一种用于校准无源互调测试系统相位的方法

    公开(公告)号:CN106019192A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610326248.6

    申请日:2016-05-16

    CPC classification number: G01R35/005

    Abstract: 本发明公开了一种用于校准无源互调测试系统相位的方法。在无源互调测试系统中,使用磁性材料垫片作为校准件进行测量,用两路相干信号源通过注入端口输入到磁性材料垫片中产生无源互调信号,通过测试电路或测试仪器测量注入端口获得一系列合成源互调信号的幅度和相位;使用获得带有校准件的相位信息对待测器件的相位信息进行校准,测量出待测器件基于扫频间隔相对于注入端口的相位信息。本发明方法可准确测量出待测器件基于扫频间隔相对于注入端口的相位信息,以便应用于无源互调性质,无源互调定位等方面的研究。

    一种用于校准无源互调测试系统相位的方法

    公开(公告)号:CN106019192B

    公开(公告)日:2018-08-07

    申请号:CN201610326248.6

    申请日:2016-05-16

    Abstract: 本发明公开了种用于校准无源互调测试系统相位的方法。在无源互调测试系统中,使用磁性材料垫片作为校准件进行测量,用两路相干信号源通过注入端口输入到磁性材料垫片中产生无源互调信号,通过测试电路或测试仪器测量注入端口获得系列合成源互调信号的幅度和相位;使用获得带有校准件的相位信息对待测器件的相位信息进行校准,测量出待测器件基于扫频间隔相对于注入端口的相位信息。本发明方法可准确测量出待测器件基于扫频间隔相对于注入端口的相位信息,以便应用于无源互调性质,无源互调定位等方面的研究。

    空间多载波逆问题优化的多个无源互调发生点的定位方法

    公开(公告)号:CN106054162A

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:CN201610324064.6

    申请日:2016-05-16

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: G01S11/04 G01S11/06

    Abstract: 本发明公开了一种空间多载波逆问题优化的多个无源互调发生点的定位方法。在同一参考信号源下,将两路相干射频信号源通过待测器件入射端口注入到其微波腔体中,经待测微波腔体的反射产生多个无源互调信号,并在待测器件入射端口处叠加形成合成无源互调信号,传输到幅度相位比较器获得合成无源互调信号的幅度和相位;改变其中任意一路相干射频信号源的频率,进行多次测量获得多组合成无源互调信号的幅度和相位,建立其复数方程组,构造优化目标函数对方程组进行求解:对于各个可能发生无源互调效应的发生点,将优化目标函数值通过幅度参数阈值判断获得位置信息。本发明有效解决多个无源互调点的定位问题,实现测试带宽为窄带条件下的无源互调发生点的定位。

    一种基于矩阵束方法的多个无源互调发生点的定位方法

    公开(公告)号:CN105959066A

    公开(公告)日:2016-09-21

    申请号:CN201610270509.7

    申请日:2016-04-27

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: H04B17/00

    Abstract: 本发明公开了一种基于矩阵束方法的多个无源互调发生点的定位方法。两路相干信号源注入到待测器件中产生多个无源互调信号,并在注入端口合为一个合成信号,测量获得该合成信号的幅度和相位;扫描频率进行多次测量,获得合成信号的幅度和相位数据,对获得的数据进行处理,利用矩阵束方法获得大致位置及其相对幅度,利用无源互调发生阈值获得发生点数量,再获得位置信息。本发明在不需要无源互调可能发生的位置或数量的先验条件下,并准确判断无源互调发生点的位置信息和幅度,有效地解决多个无源互调点的定位问题,对噪声具有鲁棒性。

    利用条状金属单元结构天线罩的高指向天线

    公开(公告)号:CN101404356A

    公开(公告)日:2009-04-08

    申请号:CN200810122077.0

    申请日:2008-10-31

    Abstract: 本发明公开了一种利用条状金属单元结构天线罩的高指向天线。包括微带天线阵和3-6片天线罩,3-6片天线罩和微带天线阵平行等间距排列固定在有机玻璃底座插槽上,微带天线阵平行正对安装在天线罩没有条状金属单元结构的一侧。制作在FR4印刷电路板的条状金属单元结构作为微带天线阵的天线罩,其等效的介电常数通过改变印刷电路板之间的距离调整为零,得到相应的等效折射率为零。微带天线阵发射的电磁波通过该天线罩时能量集中在天线罩的法线方向,达到汇聚能量的效果,提高了天线整体的方向性和增益。本发明具有结构简单小巧,拆装方便,成本低廉,方向性好,增益高等优点。可用于通信、雷达等各种无线传输和定向通信及干扰的发射接收系统中。

