降压-反激集成式单开关管功率因数校正变换器

    公开(公告)号:CN114553033A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210266088.6

    申请日:2022-03-15

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了降压‑反激集成式单开关管功率因数校正变换器,属于开关电源技术领域。所述变换器包括:输入交流电源、整流桥BR、降压功率因数校正变换器、反激功率因数校正变换器、GaN功率开关管、输出电容C、输出负载RL和控制电路;本发明采用降压‑反激集成式拓扑,针对降压单元中输入电压低于输出电压是输入电流纯在死区现象,反激单元的导通消除了输入电流死区的影响,降低总谐波失真,提高变换器功率因数,使变换器达到IEC61000‑3‑2 C类标准;此外,通过将降压单元与反激单元采用输入并联输出并联结构共用一个GaN开关管,使变换器只需一套控制电路,降低了电路的复杂程度,成本低,可靠性高。

    一种GaN-HEMT栅极开关振荡的预测方法

    公开(公告)号:CN116595928A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202310432255.4

    申请日:2023-04-21

    Applicant: 江南大学

    Abstract: 本发明公开了一种GaN‑HEMT栅极开关振荡的预测方法,属于半导体及功率器件领域。本发明通过BPNN网络模型进行训练,得到了基于BPNN算法模型的寄生电容与栅源电压的初步映射关系后,建立基于Cascode型GaN HEMT二端口网络函数,通过实验获取GaN HEMT器件的全S参数下的寄生电容值,并将该提取寄生电容值作为数据集输入BPNN网络模型,得到VGS_m与全S参数下的VDS、CGS、CGD的关系曲面和曲线关系。仿真结果表明,本发明的预测方法的标准误差小于ANN和PSO,证明了本发明基于BPNN算法模型的GaN‑HEMT栅极开关振荡的检测方法预测准确度较高。

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