一种双路空接点时间间隔输出自校准补偿电路

    公开(公告)号:CN116781051A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202311059553.X

    申请日:2023-08-22

    Abstract: 本发明公开了一种双路空接点时间间隔输出自校准补偿电路,用于双路时间继电器的校准补偿,所述双路时间继电器包括第一继电器1RL1和第二继电器2RL1,包括第一自校准补偿自校准辅助继电器模块和第二自校准补偿自校准辅助继电器模块,第一自校准补偿自校准辅助继电器模块、第二自校准补偿自校准辅助继电器模块用于对第一继电器1RL1和第二继电器2RL1的闭合与断开动作进行动作时间误差测量,根据测量得到的动作时间误差对第一继电器1RL1和第二继电器2RL1的闭合与断开动作时间进行自校准,本发明能将继电器时间间隔输出误差控制在0.1ms量级,提交检测精度。

    一种高精度线性位移检测系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116222464A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310506007.X

    申请日:2023-05-08

    Abstract: 本发明公开了一种高精度线性位移检测系统,包括:基线导轨;设置在基线导轨上能够沿基线导轨滑动的位移移动装置;激光干涉位移数据采集系统,包括激光器和反射镜组;激光器作为标准测量器件,反射镜组对用于三路光路,形成用于激光器补偿的测量平面;激光分光系统,用于将激光器发射的激光分成三个平行且不共线的光路;环境监测模块,用于采集环境参数;补偿模块,用于根据环境参数补偿激光器的波长,并根据采集的位移量和另外两条光路与主光路的距离,对激光器的测量值进行补偿;计算模块,根据激光器采集的位移量和被测仪器采集的位移量计算被测仪器的示值误差。本发明能够对大长度类计量仪器提供量值溯源。

    一种基于局部焦距追迹计算的广角镜头设计方法

    公开(公告)号:CN117826403A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311681296.3

    申请日:2023-12-08

    Abstract: 本发明公开了一种基于局部焦距追迹计算的广角镜头设计方法,该方法提出局部焦距的概念,来表征各视场处极小视场角增量光线对应的像高增量,将焦距的内涵由零视场拓展至全视场,在广角镜头的设计中,引入局部焦距进行追迹计算优化调控,实现光学系统性能参数的设计计算和实验测量的算测融合,具体包括以下步骤:依据广角镜头的设计目标,选择成像探测器;分析物像映射关系,计算理想的局部焦距分布;进行等间隔视场离散采样;按照小像高法追迹计算各采样视场的局部焦距值;焦距与投影模型同步优化控制,实现满足各类型复杂物像映射关系的广角镜头的设计。本发明实现了系统焦距和物像映射的同步控制,提高了广角镜头的成像效果。

    一种继电器吸合释放固有动作时间误差的修正补偿电路

    公开(公告)号:CN116544061B

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202310791489.8

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种继电器吸合释放固有动作时间误差的修正补偿电路,包括继电器一RL1、辅助继电器二RL2、NPN型三极管二V2,所述继电器一RL1的动端与OUT1端口的连接线上设置有CHK‑PLUSE信号引出线;继电器一RL1的接触点一与辅助继电器二RL2的接触点二连接,所述继电器一RL1的接触点二与辅助继电器二RL2的接触点一连接;所述辅助继电器二RL2的输入端一通过NPN型三极管二V2与CHK‑CTRL端口连接。本发明能够在每次实际输出时间间隔时将修正值带入,从而提高输出精度。

    一种继电器吸合释放固有动作时间误差的修正补偿电路

    公开(公告)号:CN116544061A

    公开(公告)日:2023-08-04

    申请号:CN202310791489.8

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种继电器吸合释放固有动作时间误差的修正补偿电路,包括继电器一RL1、辅助继电器二RL2、NPN型三极管二V2,所述继电器一RL1的动端与OUT1端口的连接线上设置有CHK‑PLUSE信号引出线;继电器一RL1的接触点一与辅助继电器二RL2的接触点二连接,所述继电器一RL1的接触点二与辅助继电器二RL2的接触点一连接;所述辅助继电器二RL2的输入端一通过NPN型三极管二V2与CHK‑CTRL端口连接。本发明能够在每次实际输出时间间隔时将修正值带入,从而提高输出精度。

    一种用于双面抛光晶圆测量干涉仪的映射校准装置

    公开(公告)号:CN221037285U

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202420516650.0

    申请日:2024-03-18

    Abstract: 本实用新型属于晶圆面型干涉检测的技术领域,具体地说是一种用于双面抛光晶圆测量干涉仪的映射校准装置,包括刻蚀有映射校准关系的校准槽的透明亚克力板、晶圆测量干涉仪,通过两台晶圆测量干涉仪分别对校准槽结构进行成像,获得每台干涉仪各自的成像畸变;通过分析两台晶圆测量干涉仪之间的空间位置关系和各自的成像畸变,获得两台晶圆测量干涉仪测得的面形数据之间的映射关系,实现映射校准。本实用新型不仅能够实现对双面抛光晶圆测量干涉系统的检验与校准,而且消除了映射误差对晶圆形貌参数的影响,同时能够高精度的一次性获得晶圆的全表面形貌和相关参数信息。

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