应用于存算一体的权值累加型模数转换器

    公开(公告)号:CN118157680A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410348596.8

    申请日:2024-03-26

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了应用于存算一体的权值累加型模数转换器,属于集成电路技术领域。本发明的权值累加型模数转换器包括输入选择器、第一电容阵列、第二电容阵列、第一开关阵列、第二开关阵列、第一共模开关、第二共模开关和权值累加型ADC逻辑电路。本发明将权值累加电路和模数转换电路相结合,利用逐次逼近模数转换器的权值电容实现电压权值累加操作,节省了传统权值累加电路所需面积,实现了低面积开销,利于集成;本发明提出的电压权值累加型模数转换器适用于存算一体芯片读出系统,不需要进行电流对减,因此整个电路系统没有负压传播,不需要针对负压设计额外的电路结构,结构简单,便于设计。

    应用于比较器阵列的失调校准方法及电路

    公开(公告)号:CN118138045A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202410321001.X

    申请日:2024-03-20

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了应用于比较器阵列的失调校准方法及电路,属于集成电路设计领域。本发明的失调校准电路包括全局校准电压产生模块、积分器、比较器、全局逻辑控制电路和局部逻辑控制电路;整个比较器阵列共用一个全局校准电压产生模块,每个比较器只需要添加积分器电路,可以在实现大的校准范围,小的校准步长的同时,满足低面积的需求;本发明提供的失调校准方法类似二分搜索算法,采样二分法搜索失调电压,实现#imgabs0#的校准步长只需要N个周期,校准时间短。

    一种面向卷积神经网络的ReLU与池化运算一体化电路及方法

    公开(公告)号:CN117973449A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202410099133.2

    申请日:2024-01-24

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了一种面向卷积神经网络的ReLU与池化运算一体化电路及方法,该电路包括:电容阵列开关模块、电容阵列模块、比较器、ReLU运算与池化运算逻辑控制模块;ReLU运算与池化运算逻辑控制模块与电容阵列开关模块、ReLU开关模块相连、输出开关模块相连;比较器输出信号连接ReLU运算与池化运算逻辑控制模块。本发明利用比较器控制开关的开断进行ReLU运算并将运算后的电压存入电容阵列中进行池化运算,通过比较器的判断结果以及ReLU运算与池化运算逻辑控制模块最终输出最大池化或平均池化后的结果;将ReLU与池化运算通过一个电路实现,极大程度降低了模拟域进行ReLU和池化运算的复杂性,可广泛应用于大规模阵列的卷积神经网络的场景。

    应用于比较器阵列的失调校准方法及电路

    公开(公告)号:CN118138045B

    公开(公告)日:2024-12-03

    申请号:CN202410321001.X

    申请日:2024-03-20

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了应用于比较器阵列的失调校准方法及电路,属于集成电路设计领域。本发明的失调校准电路包括全局校准电压产生模块、积分器、比较器、全局逻辑控制电路和局部逻辑控制电路;整个比较器阵列共用一个全局校准电压产生模块,每个比较器只需要添加积分器电路,可以在实现大的校准范围,小的校准步长的同时,满足低面积的需求;本发明提供的失调校准方法类似二分搜索算法,采样二分法搜索失调电压,实现#imgabs0#的校准步长只需要N个周期,校准时间短。

    一种基于设备可靠性综合测试的环境模拟箱体

    公开(公告)号:CN215728477U

    公开(公告)日:2022-02-01

    申请号:CN202120948832.1

    申请日:2021-05-06

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于设备可靠性综合测试的环境模拟箱体,包括模组以及箱体,所述的模组均依托于箱体为支持结构板设置安装,所述的模组包括主控模组、温控模组、湿度模组、盐雾环境模组、粉尘环境模组、振动控制模组、信号干扰模组、气压控制模组、电学测试模组,所述的主控模组采用的是单片机控制方案,包括单片机以及并行通信连接网络;所述的箱体为封闭型的夹层箱,同时所述的箱体外表面设有控制键,且控制键与单片机的串口相连。本新型的环境模拟箱体中主控模组采用的是单片机控制方案,且能针对现有电子设备测试箱功能的缺点,提出可以模拟各种自然环境的箱体,从而创造出各种环境,便于电子设备在各种环境下,工作状态的检测。

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