轴承凸出量测量装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1186586C

    公开(公告)日:2005-01-26

    申请号:CN03129566.5

    申请日:2003-06-24

    Applicant: 浙江大学

    Inventor: 周继烈 张为民

    Abstract: 本发明公开了一种轴承凸出量测量装置。由机械、气动控制和电气部分组成。机械部分包括下端与升降机构连接的中轴,中轴上端装有空气主轴,空气主轴上端装有能与标准环或待测轴承相配的芯轴;工作台上开有中心孔,下端面与气浮推力轴承的上环同轴联接,气浮推力轴承的下环与套在工作台中心孔中的连接环的下端固接,连接环的上端装有挡环;电气部分中的位移传感器穿过所述连接环的内孔,其下端与标准环或待测轴承的内环端面接触,其上端与电气部分连接或再装有指示表。它通过在工作台下端增加一个气浮推力轴承,对零测量时可以测得一系列值而取其均值,消除传统测量仪由于对零测量时只能测得一个瞬时值而带来的测量系统误差,提高了测量仪的测量精度。

    水稻根特异启动子Os03g01700及其应用

    公开(公告)号:CN102242119B

    公开(公告)日:2013-02-27

    申请号:CN201110073783.2

    申请日:2011-03-25

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种水稻根特异启动子Os03g01700,其为SEQ ID NO:1所示的核苷酸序列。该水稻根特异启动子Os03g01700能用于构建根特异表达的转基因植物载体。本发明还提供了一种转基因植物细胞,其包含SEQ ID NO:1所示的启动子的转基因植物细胞。通过该启动子调控外源基因在根中的特异表达能提高植物的抗旱能力和对盐、碱的耐受力等。

    轴承凸出量测量装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1472501A

    公开(公告)日:2004-02-04

    申请号:CN03129566.5

    申请日:2003-06-24

    Applicant: 浙江大学

    Inventor: 周继烈 张为民

    Abstract: 本发明公开了一种轴承凸出量测量装置。由机械、气动控制和电气部份组成。机械部份包括下端与升降机构连接的中轴,中轴上端装有空气主轴,空气主轴上端装有能与标准环或待测轴承相配的芯轴;工作台上开有中心孔,下端面与气浮推力轴承的上环同轴联接,气浮推力轴承的下环与套在工作台中心孔中的连接环的下端固接,连接环的上端装有挡环;位移传感器穿过连接环的内孔,与标准环或待测轴承的内环端面接触,其上端与电器部份连接或再装有指示表。它通过在工作台下端增加一个气浮推力轴承,对零测量时可以测得一系列值而取其均值,消除传统测量仪由于对零测量时只能测得一个瞬时值而带来的测量系统误差,提高了测量仪的测量精度。

    水稻根特异启动子Os03g01700及其应用

    公开(公告)号:CN102242119A

    公开(公告)日:2011-11-16

    申请号:CN201110073783.2

    申请日:2011-03-25

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种水稻根特异启动子Os03g01700,其为SEQIDNO:1所示的核苷酸序列。该水稻根特异启动子Os03g01700能用于构建根特异表达的转基因植物载体。本发明还提供了一种转基因植物细胞,其包含SEQIDNO:1所示的启动子的转基因植物细胞。通过该启动子调控外源基因在根中的特异表达能提高植物的抗旱能力和对盐、碱的耐受力等。

    一种轴承凸出量测量仪
    7.
    实用新型

    公开(公告)号:CN2634424Y

    公开(公告)日:2004-08-18

    申请号:CN03232570.3

    申请日:2003-06-24

    Applicant: 浙江大学

    Inventor: 周继烈 张为民

    Abstract: 本实用新型公开了一种轴承凸出量测量仪,由机械、气动控制和电气部分组成。机械部分包括下端与升降机构连接的中轴,中轴上端装有空气主轴,空气主轴上端装有能与标准环或待测轴承相配的芯轴;工作台上开有中心孔,下端面与气浮推力轴承的上环同轴联接,气浮推力轴承的下环与套在工作台中心孔中的连接环的下端固接,连接环的上端装有挡环;位移传感器穿过连接环的内孔,与标准环或待测轴承的内环端面接触,其上端与电器部分连接或再装有指示表。它通过在工作台下端增加一个气浮推力轴承,对零测量时可以测得一系列值而取其均值,消除传统测量仪由于对零测量时只能测得一个瞬时值而带来的测量系统误差,提高了测量仪的测量精度。

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