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发明公开
一种基于FPGA的关于IEEE1149.10标准的高带宽测试数据的CRC校验方法审中-公开

公开(公告)号：CN117714338A

公开(公告)日：2024-03-15

申请号：CN202311844170.3

申请日：2023-12-28

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 黄新 , 何堂泉 , 杨竞波 , 周雨宇 , 何玉荣

IPC: H04L43/0823 , H04L43/0876 , H04L43/50

Abstract: 本发明是一种基于FPGA的关于IEEE1149.10标准的高带宽测试数据的CRC校验方法，包括：三个存储模块，存储模块一和存储模块二用于交替接收待校验数据，在接收的同时进行CRC校验，校验正确则写入存储模块三，否则发送校验错误信息；CRC校验方式采用连续并行校验的思路，不受数据长短不一的影响。以上存储模块一和存储模块二交替接收数据，极大缓解了IEEE1149.10标准要求的高带宽测试数据传输压力，在第三存储模块中存放校验正确的数据，为后续数据的进一步处理提供了便利。

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