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公开(公告)号：CN115930039B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202211500326.1
申请日：2022-11-28
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本发明公开了一种托卡马克装置内光电探测器阵列诊断系统的支撑结构，包括：探测器固定机构，具有一固定端；过渡支撑，包括第一支撑件和第二支撑件，第一支撑件与第二支撑件相连接，探测器固定机构通过其固定端与第一支撑件固定连接；第一支撑件与第二支撑件之间具有夹角，夹角可调节；基座，基座上开设有多个基座螺纹孔，多个第二支撑件与基座通过基座螺纹孔固定连接。本发明能够通过灵活调节两个过渡支撑板间的夹角大小以及位置，来调整探测器的观察方向；能够灵活地对探测器固定机构或过渡支撑进行单独维护，真空室内占用空间大大减小。
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公开(公告)号：CN116642595A
公开(公告)日：2023-08-25
申请号：CN202211602141.1
申请日：2022-12-13
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本申请属于核聚变等离子体测量技术领域，具体涉及一种金属电阻探测器的实时在线标定装置及方法；该装置，包括：电源、第一电阻、第二电阻、可变电阻和放大器；电源的输出端和输入端分别连接至第一支路和第二支路的两端；第一支路和第二支路并联；第一支路，包括串联的第一电阻和用于接入金属电阻探测器引脚的两个接入点；第二支路，包括串联的第二电阻和可变电阻；放大器的两个输入端分别连接至第一电阻和金属电阻探测器之间，以及，第二电阻和可变电阻之间；放大器的输出端用于实现对金属电阻探测器的标定。该装置无需拆除金属电阻探测器，只需要将金属电阻探测器的引线接入标定系统中，便可进行当地标定。
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公开(公告)号：CN112345109A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN202011288204.1
申请日：2020-11-17
Applicant: 核工业西南物理研究院
Inventor： 高金明
IPC: G01K7/14
Abstract: 本发明公开了一种耐高温抗电磁干扰的测温设备，本发明的测温设备包括第一测温金属丝、第二测温金属丝、无缝金属管和补偿导线；所述第一测温金属丝和第二测温金属丝采用的材料不相同；所述第一测温金属丝和第二测温金属丝的一端相连，且所述第一测温金属丝和第二测温金属丝相互绞和；相互绞和的所述第一测温金属丝和第二测温金属丝由所述陶瓷粉末进行绝缘处理，并通过所述无缝金属管对其进行封装；所述无缝金属管的开口端由高温密封胶密封，在所述无缝金属管的开口端通过所述补偿导线将所述第一测温金属丝和第二测温金属丝引出。本发明通过减小热电偶测温元件所组成的回路面积，从而减小测温元件回路内的感应电动势，提高系统的测量精度。
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公开(公告)号：CN111948700A
公开(公告)日：2020-11-17
申请号：CN202010979917.6
申请日：2020-09-17
Applicant: 核工业西南物理研究院
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明公开了一种夹层式离子束能谱分析器，包括若干个绝缘体和金属膜片，所述绝缘体与金属膜片的形状与大小相同且平行设置，所述绝缘体与金属膜片交替紧邻排布形成夹层式结构，且夹层式结构最外两侧为绝缘体膜片；所述夹层式结构的绝缘体膜片侧设有入射端；每个金属膜片均连接有电流探测器；所述夹层式离子束能谱分析器的入射端射入从等离子体损失的各能量段带电粒子，该粒子经过某个金属膜片时，能量小于阈值的粒子将滞留在金属膜片中，通过金属膜片与地之间组成的电路输出电流，并输入其对应的电流探测器，各个电流探测器测量其对应的电流值。本发明结构简单，绝缘体和金属膜片易于制备，更换方便，与现有技术的电磁及光谱测量相比成本较低。
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公开(公告)号：CN104707770B
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201310687990.6
申请日：2013-12-16
Applicant: 核工业西南物理研究院
IPC: B05D7/14
Abstract: 本发明属于一种喷碳涂层方法，具体涉及一种聚变研究装置上远红外热辐射成像系统中金属薄膜探测器表面的喷碳涂层方法。包括如下步骤，将微米量级的金属薄膜探测器安装在夹具上；喷涂前，将安装有金属薄膜探测器的夹具置于基座之上；将电解石墨和纯净水配置成电解石墨溶液；使用超声波雾化器对电解石墨溶液进行雾化；根据需要控制喷涂时间，然后经过自然烘干等过程就会在金属薄膜探测器表面形成均匀致密的石墨涂层。本发明的优点是，使用超声波雾化器将电解石墨溶液进行雾化，与常规的高压喷涂方法相比，其雾化颗粒更小并且雾化区内的雾化颗粒也更均匀，使得金属薄膜探测器表面的石墨涂层厚度更易于控制，并且涂层也更均匀。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104707770A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310687990.6
