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公开(公告)号：CN113240980A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202110318600.2
申请日：2021-03-25
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种重力加速度测量装置及其测量方法，所述第一激光测距传感器与所述第一伸缩组件可拆卸连接，所述红外光电传感器与所述第二伸缩组件可拆卸连接，所述第二激光测距传感器与所述底座的顶部可拆卸的连接，并位于所述通孔的正下方，所述电磁铁模组与所述支撑架的侧面可拆卸连接，并位于所述第三激光测距传感器的正上方，本测量装置主要采用的是激光测距传感器、红外光电传感器、STM32单片机等具有测量和计算精度高的硬件，对相关数据进行精确的测量，从而提高了测量的精度，同时，测量单摆的摆长、释放小球、测量摆角、计时和计数操作均不需要人为操作，从而解决以往传统的测量装置操作繁琐的问题。
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公开(公告)号：CN116755282A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202310706351.3
申请日：2023-06-14
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于石墨烯‑硅基MRR的光学数值比较器，包括：衬底层、以及嵌设于衬底层上表面的微环谐振器结构，衬底层为二氧化硅衬底，微环谐振器结构包括Y型分支波导，与Y型分支波导两个对称分叉端部相连且平行间隔布置的两组直波导，以及两两对称分布于两组直波导外侧且呈矩形排布的四组微环波导；位于直波导同一侧的两组微环波导作间隔分布且轴心距为4.5μm，每组微环波导与相邻直波导之间的耦合间距均为0.05μm，微环谐振器结构采用硅基材料，且微环波导上依次完全覆盖铺设有六方氮化硼层、石墨烯层以及二氧化硅层；石墨烯层与微环波导上均设有金属电极。本发明的光学数值比较器具有高消光比、高对比度、结构紧凑、稳定性高等优点。
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公开(公告)号：CN114609728B
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202210232474.3
申请日：2022-03-08
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G02B6/293
Abstract: 本发明提供了一种基于微环谐振器的全光二进制比较器，利用微环谐振器对光的波长具有选择性的特点以构成光开关，将3个微环谐振器且与光波导合理组合，以实现由光学原理控制的两个二进制数比较，即实现了传统数字电路中的二进制比较运算。该二进制全光比较器利用微环谐振器代替传统的电学逻辑器件，避免了传统电学器件易受噪声信号的影响，结合光学传播特点实现了高速、低功耗的计算机信息处理功能；工艺方面实现了与CMOS工艺的兼容，使得器件的体积小，速度快，扩展性好以及低插入损耗特性，便于与其他器件的大规模集成。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114815960A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210220403.1
申请日：2022-03-08
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提出了一种二进制全光全加器的双故障误差计算方法，该故障误差计算涉及了由n个微环谐振器(MRR)构成逻辑计算电路的双故障模拟装置领域，解决了现有n个MRR构成逻辑计算电路中缺乏深度评判双故障误差的问题。该方法包括，获取无故障模型装置的正确输出结果和双故障模型装置的错误输出结果，计算正确输出结果和错误输出结果之间的绝对误差，最大绝对误差，平均绝对误差以及均方误差。本发明实施例用于由n个MRR构成的逻辑计算电路在实际生产和使用过程中因双故障而引发的误差计算，具体以由3个MRR构成的二进制全光全加器的双故障模拟装置为例进行实施。
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公开(公告)号：CN117008389A
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202310658653.8
申请日：2023-06-05
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G02F3/00
Abstract: 本发明公开了一种基于Y型石墨烯纳米带的光学数值比较器，属于硅基光子集成芯片技术领域，包括：Y型石墨烯纳米带Y1，与Y型石墨烯纳米带Y1级联设置的Y型石墨烯纳米带Y2和Y型石墨烯纳米带Y3，Y型石墨烯纳米带Y2和Y型石墨烯纳米带Y3相对于Y型石墨烯纳米带Y1对称设计；本发明设计的光学数值比较器在9.55μm的TM模式光作用下具有31.12dB的最小消光比和0.77dB的幅度调制；本发明设计的比较器位于0.4μm2的矩形介质层之上，主要由石墨烯纳米带通过Y型结构组成，其经由施加偏置电压改变石墨烯的化学势实现了石墨烯纳米带的通断效果，最终实现了一位光学数值比较器的功能。
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公开(公告)号：CN114609728A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210232474.3
申请日：2022-03-08
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G02B6/293
Abstract: 本发明提供了一种基于微环谐振器的全光二进制比较器，利用微环谐振器对光的波长具有选择性的特点以构成光开关，将3个微环谐振器且与光波导合理组合，以实现由光学原理控制的两个二进制数比较，即实现了传统数字电路中的二进制比较运算。该二进制全光比较器利用微环谐振器代替传统的电学逻辑器件，避免了传统电学器件易受噪声信号的影响，结合光学传播特点实现了高速、低功耗的计算机信息处理功能；工艺方面实现了与CMOS工艺的兼容，使得器件的体积小，速度快，扩展性好以及低插入损耗特性，便于与其他器件的大规模集成。
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公开(公告)号：CN114707099A
公开(公告)日：2022-07-05
申请号：CN202210258942.4
申请日：2022-03-08
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提出了一种二进制全光比较器的双故障误差计算方法，该方法主要涉及光片上网络领域，具体在基于微环谐振器(MRR)的逻辑计算电路中，主要用于分析和计算由两个MRR故障而引起的误差。该方法包括，获取无故障模型装置的正确输出结果和双故障模型装置的错误输出结果，比较每一位正确输出结果和每一位错误输出结果之间的关系，计算正确输出结果和错误输出结果之间的位翻转误差、最大位翻转误差以及整个逻辑计算电路的误差概率。本发明实施例用于由n个MRR构成的逻辑计算电路在实际生产和使用过程中因双故障而引发的误差计算，具体以由3个MRR构成的二进制全光比较器的双故障模拟装置为例进行实施。
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