公开(公告)号：CN107478174B

公开(公告)日：2019-10-08

申请号：CN201710566436.0

申请日：2017-07-12

Applicant: 江南大学

Inventor： 胡立发 ,  申文 ,  葛瑞 ,  胡栋挺 ,  刘新宇 ,  马文超 ,  俞琳 ,  楚广勇 ,  朱华新 ,  苏宙平 ,  张秀梅 ,  朱焯炜 ,  阙立志 ,  高淑梅 ,  张逸新

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/30

Abstract: 本发明公开了一种针对暗弱信号的夏克哈特曼探测器质心探测方法，属于自适应光学和光学元件面形检测技术领域。本发明公开了一种观测暗弱目标或加工过程中光学元件面形检测时，夏克哈特曼探测器光斑质心计算方法，利用此方法可计算出光斑质心，并且可以降低质心探测误差。

公开(公告)号：CN107478174A

公开(公告)日：2017-12-15

申请号：CN201710566436.0

申请日：2017-07-12

Applicant: 江南大学

Inventor： 胡立发 ,  申文 ,  葛瑞 ,  胡栋挺 ,  刘新宇 ,  马文超 ,  俞琳 ,  楚广勇 ,  朱华新 ,  苏宙平 ,  张秀梅 ,  朱焯炜 ,  阙立志 ,  高淑梅 ,  张逸新

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/30

Abstract: 本发明公开了一种针对暗弱信号的夏克哈特曼探测器质心探测方法，属于自适应光学和光学元件面形检测技术领域。本发明公开了一种观测暗弱目标或加工过程中光学元件面形检测时，夏克哈特曼探测器光斑质心计算方法，利用此方法可计算出光斑质心，并且可以降低质心探测误差。