光；数字微镜反射模块，用于选择区域反射所述的环状聚焦光；光学放大传递模块，用于实现光束的全内反射照明；荧光成像模块，用于激发样品发出荧光并收集荧光信号图像。本发明还公开了一种基于自由曲面整形的全内反射显微方法，本发明无机械振动模块，扫描更稳定，噪声更小；激光能量利用率更高，成像视场更加均匀；DMD控制控制扫描，角度更加准确，利于实现分层扫描与3D图像重建。
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公开(公告)号：CN103148800B
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201310033614.5
申请日：2013-01-28
Applicant: 浙江大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于光场传播的非标记三维显微方法，包括以下几个步骤：1)将激光光束聚焦后投射到待测样品上，并利用显微物镜收集带有样品信息的激光光束；2)将带有样品信息的激光光束分成第一光束和第二光束，并通过第一图像传感器和第二图像传感器分别采集第一光束和第二光束的光强信息图像；3)改变激光光束入射到待测样品上的角度，对待测样品进行扫描，并利用显微镜收集带有样品信息的激光光束，然后重复步骤2)；4)通过计算机对所述的光强信息图像进行计算分析得到相应的相位迟滞分布图，然后采用三维重构算法得到三维图像。本发明还公开了一种基于光场传播的非标记三维显微装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103743707A
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：CN201310721772.X
申请日：2013-12-24
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种可控高速层析相位的显微装置，包括：沿样品光光路依次布置的二维扫描系统、第一4f系统、样品、第二4f系统；设置在考光光路上的压电陶瓷控制反射镜，用于改变所述样品光光路和参考光光路的光程差；第二偏振分光棱镜，用于将样品光和参考光合束；沿所述偏振分光棱镜出射光路依次布置的偏振片和CCD。本发明还公开了一种可控高速层析相位的显微方法。本发明系统稳定性更高，可控性更强，经济性更好，能够实现复杂的角度扫描；并可将层析相位显微系统的速度提高4倍以上。
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公开(公告)号：CN103162645A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201310073479.7
申请日：2013-03-08
Applicant: 浙江大学
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种基于椭偏度测量的滚转角误差测量方法，包括二分之一波片处于被测件上的第一位置时，将线偏光入射到与被测件滑动配合的二分之一波片内，透过二分之一波片的线偏光经四分之一波片形成椭偏光，所述椭偏光再照射到旋转的检偏器上，分析检偏器出射光束的光强变化得到第一椭偏度；将二分之一波片移至第二位置，根据与第一椭偏度同样的方法得到第二椭偏度，比较分析第一椭偏度和第二椭偏度，得到被测件的第一位置和第二位置之间的滚转角误差。本发明还公开了一种基于椭偏度测量的滚转角误差测量装置。
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公开(公告)号：CN105807412B
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201610217951.3
申请日：2016-04-07
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于自由曲面整形的全内反射显微装置，包括光源以及沿光路依次布置的：线偏光发生模块，用于将光源发出的光束转换为线偏光；自由曲面聚焦模块，用于将所述的线偏光转换为环状聚焦光；数字微镜反射模块，用于选择区域反射所述的环状聚焦光；光学放大传递模块，用于实现光束的全内反射照明；荧光成像模块，用于激发样品发出荧光并收集荧光信号图像。本发明还公开了一种基于自由曲面整形的全内反射显微方法，本发明无机械振动模块，扫描更稳定，噪声更小；激光能量利用率更高，成像视场更加均匀；DMD控制控制扫描，角度更加准确，利于实现分层扫描与3D图像重建。
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公开(公告)号：CN103743707B
公开(公告)日：2017-11-14
申请号：CN201310721772.X
申请日：2013-12-24
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种可控高速层析相位的显微装置，包括：沿样品光光路依次布置的二维扫描系统、第一4f系统、样品、第二4f系统；设置在考光光路上的压电陶瓷控制反射镜，用于改变所述样品光光路和参考光光路的光程差；第二偏振分光棱镜，用于将样品光和参考光合束；沿所述偏振分光棱镜出射光路依次布置的偏振片和CCD。本发明还公开了一种可控高速层析相位的显微方法。本发明系统稳定性更高，可控性更强，经济性更好，能够实现复杂的角度扫描；并可将层析相位显微系统的速度提高4倍以上。
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公开(公告)号：CN103543135B
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201310493645.9
申请日：2013-10-18
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种基于荧光寿命分布的纳米精度光斑对准方法，适用于具有脉冲激发光和连续损耗光的STED超分辨显微系统，首先对样品进行横向二维扫描，根据得到荧光寿命分布和荧光光斑进行横向对准，然后对单颗荧光颗粒进行轴向扫描成像，分析带有荧光强度与寿命分布的轴向二维图像，调节连续损耗光的发散度，完成光斑的轴向对准。本发明还公开了一种基于荧光寿命分布的纳米精度光斑对准装置。本发明装置结构简洁，方便快速高精度调整，无需因采用纳米金颗粒而添加额外探测光路；调节精度高，光斑对准精度可达纳米量级。
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