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公开(公告)号:CN105278060B
公开(公告)日:2017-11-21
申请号:CN201510796819.8
申请日:2015-11-19
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC: G02B6/42
Abstract: 本发明公开一种挡光式MEMS VOA,包括输入光纤(1)、输出光纤(2)、MEMS芯片(4)、反射装置,所述反射装置将输入光纤的输入光反射至输出光纤端,所述MEMS芯片(4)设置有挡光装置(4‑1),挡光装置由挡光板(4‑1‑1)、连接杆(4‑1‑2)、散热杆(4‑1‑3)组成,挡光板(4‑1‑1)与连接杆(4‑1‑2)之间设有空腔区域;在掉电状态下调试输入光纤(1)使其与连接杆(4‑1‑2)对准,连接杆(4‑1‑2)遮挡由输入光纤(1)进入的输入光产生与其对应的初始衰减值,输出光纤(2)位于空腔区域内不受遮挡有效通光孔径。本发明装置可以实现掉电衰减保持为特定值5~15dB,掉电后MEMS VOA产品仍能保持在特定工作状态,且满足最小衰减小于0.8dB、最大可调衰减达到40dB以上的要求。
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公开(公告)号:CN106154540A
公开(公告)日:2016-11-23
申请号:CN201610507439.2
申请日:2016-06-30
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC: G02B26/02
CPC classification number: G02B26/023
Abstract: 本发明涉及一种转镜式MEMS可变光衰减器,包括输入光纤、输出光纤、双芯毛细管、准直透镜、长玻璃管、短玻璃管、TO管帽、MEMS芯片和TO管座;所述输入光纤和输出光纤沿所述双芯毛细管的光轴被封入所述双芯毛细管中;所述双芯毛细管和准直透镜的光轴相对准,并同时被固定封装在长玻璃管中,使得所述输入光纤、输出光纤、双芯毛细管、准直透镜和长玻璃管共同组成准直器;所述MEMS芯片设置于所述TO管帽和TO管座构成的密闭腔内,并与TO管座上的加电引脚电连接。本发明可以实现掉电时衰减保持为特定值5~15dB,且同时满足最小衰减小于0.8dB、最大可调衰减达到40dB以上的要求。通过对MEMS芯片气密封装,还可有效防止水汽渗透所带来不良的影响,并提高器件制造效率。
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公开(公告)号:CN105278060A
公开(公告)日:2016-01-27
申请号:CN201510796819.8
申请日:2015-11-19
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC: G02B6/42
CPC classification number: G02B6/4214 , G02B6/4206
Abstract: 本发明公开一种挡光式MEMS VOA,包括输入光纤(1)、输出光纤(2)、MEMS芯片(4)、反射装置,所述反射装置将输入光纤的输入光反射至输出光纤端,所述MEMS芯片(4)设置有挡光装置(4-1),挡光装置由挡光板(4-1-1)、连接杆(4-1-2)、散热杆(4-1-3)组成,挡光板(4-1-1)与连接杆(4-1-2)之间设有空腔区域;在掉电状态下调试输入光纤(1)使其与连接杆(4-1-2)对准,连接杆(4-1-2)遮挡由输入光纤(1)进入的输入光产生与其对应的初始衰减值,输出光纤(2)位于空腔区域内不受遮挡有效通光孔径。本发明装置可以实现掉电衰减保持为特定值5~15dB,掉电后MEMS VOA产品仍能保持在特定工作状态,且满足最小衰减小于0.8dB、最大可调衰减达到40dB以上的要求。
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公开(公告)号:CN104570217A
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201410756213.7
申请日:2014-12-10
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
CPC classification number: G02B6/266 , G01J1/42 , G02B6/4206 , G02B6/4286
Abstract: 一种集成分光探测的衰减器,包括有分别设置在两侧的第一单芯光纤头和第二单芯光纤头,在所述的第一单芯光纤头和第二单芯光纤头之间的光路上设置有微光机电系统芯片,所述的第一单芯光纤头的出射光端至微光机电系统芯片的入射光端之间的光路上还依次设置有第一准直透镜和第一分光片,所述微光机电系统芯片的出射光端至第二单芯光纤头的入射光端之间的光路上设置有第四会聚透镜,所述第一分光片反射光的光路上设置有用于将光信号转换成电信号输出的第一探测芯片。本发明的一种集成分光探测的衰减器,将衰减器和分光探测器集成为一体,降低了尺寸,结构简单,体积小,便于携带,使用方便,满足了客户小尺寸的需求。
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公开(公告)号:CN204612901U
公开(公告)日:2015-09-02
申请号:CN201520341725.7
申请日:2015-05-22
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC: G01M11/02
Abstract: 本实用新型提出一种插损、回损、波长相关损耗测试装置,包括宽谱激光器、第一光电探测器、第二光电探测器,第三光电探测器、2×2分光器、1×2分光器、第一隔离器、第二隔离器、1×N光开关、光谱仪、控制电路,宽谱激光器与2×2分光器输入端相连接,2×2分光器的一路输出端接入第一隔离器,第一隔离器接入第二光电探测器;2×2分光器的反射端接入第一光电探测器;第二隔离器的输出端接1×2分光器的公共端;1×2分光器的两路分路中一路接入第三光电探测器,另一路光接入1×N光开关,1×N光开关输出端接光谱仪;本实用新型装置价格便宜,可靠性高,便于维护。
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公开(公告)号:CN208636460U
公开(公告)日:2019-03-22
申请号:CN201821295305.X
申请日:2018-08-10
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
Abstract: 本实用新型实施例提供的一种阵列光衰减器,包括若干个光衰减单元,其中每一光衰减单元包括准直器件和MEMS反射镜;准直器件用于将准直后的第一光信号照射在MEMS反射镜上,并接收MEMS反射镜基于第一光信号反射的第二光信号。本实用新型实施例提供的一种阵列光衰减器,通过应用包含MEMS反射镜的光衰减单元构建阵列光衰减器,避免了基于热光效应的可调光衰减器阵列结构容易导致热串扰的问题,同时有效缩短了响应时间,减小了阵列光衰减器的体积,具备动态衰减范围大、波长相关损耗低和偏振相关损耗低等优点。
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公开(公告)号:CN204615829U
公开(公告)日:2015-09-02
申请号:CN201520342845.9
申请日:2015-05-25
Applicant: 武汉光迅科技股份有限公司
IPC: H04B10/07
Abstract: 本实用新型提出一种插损、回损、波长相关损耗测试装置,包括宽谱激光器、第一光电探测器、第二光电探测器,第三光电探测器、2×2分光器、1×2分光器、第一隔离器、第二隔离器、1×N光开关、光谱仪、控制电路,宽谱激光器与2×2分光器输入端相连接,2×2分光器的一路输出端接入第一隔离器,第一隔离器接入第二光电探测器;2×2分光器的反射端接入第一光电探测器;第二隔离器的输出端接1×2分光器的公共端;1×2分光器的两路分路中一路接入第三光电探测器,另一路光接入1×N光开关,1×N光开关输出端接光谱仪;本实用新型装置价格便宜,可靠性高,便于维护。
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