NTC温度传感器检测方法、装置、NTC温度传感器及制造方法

    公开(公告)号:CN114166805A

    公开(公告)日:2022-03-11

    申请号:CN202111296567.4

    申请日:2021-11-03

    Abstract: 本申请是关于一种NTC温度传感器检测方法、装置、NTC温度传感器及制造方法。该方法包括:获取NTC温度传感器的荧光检测图像;荧光检测图像为紫外灯照射下采集到的NTC温度传感器的图像;NTC温度传感器为采用含荧光剂的荧光密封胶进行涂覆密封得到的热敏电阻;基于荧光检测图像提取荧光连通域;计算荧光连通域的荧光连通域数;判断荧光连通域数是否为一,若是,则判定NTC温度传感器的密封层无孔洞;若否,则判定NTC温度传感器的密封层存在孔洞;判断NTC温度传感器是否满足任一个预设缺陷条件,若是,则判定NTC温度传感器的密封性能不合格;若否,则判定NTC温度传感器的密封性能合格。本申请提供的方案,耗费时间短且对设备简单,检测工序更为精简。

    一种发光二极管早期失效的筛选方法

    公开(公告)号:CN110600401A

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201910788468.4

    申请日:2019-08-26

    Abstract: 本发明提供了一种发光二极管早期失效的筛选方法,涉及发光二极管应用技术领域,解决了现有单一试验无法有效筛选出发光二极管不良的技术问题。该方法在抽取样品后进行回流焊实验、波峰焊实验、高温实验、温度冲击实验和高温水煮实验中的至少两项筛选实验,再检测筛选不良品。对样品进行回流焊实验、波峰焊实验、高温实验、温度冲击实验和高温水煮实验中的至少两项筛选实验,与传统的仅进行单一筛选实验的方法相比,通过至少两项筛选实验使发光二极管的早期失效问题明显地暴露出来,以便更有效地筛选出不良品,隐避缺陷也能很好地筛选出,提高发光二极管重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率,提高了电器产品的整体质量和可靠性,降低了售后维修率。

    一种应用于拨码开关触点的高加速组合式盐雾试验方法

    公开(公告)号:CN113624672A

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN202110936433.8

    申请日:2021-08-16

    Abstract: 一种应用于拨码开关触点的高加速组合式盐雾试验方法,至少包括耐大气腐蚀高加速盐雾试验步骤:将拨码开关试样配置在预设的第一盐雾条件下进行耐大气腐蚀高加速盐雾试验,在预设的第一盐雾条件下,配置盐溶液以周期性雾化控制向拨码开关试样进行喷雾,所述周期性喷雾控制包括先执行第一单位时间的雾化控制,再执行第二单位时间的静置控制,在预设的第一盐雾条件下经过至少4个周期性喷雾控制的拨码开关试验,针脚表面没出现铜绿及生锈情况的为通过试验。本发明模拟最接近产品使用环境状态,可以有效筛选剔除拨码开关镀金层厚度不足及镀层质量缺陷导致器件应用腐蚀失效,可以作为拨码开关开发触点防大气腐蚀评价手段。

    一种液晶显示麻点失效的检测方法

    公开(公告)号:CN111650766B

    公开(公告)日:2022-06-17

    申请号:CN202010601510.X

    申请日:2020-06-28

    Abstract: 本发明提供一种液晶显示麻点失效的检测方法,其包括以下步骤:步骤一:将外观检验合格的样品进行酸性盐雾试验;步骤二:将经过酸性盐雾试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境试验;步骤三:将经过高温高湿环境试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境及密闭的加压环境组合试验。本发明提供本发明能够快速筛选剔除早期失效品(制造缺陷),提高液晶重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率,降低产线封存返包及售后故障率。

    双极型三极管焊接质量的检测方法

    公开(公告)号:CN114624559A

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202210194972.3

    申请日:2022-03-01

    Abstract: 本申请涉及一种双极型三极管焊接质量的检测方法,属于三极管检测技术领域,包括:确定所述三极管所应用场景中对应的回流焊焊接峰值温度T,将测试温度定为T+ΔT,其中,‑10℃≤ΔT≤10℃;将所述三极管所处环境温度升温至所述测试温度之后逐渐降温至检测温度;获取所述三极管的电气性能参数,在所测电气性能参数均符合规格要求时判定所述三极管为良品。根据本发明的双极型三极管焊接质量的检测方法,将不良品在厂家生产环境和来料检验环节通过实验方案快速筛选剔除早期失效品(制造缺陷),避免流出到后道工序。

    NTC温度传感器检测方法、装置、NTC温度传感器及制造方法

    公开(公告)号:CN114166805B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202111296567.4

    申请日:2021-11-03

    Abstract: 本申请是关于一种NTC温度传感器检测方法、装置、NTC温度传感器及制造方法。该方法包括:获取NTC温度传感器的荧光检测图像;荧光检测图像为紫外灯照射下采集到的NTC温度传感器的图像;NTC温度传感器为采用含荧光剂的荧光密封胶进行涂覆密封得到的热敏电阻;基于荧光检测图像提取荧光连通域;计算荧光连通域的荧光连通域数;判断荧光连通域数是否为一,若是,则判定NTC温度传感器的密封层无孔洞;若否,则判定NTC温度传感器的密封层存在孔洞;判断NTC温度传感器是否满足任一个预设缺陷条件,若是,则判定NTC温度传感器的密封性能不合格;若否,则判定NTC温度传感器的密封性能合格。本申请提供的方案,耗费时间短且对设备简单,检测(56)对比文件谢季峰.机器视觉在光纤缺陷检测中的应用.电脑编程技巧与维护.2012,(16),112-114.刘碧俊.“基于轮廓矩的热敏电阻封装质量检测研究”《.测控技术》.2017,第36卷(第11期),45-49.李亚.自动磁粉探伤系统中的图像处理与识别技术.湖南工程学院学报(自然科学版).2010,20(04),11-13.

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