公开(公告)号：CN113849764A

公开(公告)日：2021-12-28

申请号：CN202111051186.X

申请日：2021-09-08

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 王凤 ,  熊章涛 ,  廖青 ,  张茹

IPC: G06F17/11 ,  G06F17/15 ,  G06F17/18

Abstract: 本发明提供了一种基于阿秒条纹重构非均匀场空间依赖系数的方法，针对现有技术中尚未得到研究的非均匀红外场辅助下的原子单光子电离过程，通过电子光辐射时间实现了重构非均匀红外场的空间依赖系数的功能。本发明反映了非均匀红外场辅助下原子单光子电离中电子的动力学过程。本发明用于实现对纳米结构附近等离子增强电场进行成像。

公开(公告)号：CN108961962B

公开(公告)日：2020-11-27

申请号：CN201810768436.3

申请日：2018-07-13

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 廖青 ,  王凤 ,  刘凯 ,  秦梅艳

IPC: G09B23/22 ,  G09B23/18

Abstract: 本发明公开了一种利用单光子单电离机制重构电场包络的方法，该方法包括以下步骤：S1、将测量到的单个阿秒脉冲与工作气体相互作用获得电子动量谱，对电子动量谱通过最小二乘法重构出阿秒脉冲的电场包络分布Eatto；S2、测量得到不同阿秒脉冲‑红外电场相对延时下产生的旁带信号和单光子电离信号的强度比；S3、根据步骤S1得到的阿秒脉冲电场包络分布Eatto，以及步骤S2得到的旁带信号和单光子电离信号的强度比，通过最小二乘法重建红外电场的包络EL0。本发明不仅能够反映出阿秒泵浦探测实验中电子的动力学过程，还能同时重构出阿秒脉冲电场的包络分布和红外电场的包络，且不依赖与阿秒脉冲和红外电场的载波包络相位。

公开(公告)号：CN110095805A

公开(公告)日：2019-08-06

申请号：CN201910350379.1

申请日：2019-04-28

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 王凤 ,  廖青 ,  王哲 ,  张晓凡 ,  秦梅艳 ,  刘凯

IPC: G01T5/00

Abstract: 本发明涉及一种基于阿秒条纹谱的电子轨道半径测量方法、系统和介质，方法包括获取多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的阿秒条纹谱，以及获取在多个电子初始位置下，多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的多个经典条纹轨迹；根据阿秒条纹谱获取工作气体的光电离时间延迟，并根据多个经典条纹轨迹获取工作气体对应的多个经典光电离时间延迟；根据光电离时间延迟和多个经典光电离时间延迟获取工作气体对应的电子轨道半径。本发明基于阿秒条纹谱，能实现对电子轨道半径的直接测量，方法理论简单，计算难度低，计算量小，精度高，突破了目前还没有直接测量电子轨道半径的瓶颈，意义深远。

公开(公告)号：CN110095805B

公开(公告)日：2022-07-08

申请号：CN201910350379.1

申请日：2019-04-28

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 王凤 ,  廖青 ,  王哲 ,  张晓凡 ,  秦梅艳 ,  刘凯

IPC: G01T5/00

Abstract: 本发明涉及一种基于阿秒条纹谱的电子轨道半径测量方法、系统和介质，方法包括获取多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的阿秒条纹谱，以及获取在多个电子初始位置下，多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的多个经典条纹轨迹；根据阿秒条纹谱获取工作气体的光电离时间延迟，并根据多个经典条纹轨迹获取工作气体对应的多个经典光电离时间延迟；根据光电离时间延迟和多个经典光电离时间延迟获取工作气体对应的电子轨道半径。本发明基于阿秒条纹谱，能实现对电子轨道半径的直接测量，方法理论简单，计算难度低，计算量小，精度高，突破了目前还没有直接测量电子轨道半径的瓶颈，意义深远。

公开(公告)号：CN113849764B

公开(公告)日：2024-11-08

申请号：CN202111051186.X

申请日：2021-09-08

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 王凤 ,  熊章涛 ,  廖青 ,  张茹

IPC: G06F17/11 ,  G06F17/15 ,  G06F17/18

Abstract: 本发明提供了一种基于阿秒条纹重构非均匀场空间依赖系数的方法，针对现有技术中尚未得到研究的非均匀红外场辅助下的原子单光子电离过程，通过电子光辐射时间实现了重构非均匀红外场的空间依赖系数的功能。本发明反映了非均匀红外场辅助下原子单光子电离中电子的动力学过程。本发明用于实现对纳米结构附近等离子增强电场进行成像。

公开(公告)号：CN108961962A

公开(公告)日：2018-12-07

申请号：CN201810768436.3

申请日：2018-07-13

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 廖青 ,  王凤 ,  刘凯 ,  秦梅艳

IPC: G09B23/22 ,  G09B23/18

Abstract: 本发明公开了一种利用单光子单电离机制重构电场包络的方法，该方法包括以下步骤：S1、将测量到的单个阿秒脉冲与工作气体相互作用获得电子动量谱，对电子动量谱通过最小二乘法重构出阿秒脉冲的电场包络分布Eatto；S2、测量得到不同阿秒脉冲‑红外电场相对延时下产生的旁带信号和单光子电离信号的强度比；S3、根据步骤S1得到的阿秒脉冲电场包络分布Eatto，以及步骤S2得到的旁带信号和单光子电离信号的强度比，通过最小二乘法重建红外电场的包络EL0。本发明不仅能够反映出阿秒泵浦探测实验中电子的动力学过程，还能同时重构出阿秒脉冲电场的包络分布和红外电场的包络，且不依赖与阿秒脉冲和红外电场的载波包络相位。