-
公开(公告)号：CN110274543A
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201910030710.1
申请日：2019-01-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明提供一种能够减小所测量的距离的误差的光学测量装置以及光学测量方法。光学测量装置(100)包括：光源(10)，发出光；传感头(30)，将经对象物(TA)反射的反射光聚光；光接收部(40)，构成为多个像素各自可检测光接收量，且针对所聚光的反射光而获得每个像素的光接收量分布信号；测量部(51)，基于光接收量分布信号而测量光学测量装置(100)到对象物(TA)的距离；以及修正部(52)，基于光接收量分布信号的波形中的规定特性值而修正所测量的测量距离。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116736312A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310147134.5
申请日：2023-02-21
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 一种光干涉测距传感器，即使与测量对象物之间的距离加速度地变化，也能够高精度地测量该距离。光干涉测距传感器具备：光源，使用规定的扫频频率模式，一边连续改变波长一边投射光；处理部，根据通过受光部转换的电信号测量到测量对象物为止的距离；以及存储部，存储表示测量出的距离的距离信息，规定的扫频频率模式包含第一扫频频率模式和第二扫频频率模式，处理部包括平均距离值计算部，所述平均距离值计算部根据测量出的距离和存储于存储部的过去多次的距离信息中的第一距离信息及第二距离信息算出平均距离值，第一距离信息表示基于使用第一扫频频率模式投射的光的距离，第二距离信息表示基于使用第二扫频频率模式投射的光的距离。
-
-
公开(公告)号：CN110274543B
公开(公告)日：2021-12-14
申请号：CN201910030710.1
申请日：2019-01-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明提供一种能够减小所测量的距离的误差的光学测量装置以及光学测量方法。光学测量装置(100)包括：光源(10)，发出光；传感头(30)，将经对象物(TA)反射的反射光聚光；光接收部(40)，构成为多个像素各自可检测光接收量，且针对所聚光的反射光而获得每个像素的光接收量分布信号；测量部(51)，基于光接收量分布信号而测量光学测量装置(100)到对象物(TA)的距离；以及修正部(52)，基于光接收量分布信号的波形中的规定特性值而修正所测量的测量距离。
-
公开(公告)号：CN112654834A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201980058003.1
申请日：2019-10-21
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明自受光量分布信号获得测定波形信号。光学测量装置100包括：光源10，向对象物TA发出光；受光部40，以多个像素各自可检测受光量的方式构成，且获得每个像素的受光量分布信号；获取部51，基于不存在对象物TA时的受光量分布信号，自利用对象物TA所反射的反射光的受光量分布信号获取测量波形信号MS；以及调整部53，在反射光的受光量分布信号的一部分受光量为规定值以上时，以获取测量波形信号MS的方式，调整对于反射光的受光量分布信号的感度参数。
-
-
-
-
Search Results
6
records
(took 0.02 seconds)