    一种宽带无源互调测试和定位系统

    公开(公告)号:CN111257638B

    公开(公告)日:2021-01-29

    申请号:CN202010060695.8

    申请日:2020-01-19

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种宽带无源互调测试和定位系统。本发明方法通过矢量调制器产生等频同幅反相激励信号从而抑制无源互调信号中的激励信号分量,并且利用模数转换器采样下变频后的无源互调信号和参考信号,通过校正提取出相位信息,定位出无源互调发生点的位置,同时也可以用于无源互调的测量。本发明实现了对无源互调发生点实现宽带定位,并可用于大功率器件的无源互调的测量。

    利用条状金属单元结构天线罩的高指向天线

    公开(公告)号:CN101404356B

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN200810122077.0

    申请日:2008-10-31

    Abstract: 本发明公开了一种利用条状金属单元结构天线罩的高指向天线。包括微带天线阵和3-6片天线罩,3-6片天线罩和微带天线阵平行等间距排列固定在有机玻璃底座插槽上,微带天线阵平行正对安装在天线罩没有条状金属单元结构的一侧。制作在FR4印刷电路板的条状金属单元结构作为微带天线阵的天线罩,其等效的介电常数通过改变印刷电路板之间的距离调整为零,得到相应的等效折射率为零。微带天线阵发射的电磁波通过该天线罩时能量集中在天线罩的法线方向,达到汇聚能量的效果,提高了天线整体的方向性和增益。本发明具有结构简单小巧,拆装方便,成本低廉,方向性好,增益高等优点。可用于通信、雷达等各种无线传输和定向通信及干扰的发射接收系统中。

    一种基于矩阵束方法的多个无源互调发生点的定位方法

    公开(公告)号:CN105959066B

    公开(公告)日:2018-06-19

    申请号:CN201610270509.7

    申请日:2016-04-27

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于矩阵束方法的多个无源互调发生点的定位方法。两路相干信号源注入到待测器件中产生多个无源互调信号,并在注入端口合为一个合成信号,测量获得该合成信号的幅度和相位;扫描频率进行多次测量,获得合成信号的幅度和相位数据,对获得的数据进行处理,利用矩阵束方法获得大致位置及其相对幅度,利用无源互调发生阈值获得发生点数量,再获得位置信息。本发明在不需要无源互调可能发生的位置或数量的先验条件下,并准确判断无源互调发生点的位置信息和幅度,有效地解决多个无源互调点的定位问题,对噪声具有鲁棒性。

    电磁器件分析中电磁‑热‑应力三场耦合的去耦合计算方法

    公开(公告)号:CN106650093A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611193245.6

    申请日:2016-12-21

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种电磁器件分析中电磁‑热‑应力三场耦合的去耦合计算方法。根据电磁波传播原理与阻抗边界条件建立电磁波在金属微波器件内壁的微波电磁损耗模型,通过微波电磁损耗模型将电磁场和力场之间去耦合,平面波入射到金属微波器件时在内部形成电磁场分布会产生热量,先计算获得金属内壁产生的热损耗分布,根据热损耗分布进行求解得到温度场分布,根据温度场分布计算获得热应变分布,获得去耦合计算结果。本发明依据电磁波传播原理将电磁‑热‑应力三场耦合计算简化为电磁‑热,热‑应力两次两场计算,大大降低了计算复杂度,工程分析中适用性强。

    一种介质单表面微放电过程中空间电子涨落的解析方法

    公开(公告)号:CN110781581B

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN201910950630.8

    申请日:2019-10-08

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种介质单表面微放电过程中空间电子涨落的解析方法。高能粒子入射到介质表面产生二次电子,根据二次电子发射速度、发射极角和发射方位角的概率密度函数,计算二次电子渡越时间的概率密度函数和二次电子发射转移率;根据二次电子渡越时间的概率密度函数和二次电子发射转移率计算介质表面的二次电子的发射率和入射率,最终再处理得到介质单表面微放电过程中空间电子数目的涨落函数,从而获得空间电子涨落的解析结果。本发明处理与空间电子数目无关,解决了蒙特卡洛方法随着微放电电子数目增加计算量越来越大的困难,结果精确可靠。

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