申请日：2013-12-16
Applicant: 核工业西南物理研究院
IPC: B05D7/14
Abstract: 本发明属于一种喷碳涂层方法，具体涉及一种聚变研究装置上远红外热辐射成像系统中金属薄膜探测器表面的喷碳涂层方法。包括如下步骤，将微米量级的金属薄膜探测器安装在夹具上；喷涂前，将安装有金属薄膜探测器的夹具置于基座之上；将电解石墨和纯净水配置成电解石墨溶液；使用超声波雾化器对电解石墨溶液进行雾化；根据需要控制喷涂时间，然后经过自然烘干等过程就会在金属薄膜探测器表面形成均匀致密的石墨涂层。本发明的优点是，使用超声波雾化器将电解石墨溶液进行雾化，与常规的高压喷涂方法相比，其雾化颗粒更小并且雾化区内的雾化颗粒也更均匀，使得金属薄膜探测器表面的石墨涂层厚度更易于控制，并且涂层也更均匀。
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公开(公告)号：CN119495449A
公开(公告)日：2025-02-21
申请号：CN202410292207.4
申请日：2024-03-14
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本发明公开了一种聚变装置等离子体辐射的调节系统及方法，涉及受控核聚变装置热负荷保护和辐射控制技术领域，通过对等离子体辐射分布信号进行测量，根据不同的控制需求，利用超声分子束系统对粒子进行流量和分布的控制，从而控制等离子体辐射，实现不同范围和程度的辐射控制。
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公开(公告)号：CN111948700B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202010979917.6
申请日：2020-09-17
Applicant: 核工业西南物理研究院
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明公开了一种夹层式离子束能谱分析器，包括若干个绝缘体和金属膜片，所述绝缘体与金属膜片的形状与大小相同且平行设置，所述绝缘体与金属膜片交替紧邻排布形成夹层式结构，且夹层式结构最外两侧为绝缘体膜片；所述夹层式结构的绝缘体膜片侧设有入射端；每个金属膜片均连接有电流探测器；所述夹层式离子束能谱分析器的入射端射入从等离子体损失的各能量段带电粒子，该粒子经过某个金属膜片时，能量小于阈值的粒子将滞留在金属膜片中，通过金属膜片与地之间组成的电路输出电流，并输入其对应的电流探测器，各个电流探测器测量其对应的电流值。本发明结构简单，绝缘体和金属膜片易于制备，更换方便，与现有技术的电磁及光谱测量相比成本较低。
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公开(公告)号：CN116027378A
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202310012288.3
申请日：2023-01-05
Applicant: 核工业西南物理研究院
IPC: G01T1/26
Abstract: 本发明涉及核聚变等离子体测量技术领域，公开了一种金属电阻探测器及其加工方法。其中，金属电阻探测器硅片；在硅片的垂直于厚度方向的一面上通过等离子体增强化学的气相沉积法蒸镀有一层氮化硅薄膜；在硅片上通过聚焦离子束技术蚀刻有多个沿厚度方向贯穿所述硅片的通孔，通孔的一端与所述氮化硅薄膜连接；在每一个通孔区域内的靠近硅片一侧的氮化硅薄膜上通过磁控溅射技术蒸镀有一层金属薄膜；在每一个通孔区域内的远离硅片一侧的氮化硅薄膜上通过光刻技术蚀刻有多条金属电阻丝。本发明可解决由现有技术加工得到的金属电阻器存在基板与金属薄膜之间易脱落且容易引入测量误差的问题。
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公开(公告)号：CN119147484A
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202411300391.9
申请日：2024-09-18
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本申请公开了一种高温等离子体中杂质输运系数测量方法和系统，涉及核聚变等离子体物理分析技术领域，该方法包括：利用光谱探测器测量杂质注入到等离子体中引起的光谱辐射演化，通过反演给出电磁波辐射的空间演化，光谱辐射强度正比于杂质离子密度；通过空间傅里叶变换给出扰动幅度和扰动相位的空间分布；通过数值求解杂质输运方程，并逐步逼近扰动幅度和相位的实验数据，从而快速、有效地给出杂质的扩散系数和杂质对流速度系数。本申请降低了研制成本，提高了杂质输运研究的灵活性，并拓展了杂质输运研究的范围。
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