公开(公告)号：CN118150902A

公开(公告)日：2024-06-07

申请号：CN202410251213.5

申请日：2024-03-06

Applicant: 武汉科技大学

Inventor： 杨岐 ,  李立新 ,  刘宇 ,  杨圳洋 ,  朱鑫 ,  蒙祎珂

IPC: G01R27/08 ,  G01R1/04 ,  G01L5/00 ,  G01B5/26

Abstract: 本发明公开了一种接触电阻测量装置及其测量方法，属于电阻测量设备技术领域。本发明包括基体，所述的基体包括底板、分别设置在底板两侧的第一侧板和第二侧板，以及设置在侧板上的顶板；其中，所述的底板上设有用于承载待测板材的托盘，且两块待测板材呈前后放置于该托盘上；所述的第二侧板上设有用于从待测板材重叠区域的侧面施加压力的压力调节机构。本发明通过将两块待测板材呈前后放置于托盘上，然后通过压力调节机构从待测板材重叠区域的侧面施加压力；相比于传统两块待测板材上下叠放的测量方式，不仅无需对待测板材进行打孔固定，保留了表面的初始状态；而且还有效地消除了待测板材的自重给接触压力带来的干扰，以保证测量结果的准确性。