一种四价硒离子表面等离子体共振检测方法及应用

    公开(公告)号:CN116539546B

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN202310771544.7

    申请日:2023-06-28

    Abstract: 本发明涉及分析化学领域,具体涉及一种四价硒离子表面等离子体共振检测方法及应用。该检测方法包括以下步骤:将四价硒离子待测溶液、碘化金属盐、酸溶液、CTAB和金纳米棒溶液进行混合、反应得到酸性的硒离子待测体系;将所述硒离子待测体系中的四价硒离子待测溶液替换为等体积的蒸馏水得到空白体系;采用紫外可见吸收光谱分别对硒离子待测体系和空白体系进行测试,定性或定量的检测硒离子待测体系中四价硒离子。该方法采用含CTAB的离子待测体系金纳米棒刻蚀出现红移,对四价硒离子具有高选择性,克服了传统金纳米棒刻蚀出现蓝移而带来的抗扰能力弱的缺陷。

    一种利用CdTe量子点测定齐帕特罗的方法

    公开(公告)号:CN108152257B

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN201711319775.5

    申请日:2017-12-12

    Abstract: 本发明公开一种利用CdTe量子点测定齐帕特罗的方法,包括:制备CdTe‑齐帕特罗抗原;制备包被有齐帕特罗抗体的酶标板;向酶标板各孔加入系列浓度的齐帕特罗标准溶液和CdTe‑齐帕特罗抗原溶液,同时设置空白对照组,温育,洗涤;测定酶标板中各孔的荧光强度F,空白对照组的荧光强度F0,计算抑制率I=(F–F0)/(Fmax‑F0),以抑制率为纵坐标,以齐帕特罗标准溶液浓度的对数为横坐标,绘制标准曲线;将待测样品与CdTe‑齐帕特罗抗原溶液加入酶标板,温育、洗涤,测定荧光强度,代入标准曲线,即得待测样品中齐帕特罗的浓度。本发明利用CdTe量子点测定齐帕特罗,检测成本较低,检测时间短,灵敏度高,特异性好。

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