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公开(公告)号：CN119246669A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411361773.2
申请日：2024-09-27
Applicant: 桂林理工大学
IPC: G01N27/90 , G01N27/904
Abstract: 本发明公开了一种用于小尺寸金属检测的电磁层析成像传感装置及方法，所述装置包括依次连接的电磁层析成像传感器、多通道涡流仪器和计算机端；所述电磁层析成像传感器包括多个线圈和多个PCB板；PCB板两端设有多组触点，PCB板一端的多组触点与线圈对应连接，PCB板的另一端的多组触点与多通道涡流仪器的通道连接。本发明能够对小尺寸导电或导磁材料进行准确的位置检测和尺寸区分，为工业生产中对小尺寸目标检测的研究和应用做出贡献。
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