电解电容可靠性的检测方法

    公开(公告)号:CN113358955A

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN202110615240.2

    申请日:2021-06-02

    Abstract: 本发明公开了一种电解电容可靠性的检测方法,步骤1,将待检测电容的检测区域的温度设置为待检测电容对应的上限类别温度;对待检测电容进行通电试验;步骤2,持续预设时间后,判断待检测电容状态。将执行步骤1方案作为第一方案;在所述步骤1中所述检测区域内通入含氯的腐蚀性气体的方案作为第二方案,采用任意顺序执行两种方案持续其对应的预设时间至少一次,再判断待检测电容状态。本发明通过不同实验方案组合可以快速有效筛选电解电容密封不良导致氯离子入侵内部的早期失效不良。提高电解电容重大早期失效质量缺陷的筛选不良检出率,降低产线封存返包及售后投诉故障率。且能有效筛选密封不良现象,能够在短期内进行评估产品可靠性。

    一种应用于拨码开关触点的高加速组合式盐雾试验方法

    公开(公告)号:CN113624672A

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202110936433.8

    申请日:2021-08-16

    Abstract: 一种应用于拨码开关触点的高加速组合式盐雾试验方法,至少包括耐大气腐蚀高加速盐雾试验步骤:将拨码开关试样配置在预设的第一盐雾条件下进行耐大气腐蚀高加速盐雾试验,在预设的第一盐雾条件下,配置盐溶液以周期性雾化控制向拨码开关试样进行喷雾,所述周期性喷雾控制包括先执行第一单位时间的雾化控制,再执行第二单位时间的静置控制,在预设的第一盐雾条件下经过至少4个周期性喷雾控制的拨码开关试验,针脚表面没出现铜绿及生锈情况的为通过试验。本发明模拟最接近产品使用环境状态,可以有效筛选剔除拨码开关镀金层厚度不足及镀层质量缺陷导致器件应用腐蚀失效,可以作为拨码开关开发触点防大气腐蚀评价手段。

    NTC温度传感器检测方法、装置、NTC温度传感器及制造方法

    公开(公告)号:CN114166805A

    公开(公告)日:2022-03-11

    申请号:CN202111296567.4

    申请日:2021-11-03

    Abstract: 本申请是关于一种NTC温度传感器检测方法、装置、NTC温度传感器及制造方法。该方法包括:获取NTC温度传感器的荧光检测图像;荧光检测图像为紫外灯照射下采集到的NTC温度传感器的图像;NTC温度传感器为采用含荧光剂的荧光密封胶进行涂覆密封得到的热敏电阻;基于荧光检测图像提取荧光连通域;计算荧光连通域的荧光连通域数;判断荧光连通域数是否为一,若是,则判定NTC温度传感器的密封层无孔洞;若否,则判定NTC温度传感器的密封层存在孔洞;判断NTC温度传感器是否满足任一个预设缺陷条件,若是,则判定NTC温度传感器的密封性能不合格;若否,则判定NTC温度传感器的密封性能合格。本申请提供的方案,耗费时间短且对设备简单,检测工序更为精简。

    一种发光二极管早期失效的筛选方法

    公开(公告)号:CN110600401A

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201910788468.4

    申请日:2019-08-26

    Abstract: 本发明提供了一种发光二极管早期失效的筛选方法,涉及发光二极管应用技术领域,解决了现有单一试验无法有效筛选出发光二极管不良的技术问题。该方法在抽取样品后进行回流焊实验、波峰焊实验、高温实验、温度冲击实验和高温水煮实验中的至少两项筛选实验,再检测筛选不良品。对样品进行回流焊实验、波峰焊实验、高温实验、温度冲击实验和高温水煮实验中的至少两项筛选实验,与传统的仅进行单一筛选实验的方法相比,通过至少两项筛选实验使发光二极管的早期失效问题明显地暴露出来,以便更有效地筛选出不良品,隐避缺陷也能很好地筛选出,提高发光二极管重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率,提高了电器产品的整体质量和可靠性,降低了售后维修率。

    一种电解电容密封组件及电解电容

    公开(公告)号:CN110233053A

    公开(公告)日:2019-09-13

    申请号:CN201910478417.1

    申请日:2019-06-03

    Abstract: 本发明公开了一种电解电容密封组件及电解电容,其电解电容密封组件包括电木板层、橡胶层和铝壳,所述橡胶层设置在所述电木板层的表面,所述铝壳在层厚度方向上包围所述电木板层和所述橡胶层,所述铝壳包括压紧段,所述压紧段包围所述压紧段,并向内倾斜以至少部分地抵压所述橡胶层。应用本发明的电解电容密封组件,通过铝壳的压紧段向电解电容内部倾斜,挤压橡胶层,形成二次密封性能防护,增加电解电容密封性能的可靠性。同时,该密封结构在电解电容内部气压增大的情况下,能够锁定端子板橡胶层不被挤变形,有效保持端子板橡胶层的稳定性;并且内部气压相对增大的情况下铝壳同步作用力挤压橡胶层,提高电解电容的密封性能。

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