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公开(公告)号：CN119643363A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411827817.6
申请日：2024-12-11
Applicant: 武汉理工大学
IPC: G01N9/00 , G01N27/416
Abstract: 本发明提供了一种用于测试材料态密度的膜片钳探针及其使用方法。通过膜片钳探针来集成传统微纳储能片上器件进行电化学测试的电解液、电解池、对电极和参比电极，通过三维移动装置移动膜片钳探针逼近待测微纳储能片上器件表面位点，不仅可以简化微纳储能片上器件的制备过程，还可以实现同一微纳储能片上器件不同活性位点的电化学态密度表征。
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