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公开(公告)号：CN119960132A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510155005.X
申请日：2025-02-12
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本发明涉及磁约束核聚变实验装置中进行高精度光学测量领域，具体涉及一种氘氚聚变实验中的双层密封透镜组，包括：玻璃密封法兰、密封外壳、成像透镜组、真空组件和玻璃观察窗，所述玻璃密封法兰和所述玻璃观察窗与所述密封外壳的两端密封连接，所述成像透镜组设置在所述密封外壳内，所述成像透镜组与所述密封外壳的内侧面之间设置有间隙，所述真空组件与所述密封外壳固定连接，且与所述密封外壳的内部连通，所述成像透镜组的内部与所述间隙连通，且所述玻璃密封法兰与真空装置内连接；本发明的双层密封透镜组通过巧妙的结构布局保障了密封性能，同时合理利用了密封腔体内的空间，保持光学测量系统的原有视场范围，并充分利用装置周围有限的空间资源。
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公开(公告)号：CN119828318A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202510034282.5
申请日：2025-01-09
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本发明公开了一种能量耦合角度下的成像光路结构，包括沿光轴方向依次设置的前端成像物镜、双远心中继光学、尾端物镜和相机；所述前端成像物镜与所述双远心中继光学的首组物镜连接，且前者的像面与后者的物面重合；所述双远心中继光学的末组物镜与所述尾端物镜连接，且前者的像面与后者的物面重合；所述尾端物镜与所述相机连接。本发明从能量耦合的角度实现了前端成像物镜与双远心中继物镜之间传像特征的突破，即前端成像物镜没有像方远心的特殊要求，仅使用一颗普通成像镜头即可实现高分辨率的成像，降低了光路搭建的成本，无需再从整体上设计光路；本发明实现了模块化设计，较容易装调，具有成像分辨率高、光通量大及成本低的优势。
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公开(公告)号：CN119123060A
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202411300376.4
申请日：2024-09-18
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本发明属于密封结构技术领域，具体公开了一种双层动密封转轴结构，包括第一动密封转轴，第一动密封转轴的一端与真空室内的部件连接；第二动密封转轴，第二动密封转轴的一端与第一动密封转轴的另一端连接，第二动密封转轴的另一端与外部动力部件连接；密封单元，密封单元内部为密封的腔室，第一动密封转轴位于腔室内，第二动密封转轴位于腔室外侧，且第一动密封转轴和所述第二动密封转轴分别与腔室的两侧密封转动连接，腔室的一侧连通有连接管，连接管上安装有检测密封罩内部压力变化的检测单元。本发明在单一密封结构失效的情况下，系统的真空密封性还能继续维持，为停机进行部件更换提供条件。
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公开(公告)号：CN118332887A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410468482.7
申请日：2024-04-18
Applicant: 核工业西南物理研究院
IPC: G06F30/25 , G06F30/28 , G06F111/10 , G06F113/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明涉及磁约束聚变领域中的杂质输运的数值模拟技术，公开了一种基于粒子模型和计算显卡技术模拟杂质输运的方法，包括如下步骤：S1、在主机端初始化需要进行模拟杂质输运实验的所有杂质粒子的粒子参数以及环境参数；S2、将初始化后的所述粒子参数和环境参数传输至计算显卡的内存中；S3、在所述计算显卡中生成若干个线程，每个所述杂质粒子对应在一个线程上进行基于粒子模拟算法进行粒子运动的计算，并行计算所有所述杂质粒子的运动状态以模拟杂质输运过程，并得到对应的模拟数据结果；S4、将所述模拟结果传输到所述主机端上进行统计、保存和输出。本发明可以实现耗时不依赖等离子体位形，不因偏滤器位形下等离子体边界参数低导致耗时增加的目的。
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公开(公告)号：CN117906760A
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202410079637.8
申请日：2024-01-19
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本发明涉及核聚变技术领域，具体涉及一种测量离子温度和旋转速度的高分辨测量装置，包括：入射光纤束安装在可调节狭缝的前端，准直透镜组的入射端安装在可调节狭缝的后端，高刻痕数光栅和三棱镜安装在机械固定结构内部，高刻痕数光栅位于准直透镜组的光轴上，三棱镜位于高刻痕光栅和长焦距会聚透镜组之间，光电转换器件连接在长焦距会聚透镜组的另一端，光电转换器件的数据输出端与数据采集分析系统电连接；本发明通过设置可调节狭缝限制系统的仪器展宽，同时利用高刻痕数光栅、三棱镜以及长焦距会聚透镜组提高系统的倒线色散率，使系统获得高的谱分辨能力，从而得到更准确的光强、波长位置和谱线展宽，减小数据分析的误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115508857A
