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公开(公告)号:CN103219393A
公开(公告)日:2013-07-24
申请号:CN201310131213.3
申请日:2013-04-16
Applicant: 浙江大学
IPC: H01L29/786 , C23C14/08 , C23C14/34
Abstract: 本发明公开的用作薄膜晶体管沟道层的非晶氧化物薄膜,其化学式为SixZnSnO2x+3,0.06≦x≦0.14,表面粗糙度RMS小于2nm,载流子浓度1014~1017cm-3。采用脉冲激光沉积法制备,靶材由纯度均在99.9%以上的SiO2、ZnO和SnO2的粉末按原子比Si:Zn:Sn=0.06~0.14:1:1的比例混合、烧结得到,薄膜生长温度为25~400℃。本发明制备的非晶氧化薄膜具有在可见光区高透明度、表面粗糙度低、迁移率高、制备温度低、原材料储量丰富、成本低等优点。