-
-
公开(公告)号:CN110952072A
公开(公告)日:2020-04-03
申请号:CN201811134184.5
申请日:2018-09-27
Applicant: 武汉大学苏州研究院
IPC: C23C16/40 , C23C16/455 , C23C16/56 , H01L31/0296 , H01L31/18
Abstract: 本发明提供了一种ZnO薄膜紫外探测器件的制备方法,该方法是采用原子层沉积法生长ZnO薄膜,再采用快速热退火处理,得到需要的ZnO薄膜,最后蒸镀电极形成紫外探测器件。这种紫外探测器件可以大面积生长,均匀性好,具有很小的暗电流,大的光暗电流比,响应时间短,响应度高的优点。
-
-