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202211053822.7
申请日：2022-08-31
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本申请属于磁约束聚变等离子体技术领域，具体涉及一种应用于聚变等离子体的成像设备。该设备，包括：前端物镜、传像光纤束、中继物镜和相机；前端物镜与传像光纤束的前端面连接，传像光纤束的尾端面与中继物镜连接，中继物镜与相机连接；前端物镜，用于对聚变等离子体进行聚焦成像，所成之像在传像光纤束的前端面进入，并传输至传像光纤束的尾端面；传像光纤束尾端面的像由中继物镜成像至相机靶面，最终由相机拍摄成像。其传像光纤束可以在柔软弯曲状态下传像，该套设备尤其适用于空间有限且远距离图像传输的安装环境。
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公开(公告)号：CN114415356A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111566244.2
申请日：2021-12-20
Applicant: 核工业西南物理研究院
IPC: G02B13/22
Abstract: 本发明属于磁约束聚变等离子体领域技术领域，具体公开一种基于双远心中继光学的大视场长光路成像系统，该系统包括前端成像物镜，首组物镜与所述的前端成像物镜连接的双远心中继物镜组，与双远心中继物镜组的末组物镜连接的尾端物镜，与尾端物镜连接的相机。本发明的系统的光路简单且容易装调，并实现了模块化设计，通过更换前端的定焦物镜变换视场，或者直接安装一个变焦镜头实现视场的变化，无需再从整体上设计光路，能够实现高分辨率、高光通量且低成本的大视场成像。
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公开(公告)号：CN111948700A
公开(公告)日：2020-11-17
申请号：CN202010979917.6
申请日：2020-09-17
Applicant: 核工业西南物理研究院
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明公开了一种夹层式离子束能谱分析器，包括若干个绝缘体和金属膜片，所述绝缘体与金属膜片的形状与大小相同且平行设置，所述绝缘体与金属膜片交替紧邻排布形成夹层式结构，且夹层式结构最外两侧为绝缘体膜片；所述夹层式结构的绝缘体膜片侧设有入射端；每个金属膜片均连接有电流探测器；所述夹层式离子束能谱分析器的入射端射入从等离子体损失的各能量段带电粒子，该粒子经过某个金属膜片时，能量小于阈值的粒子将滞留在金属膜片中，通过金属膜片与地之间组成的电路输出电流，并输入其对应的电流探测器，各个电流探测器测量其对应的电流值。本发明结构简单，绝缘体和金属膜片易于制备，更换方便，与现有技术的电磁及光谱测量相比成本较低。
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公开(公告)号：CN104678330A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201310611508.0
申请日：2013-11-26
Applicant: 核工业西南物理研究院
IPC: G01R33/032
Abstract: 本发明属于磁约束等离子体诊断领域，具体涉及一种基于偏振片和光谱仪的磁场倾斜角的测量系统。它包括4个光学准直透镜、4个偏振片、光纤、光谱仪、CCD相机和数据采集控制系统，4个光学准直透镜通过光纤连接光谱仪，光谱仪与CCD相机连接，CCD相机与数据采集控制系统连接，每个光学准直透镜前设置有一个偏振片。本发明的优点是，系统的可靠性好，测量精度也非常高，既适用于等离子体磁场偏转角的测量，也适用于其他线偏振光偏振方向的高精度测量。
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公开(公告)号：CN119935909A
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202510034285.9
申请日：2025-01-09
Applicant: 核工业西南物理研究院
Abstract: 本发明公开了一种利用主动光谱测量杂质裸核浓度剖面的方法，包括：步骤一、获取中性束在行进过程中的束密度；步骤二、获取中性束原子中激发态与基态的粒子数密度比值；步骤三、根据获取的中性束原子中激发态与基态的粒子数密度比值，计算中性束原子与杂质离子的电荷交换复合辐射速率系数；步骤四、测量杂质离子主动光谱强度，并结合获取的束密度、电荷交换复合辐射速率系数计算杂质离子浓度剖面分布。该方法通过绝对标定的杂质离子主动光谱强度、中性束密度和电荷交换复合辐射速率系数计算杂质裸核浓度的剖面分布，完善了对杂质浓度的测量，将为进一步研究等离子体的控制、输运和内部的物理机制等提供必要的物理参数和实验数据支撑。
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