基于全介质超表面的高品质因数折射率传感器及其制造方法

    公开(公告)号:CN111650156A

    公开(公告)日:2020-09-11

    申请号:CN202010545061.1

    申请日:2020-06-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于全介质超表面的高品质因数折射率传感器,它的全介质超表面单元由第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块组成,第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块通过电子束蒸发沉积法沉积在透明玻璃基底上,第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块关于全介质超表面单元的中心点呈120°旋转对称,第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块的内侧边缘与全介质超表面单元中心点的距离d均相等,且距离d的范围均为60~70nm。本发明使用高折射率的介电材料避免了金属材料引起的欧姆损耗,具有损耗低的优势,且简单易实现,检测成本低廉。

    避免温度与应变交叉敏感的光纤光栅锚杆测试装置及方法

    公开(公告)号:CN106441652A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201610784911.7

    申请日:2016-08-31

    CPC classification number: G01L1/246

    Abstract: 本发明公开了一种避免温度与应变交叉敏感的光纤光栅锚杆测试装置及方法,其锚杆测试装置包括中空圆柱体结构的外部套管,外部套管的两端分别与左连接体、右连接套螺纹连接,左连接体包括左连接套、应变基座、应变传递体和温度基座,所述左连接套、应变传递体分别与外部套管螺纹连接,应变基座、应变传递体和温度基座位于外部套管的内腔中,温度基座悬空放置,应变基座内设置有测量光栅,温度基座内设置有参考光栅。本发明利用温度—应变处理结构,对温度结果进行补偿,解决了光纤光栅锚杆测量中温度与应变交叉敏感的问题,以及在参考光栅处锚杆形变无法测量的问题,对应变测量精度更高,具有响应速度快、抗干扰能力强、安装空间小、可靠性高的优点。

    基于全介质超表面的高品质因数折射率传感器及其制造方法

    公开(公告)号:CN111650156B

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202010545061.1

    申请日:2020-06-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于全介质超表面的高品质因数折射率传感器,它的全介质超表面单元由第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块组成,第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块通过电子束蒸发沉积法沉积在透明玻璃基底上,第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块关于全介质超表面单元的中心点呈120°旋转对称,第一硅矩形介质块、第二硅矩形介质块和第三硅矩形介质块的内侧边缘与全介质超表面单元中心点的距离d均相等,且距离d的范围均为60~70nm。本发明使用高折射率的介电材料避免了金属材料引起的欧姆损耗,具有损耗低的优势,且简单易实现,检测成本低廉。

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